【技术实现步骤摘要】
近场幅相数据提取电路及近场幅相数据提取方法
[0001]本专利技术涉及天线检测
，具体而言，本专利技术涉及一种近场幅相数据提取电路及近场幅相数据提取方法。
技术介绍
[0002]电磁场的近场离散扫描数据可以无失真地重构电磁场，从而能够应用在以下场景：1）相控阵天线的口面诊断以及异常单元的检出；2）分析高速集成电路的辐射场，从而检出局部的异常辐射（异常辐射意味着阻抗不匹配），从而为电路高速性能的改进提供佐证数据；3）定位电路或系统的电磁干扰源，为EMC整改提供参考信息；4）实现人体组织对电磁波吸收率的评定，即SAR测试。
[0003]近场电场采样是测量手机等电子设备电磁辐射（SAR）的主要方法，该测量方法通过电场探头天线逐点测量电子设备的辐射电场强度，再进一步地计算人体组织对电磁波能量的吸收，从而获得人体组织对电磁场能量的吸收。电磁场的近场测试采用辐射特性已知的探头天线对待测电磁场进行扫描（主动扫描或被动的阵列接收），采样得到辐射场的幅相响应，再通过近远场变化算法得到口径场合特别吸收率的计算结果。
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【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种近场幅相数据提取电路，用于提取含多列天线单元的天线阵列的幅相数据，其特征在于，包括均具有输入端和输出端的列内比较电路和列间比较电路；所述列内比较电路包括多个组内检测单元和组间比较单元，所述组间比较单元与所述多个组内检测单元均连接；所述组内检测单元用于可切换地将同组的多个天线单元与组内的参考天线单元连接，以用于获取各天线单元与参考天线单元之间的相对相位，其中，所述组内的参考天线单元为在组内提供参考信号的天线单元，所述相对相位为各天线单元与参考天线单元之间的相位差；所述组间比较单元用于连接于各组的参考天线单元，以用于获得列内各组的相位修正向量，所述相位修正向量为列内各组参考天线单元与对应列最后一组的参考天线单元之间的相位差；所述列间比较电路用于连接于各列的列参考天线单元，用于获得列间相位检测向量及列间相位修正向量，所述列间相位检测向量为各列的列参考天线单元与阵列参考天线单元之间的相位差，所述列间相位修正向量为各参考列的列参考天线单元与阵列参考天线单元的相位差，所述列参考天线单元为一列天线单元中最后一个天线单元，所述阵列参考天线单元为整个阵列最后一个天线单元。2.根据权利要求1所述的近场幅相数据提取电路，其特征在于，所述组内检测单元包括第一射频开关、第二射频开关和具有幅相检测及对比功能的第一幅相检测器；所述第一射频开关具有多个输入端和一个输出端，第一射频开关的多个输入端用于与组内非提供参考信号的天线单元一一对应连接，第一射频开关的所述输出端连接于第一幅相检测器的输入端；所述第二射频开关具有一个输入端和两个输出端，第二射频开关的输入端用于连接组内参考天线单元，第二射频开关其中一个输出端连接于第一幅相检测器，另一个输出端连接于组间比较单元；所述第一幅相检测器用于输出组内各天线单元的相对相位。3.根据权利要求2所述的近场幅相数据提取电路，其特征在于，所述组间比较单元包括第三射频开关和具有幅相检测及对比功能的第二幅相检测器；所述第三射频开关具有多个输入端和一个输出端，第三射频开关的输入端与各组的第二射频开关的另一个输出...
【专利技术属性】
技术研发人员：卜景鹏，东君伟，黄辉雄，乔梁，苏栋才，吕小林，
申请(专利权)人：中山香山微波科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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