一种用于校核误差影响的装置制造方法及图纸

一种用于校核误差影响的装置包括基部；多个支撑件，这些支撑件固定地联接于基部；平台板，该平台板由支撑件支撑，并包括平坦部分和边缘，平坦部分包括试验区域；以及模拟组件，这些模拟组件可拆卸地安装在平台板的试验区域中，其中，平台板的边缘设计成翼型边缘。平台板的边缘设计成翼型边缘。平台板的边缘设计成翼型边缘。

【技术实现步骤摘要】
一种用于校核误差影响的装置


[0001]本专利技术属于飞机大气数据系统
,并且具体地涉及一种用于校核飞机表面关键测压区域制造误差影响的试验装置。

技术介绍

[0002]飞机表面关键测压区域通常包括了全静压探头、静压孔等部分，通过对其获取的相应数据进行换算可以得到飞机飞行的马赫数、总压、静压等关键飞行参数，其测量的准确性直接影响到飞机飞行高度数据的准确性。在实际飞机生产过程中，飞机表面关键测压区域会存在波纹度、台阶和探头安装角等制造偏差，从而对高度测量带来影响。
[0003]全静压探头和静压孔作为飞机大气数据系统重要的传感器，装机后需对其制造误差开展分析与评估，以用于其在飞机安装位置处存在的位置误差进行补偿和修正。
[0004]目前常用的评估飞机表面关键测压区域制造偏差的方法有试飞验证、仿真分析以及风洞试验等。在上述这些方法中，试飞验证是一种有效评估全静压探头安装误差的方法，但飞行试验成本高，周期长。采用诸如计算流体动力学(CFD)方法进行的仿真分析也是一种评估探头安装偏差的有效且经济的方法。然而，目前在民机适航取证中，审查方要求飞机制造商采用风洞试验对CFD评估方法进行试验验证，以获得更加精确的评估。
[0005]因此，需要设计一种对用于风洞试验的飞机表面关键测压区域的制造偏差进行校核的装置。

