本发明专利技术公开了一种配置寄存器的校验装置、校验系统和芯片设备，校验装置包括：CRC校验模块，用以分别连接中央处理器CPU和配置寄存器，用于在接收到CPU发送的使能信号时，对配置寄存器的数据进行计算，得到CRC理论校验值，并在检测到触发事件时，对配置寄存器的数据进行计算，得到CRC实际校验值；CRC比较模块，与CRC校验模块连接，并用以连接CPU，CRC比较模块包括第一存储单元，CRC比较模块用于将CRC理论校验值存入第一存储单元，并将CRC实际校验值与CRC理论校验值进行比较，以及在CRC实际校验值与CRC理论校验值不相等时，向CPU发送错误中断信号。本发明专利技术实施例的配置寄存器的校验装置，通过自动计算CRC值，减少软件和芯片的资源开销。减少软件和芯片的资源开销。减少软件和芯片的资源开销。
【技术实现步骤摘要】
配置寄存器的校验装置、校验系统和芯片设备
[0001]本专利技术涉及数据处理
，特别涉及一种配置寄存器的校验装置、一种芯片设备和一种配置寄存器的校验系统。
技术介绍
[0002]CRC(Cyclic Redundancy Check，循环冗余校核)，是一种根据网络数据包或文件等数据产生简短固定位数校核码的快速算法，主要用来检测或校核数据传输或者保存后可能出现的错误。
[0003]随着汽车相关技术的快速发展，汽车越来越向着智能化、自动化发展。越来越多的MCU(Microcontroller Unit，微控制单元)被应用于汽车上，为满足汽车功能安全的设计，MCU要达到不同的安全等级要求。对于MCU来说，能够实现复杂的功能，是通过设置其诸多寄存器来实现的，在汽车工作时，复杂的电磁环境可能会意外的改变寄存器的值，因此会带来的单点故障、潜伏故障等违反功能安全的问题。
[0004]目前，配置寄存器的检测方案一般包括以下两种：1、软件周期读取比较的方法。配置外设寄存器时将其配置参数备份到非易失性存储器中，然后软件实现一个线程，周期性获取外设配置寄存器的值，并和备份值进行逐一对比，当对比结果出现差异时，触发安全保护单元，进行必要的通知和操作。2、软件周期读取及硬件CRC校验结合的方法。将配置外设寄存器的值读取出来使用芯片内置硬件CRC校验模块进行计算，并将计算的值存储到非易失性存储器中，然后软件实现一个线程，周期性获取外设配置寄存器的值，通过硬件CRC计算后和备份值进行比较，当对比结果出现差异时，触发安全保护单元，进行必要的通知和操作。以上两种方法都可以实现配置寄存器的检测，但也存在一些局限性：通过软件线程周期性读取比较的方法，会增加CPU(Central Processing Unit，中央处理器)的负担，浪费和占用校验系统的有限资源，同时，考虑到芯片内部外设配置寄存器较多的情况下，其内部运算也需要较多时间，软件算法时间复杂性增加，会对其他功能的运行造成一定影响。
技术实现思路
[0005]本专利技术旨在至少在一定程度上解决相关技术中的技术问题之一。为此，本专利技术的目的在于提出一种配置寄存器的校验装置、校验系统和芯片设备，以实现在线实时校验配置寄存器。
[0006]为达到上述目的，本专利技术第一方面实施例提出了一种配置寄存器的校验装置，所述校验装置包括：CRC校验模块和CRC比较模块。所述CRC校验模块，用以分别连接中央处理器CPU和所述配置寄存器，用于在接收到所述CPU发送的使能信号时，对所述配置寄存器的数据进行计算，得到CRC理论校验值，并在检测到触发事件时，对所述配置寄存器的数据进行计算，得到CRC实际校验值；所述CRC比较模块，与所述CRC校验模块连接，并用以连接所述CPU，所述CRC比较模块包括第一存储单元，所述CRC比较模块用于将所述CRC理论校验值存入所述第一存储单元，并将所述CRC实际校验值与所述CRC理论校验值进行比较，以及在所
述CRC实际校验值与所述CRC理论校验值不相等时，向所述CPU发送错误中断信号。
[0007]另外，本专利技术实施例的配置寄存器的校验装置还可以具有如下附加技术特征：
[0008]根据本专利技术的一个实施例，所述CRC比较模块还包括第二存储单元，所述CRC比较模块还用于将所述CRC实际校验值存入所述第二存储单元。
[0009]根据本专利技术的一个实施例，所述CRC比较模块还包括：数据选择器和比较器；所述数据选择器，分别与所述CRC校验模块、所述第一存储单元和所述第二存储单元连接，用于选择将所述CRC理论校验值存入所述第一存储单元，并选择将所述CRC实际校验值存储所述第二存储单元；所述比较器，分别与所述第一存储单元和所述第二存储单元连接，并用以连接所述CPU，所述比较器用于将所述CRC实际校验值与所述CRC理论校验值进行比较，并在所述CRC实际校验值与所述CRC理论校验值不相等时，向所述CPU发送错误中断信号。
