导电辊子、图像形成设备及用于导电辊子的检测方法技术

一种导电辊子包括：芯部构件，芯部构件包括外表面，外表面沿着并围绕芯部构件的轴线；以及表面层，表面层沿着芯部构件的外表面布置。表面层包括导电部分，以及表面粗糙度赋予材料，表面粗糙度赋予材料呈分散在导电部分中的颗粒的形式。表面粗糙度赋予材料的平均颗粒尺寸在大于或等于6微米并且小于10微米的范围内。表面层的每单位面积上的表面粗糙度赋予材料的颗粒的数量在大于或等于3.5

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】导电辊子、图像形成设备及用于导电辊子的检测方法


[0001]本专利技术涉及导电辊子、图像形成设备以及用于导电辊子的检测方法。

技术介绍

[0002]导电辊子(例如充电辊子)通常被用于图像形成设备(例如打印机或复印机)，图像形成设备被构造成通过电子照相方法使用墨粉在记录介质(例如纸张)上形成图像。
[0003]例如，在专利文献1中描述的充电辊子包括芯部杆以及形成在芯部杆上的导电橡胶层。
[0004]为了减少充电不均匀，专利文献1限定了充电辊子的表面的微观不平度十点高度Rz的范围、以及充电辊子的表面的峰之间的平均间距Sm的范围。
[0005]相关的现有技术文献
[0006]专利文献
[0007]专利文献1：公开号为2012
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14141的日本专利申请

技术实现思路

[0008]专利技术要解决的问题
[0009]为了使导电辊子的表面粗糙化，例如使用了如下的方法：将呈颗粒形式的表面粗糙度赋予材料分散在导电辊子的表面上。当该方法被应用于充电辊子时，在感光体的表面与充电辊子的本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种导电辊子，所述导电辊子包括：芯部构件，所述芯部构件包括外表面，所述外表面沿着并围绕所述芯部构件的轴线；以及表面层，所述表面层沿着所述芯部构件的外表面布置，其中：所述表面层包括导电部分，以及表面粗糙度赋予材料，所述表面粗糙度赋予材料呈分散在所述导电部分中的颗粒的形式，所述表面粗糙度赋予材料的平均颗粒尺寸在大于或等于6微米并且小于10微米的范围内，所述表面层的每单位面积上的所述表面粗糙度赋予材料的颗粒的数量在大于或等于3.5
×
105个颗粒/mm2并且小于或等于7.5
×
105个颗粒/mm2的范围内，并且所述表面层的平均厚度在大于或等于0.2微米并且小于或等于5.5微米的范围内。2.一种导电辊子，所述导电辊子包括：芯部构件，所述芯部构件包括外表面，所述外表面沿着并围绕所述芯部构件的轴线；以及表面层，所述表面层沿着所述芯部构件的外表面布置，其中：所述表面层包括导电部分，以及表面粗糙度赋予材料，所述表面粗糙度赋予材料呈分散在所述导电部分中的颗粒的形式，所述表面粗糙度赋予材料的平均颗粒尺寸在大于或等于10微米并且小于或等于32微米的范围内，所述表面层的每单位面积上的所述表面粗糙度赋予材料的颗粒的数量在大于或等于1.8
×
103个颗粒/mm2并且小于或等于1.7
×
105个颗粒/mm2的范围内，并且所述表面层的平均厚度在大于或等于0.2微米并且小于或等于5.8微米的范围内。3.根据权利要求1或2所述的导电辊子，所述导电辊子还包括被布置在所述芯部构件与所述表面层之间的导电弹性层。4.根据权利要求1至3中任一项所述的导电辊子，其中，所述表面粗糙度赋予材料由绝缘材料形成。5.根据权利要求1至4中任一项所述的导电辊子，其中，所述导电部分由包括树脂材料和导电试剂的树脂组合物形成。6.一种图像形成设备，所述图像形成设备包括根据权利要求1至5中任一项所述的导电辊子；以及感光器，所述感光器与所述导电辊子接触或靠近所述导电辊子。7.根据权利要求6所述的图像形成设备，其中，所述导电辊子是充电辊子，所述充电辊子被构造成通过在所述导电辊子与所述感光器的外表面之间施加电压来使所述感光器的外表面带电。8.一种用于导电辊子的检测方法，所述检测方法...

【专利技术属性】
技术研发人员：铃木章吾，池田笃，福冈智，佐佐木宪司，
申请(专利权)人：NOK株式会社，
类型：发明
国别省市：