技术实现思路

[0006]为了对用于风洞试验的飞机表面关键测压区域的制造偏差进行校核，本专利技术设计了一种用于校核误差影响的装置，该装置可在风洞中模拟飞机表面关键测压区域制造偏差(波纹度、探头阶差、探头迎角等)进而获得制造偏差对静压测量的影响。
[0007]具体地，这种校核误差影响的装置包括：基部；多个支撑件，这些支撑件固定地联接于基部；平台板，该平台板由支撑件支撑并且包括平坦部分和边缘，平坦部分包括试验区域；模拟组件，这些模拟组件可拆卸地安装在平台板的试验区域中，其中，平台板的边缘设计成翼型边缘。平台板的边缘采用了高速翼型头部设计，这使得平台板的上下表面具有良好的气动特性，而平台板的平坦部分使得中央部分处的试验区域的压力分布比较平坦部分，顺流向没有压力梯度，制造误差在这个区域进行研究没有其他干扰因素。
[0008]在本专利技术的实施例中，模拟组件包括波纹板组件和探头组件，波纹板组件构造成模拟波纹度对表面压力分布的影响，探头组件构造成模拟制造偏差对静压测量的影响，其中，波纹板组件和探头组件中的任一个可拆卸地安装在所述平台板的所述试验区域中。
[0009]在本专利技术的实施例中，波纹板组件包括波纹板底座和波纹板部件，波纹板底座可拆卸地安装在平台板的试验区域中，波纹板部件可拆卸地安装在波纹板底座上。
[0010]在本专利技术的实施例中，探头组件包括底座、转盘、波纹板部件和探头，底座可拆卸地安装在平台板上，转盘可旋转地安装在底座上，波纹板部件可拆卸地安装在底座上，并且
探头可拆卸地安装在转盘上。转盘可以旋转以模拟探头的不同迎角。
[0011]优选地，波纹板部件包括多个波纹板，这些波纹板各自具有不同的规格。在试验过程中，可以更换不同规格的波纹板以模拟波纹度对表面压力分布的影响。
[0012]优选地，探头组件还包括多个垫片，这些垫片各自具有不同的规格，其中，在探头安装之前，多个垫片中的一个被选择为装配在转盘上。通过更换转盘上不同规格的垫片可调节全静压探头与平台板的阶差以模拟探头的阶差影响。
[0013]在一种优选的实施例中，试验区域定位在平台板的中央部分处。
[0014]在一种优选的实施例中，试验区域包括台阶部，以支撑模拟组件。
[0015]在本专利技术的实施例中，支撑件包括三对支撑件，其中三对支撑件中的两对支撑件用于支撑平台板，而三对支撑件中的另一对设置在两对支撑件之间，用于测压管路的走线。
[0016]所描述的用于校核误差影响的装置的额外特征和优点将在下文的详细描述中陈述，并且通过下文对于本领域技术人员显然或者从通过实践本文所描述的实施例而被本领域技术人员认识到，这些描述包括下文的详细描述以及附图说明。
附图说明
[0017]参考以上目的，本专利技术的技术特征在下面的权利要求中清楚地描述，并且其优点从以下参照附图的详细描述中显而易见，附图以示例方式示出了本专利技术的优选实施例，而不限制本专利技术构思的范围。
[0018]图1示出了根据本专利技术的一种实施例的用于校核误差影响的装置的立体透视图，该装置安装有波纹板组件；
[0019]图2示出了图1所示的用于校核误差影响的装置的正视剖视图；
[0020]图3示出了图1所示的用于校核误差影响的装置的简化俯视图；
[0021]图4示出了示出了根据本专利技术的一种实施例的用于校核误差影响的装置的平台板的简化俯视图，其中移除了波纹板组件；
[0022]图5示出了根据本专利技术的一种实施例的用于校核误差影响的装置的立体透视图，该装置安装有探头组件；
[0023]图6示出了图1所示的用于校核误差影响的装置的正视剖视图；
[0024]图7示出了图1所示的用于校核误差影响的装置的简化俯视图；
[0025]图8示出了图7所示的用于校核误差影响的装置的探头组件的底座的简化俯视图；
[0026]图9示出了据本专利技术的一种实施例的用于校核误差影响的装置的上表面弦向压力分布；以及
[0027]图10示出了据本专利技术的一种实施例的用于校核误差影响的装置的上表面展向压力分布。
[0028]附图标记
[0029]1基部
[0030]2支撑件
[0031]3平台板
[0032]4波纹板组件
[0033]5探头组件
[0034]31平坦部分
[0035]32边缘
[0036]33试验区域
[0037]34台阶部
[0038]41波纹板底座
[0039]42波纹板部件
[0040]51底座
[0041]52转盘
[0042]53探头
[0043]54垫片
具体实施方式
[0044]下面结合附图和实施例对本专利技术作进一步详细的说明，但并不作为对本专利技术做任何限制的依据。
[0045]在本文中使用的方位术语“前”、“后”等是根据本专利技术的正视图来定义的。具体地，“前”是指在正视图中向左的方向，而“后”是指在正视图中向后的方向。但应当理解的是，下文中的“前”、“后”可以进行互换而不影响对实施例的描述。
[0046]图1示出了示出了根据本专利技术的一种实施例的用于校核误差影响的装置的立体图，并且图2示出了图1所示的用于校核误差影响的装置的正视剖视图，图3示出了图1所示的用于校核误差影响的装置的俯视图。
[0047]如图1
‑
3所示，整个装置由基部1、支撑件2、平台板3和模拟组件组成。在本专利技术的实施例中，基部1是作为是试验风洞固有设施的风洞地板。多个支撑件2固定地联接于基部1。举例而言，支撑件2可根据实际风洞地板结构设本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于校核误差影响的装置，所述用于校核误差影响的装置包括：基部；多个支撑件，所述支撑件固定地联接于所述基部；平台板，所述平台板由所述支撑件支撑，所述平台板包括平坦部分和边缘，所述平坦部分包括试验区域；以及模拟组件，所述模拟组件可拆卸地安装在所述平台板的所述试验区域中，其中，所述平台板的边缘设计成翼型边缘。2.如权利要求1所述的用于校核误差影响的装置，其特征在于所述模拟组件包括波纹板组件和探头组件，所述波纹板组件构造成模拟波纹度对表面压力分布的影响，所述探头组件构造成模拟制造偏差对静压测量的影响，其中，所述波纹板组件和所述探头组件中的任一个可拆卸地安装在所述平台板的所述试验区域中。3.如权利要求2所述的用于校核误差影响的装置，其特征在于所述波纹板组件包括波纹板底座和波纹板部件，所述波纹板底座可拆卸地安装在所述平台板的所述试验区域中，所述波纹板部件可拆卸地安装在所述波纹板底座上。4.如权利要求2所述的用于校核误差影响的装置，其特征在于，所述探头组件包括底座、转盘、波纹板部件和探...

【专利技术属性】
技术研发人员：柴啸，徐辉雯，宋佳琦，周星，钟园，陈学刚，
申请(专利权)人：中国商用飞机有限责任公司上海飞机设计研究院，
类型：发明
国别省市：