[0010]根据本专利技术的一个实施例，所述数据选择器还与所述CPU连接，具体用于：在所述CRC校验模块接收到所述使能信号时，同步接收所述CPU发送的第一电平的状态选择信号，并根据所述第一电平的状态选择信号将所述CRC理论校验值更新至所述第一存储单元和所述第二存储单元，以及根据第二电平的状态选择信号将所述CRC实际校验值更新至所述第二存储单元；其中，所述CRC理论校验值更新至所述第一存储单元和所述第二存储单元完成后，所述第一电平的状态选择信号基于硬件机制变为所述第二电平的状态选择信号。
[0011]根据本专利技术的一个实施例，所述比较器还用于：在完成所述CRC实际校验值与所述CRC理论校验值的比较后，向所述CPU发送完成中断信号。
[0012]根据本专利技术的一个实施例，所述触发事件包括：定时器周期触发事件和/或软触发事件。
[0013]根据本专利技术的一个实施例，所述CRC校验模块还用于在所述校验装置处于自检模式时，对所述配置寄存器注入的故障数据进行计算，得到CRC自检校验值；所述CRC比较模块还用于根据所述CRC自检校验值和所述CRC理论校验值对所述校验装置进行自检。
[0014]根据本专利技术的一个实施例，所述CRC校验模块还用于在接收到所述CPU发送的停止信号时，停止校验工作。
[0015]为达到上述目的，本专利技术第二方面实施例提出了一种芯片设备，包括上述的配置寄存器的校验装置。
[0016]为达到上述目的，本专利技术第三方面实施例提出了一种配置寄存器的校验系统，包括：配置寄存器、中央处理器CPU和上述的芯片设备。
[0017]本专利技术实施例的配置寄存器的校验装置、校验系统和芯片设备，通过自动计算CRC值，减少软件和芯片的资源开销；同时，通过在校验装置中自动备份CRC实际校验值和CRC理论校验值，减少了校验系统的故障反应时间。
附图说明
[0018]图1是本专利技术实施例的配置寄存器的校验装置的结构示意图；
[0019]图2是本专利技术另一实施例的配置寄存器的校验装置的结构示意图；
[0020]图3是本专利技术实施例的芯片设备的结构示意图；
[0021]图4是本专利技术实施例的配置寄存器的校验系统的结构示意图。
具体实施方式
[0022]下面详细描述本专利技术的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，旨在用于解释本专利技术，而不能理解为对本专利技术的限制。
[0023]下面参考附图1
‑
附图4描述本专利技术实施例的配置寄存器的校验装置、校验系统和芯片设备。
[0024]图1是本专利技术实施例的配置寄存器的校验装置的结构示意图。
[0025]如图1所示，配置寄存器的校验装置10包括：CRC校验模块101和CRC比较模块102；CRC校验模块101，用以分别连接中央处理器CPU11和配置寄存器12，用于在接收到CPU11发送的使能信号时，对配置寄存器本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种配置寄存器的校验装置，其特征在于，所述校验装置包括：CRC校验模块，用以分别连接中央处理器CPU和所述配置寄存器，用于在接收到所述CPU发送的使能信号时，对所述配置寄存器的数据进行计算，得到CRC理论校验值，并在检测到触发事件时，对所述配置寄存器的数据进行计算，得到CRC实际校验值；CRC比较模块，与所述CRC校验模块连接，并用以连接所述CPU，所述CRC比较模块包括第一存储单元，所述CRC比较模块用于将所述CRC理论校验值存入所述第一存储单元，并将所述CRC实际校验值与所述CRC理论校验值进行比较，以及在所述CRC实际校验值与所述CRC理论校验值不相等时，向所述CPU发送错误中断信号。2.根据权利要求1所述的校验装置，其特征在于，所述CRC比较模块还包括第二存储单元，所述CRC比较模块还用于将所述CRC实际校验值存入所述第二存储单元。3.根据权利要求2所述的校验装置，其特征在于，所述CRC比较模块还包括：数据选择器，分别与所述CRC校验模块、所述第一存储单元和所述第二存储单元连接，用于选择将所述CRC理论校验值存入所述第一存储单元，并选择将所述CRC实际校验值存储所述第二存储单元；比较器，分别与所述第一存储单元和所述第二存储单元连接，并用以连接所述CPU，所述比较器用于将所述CRC实际校验值与所述CRC理论校验值进行比较，并在所述CRC实际校验值与所述CRC理论校验值不相等时，向所述CPU发送错误中断信号。4.根据权利要求3所述的校验装置，其特征在于，所述数据选择器还与所述CPU连接...
【专利技术属性】
技术研发人员：苗建坤，焦亚伟，孙维国，田云锋，
申请(专利权)人：上海萨沙迈半导体有限公司，
类型：发明
国别省市：
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