一种工业CT系统穿透能力测试方法技术方案

本发明专利技术涉及一种工业CT系统穿透能力测试方法，包括：设计供被测试工业CT系统测试用的试块，该试块为圆柱体且内部开设有与圆柱体同轴布置的通孔，所述通孔的纵截面呈梯形；将试块置于转台的中心位置，使用被测试工业CT系统对试块进行CT扫描成像，获得多幅试块CT图像；获取每幅试块CT图像的材料中心位置以及每幅试块CT图像的穿透厚度；计算CT图像的点扩散函数；获取每幅试块CT图像中内部空隙部分的灰度值和材料部分的灰度值；计算不同穿透厚度下，不同空间分辨率对应的对比度值；当MTF

【技术实现步骤摘要】
一种工业CT系统穿透能力测试方法


[0001]本专利技术涉及光学系统性能测试
，尤其涉及一种工业CT系统穿透能力测试方法。

技术介绍

[0002]工业CT检测技术是一种在X射线检测技术上发展起来的实用无损检测手段，是一种特殊的光学系统，具有成像直观，定量、定位、定性准确，广泛应用于工业无损探伤、医疗卫生等领域。其成像原理就是采用一定能量强度的X射线照射被检测物体，采集透过被检测物体后X射线的衰减规律及分布情况，通过计算机信息处理和图像重建技术，将这些射线衰减规律及分布以图像形式显示出来。因此，传统的CT技术是一种基于透射的成像检测技术。
[0003]工业CT技术及设备的穿透能力表征了该设备可检测产品的密度及厚度范围，直接关系到该设备能否实现产品检测，是一项重要的性能指标。在CT设备研发、生产、验收、使用和调试维修等过程中均需要涉及对工业CT系统的穿透能力评价。因此对生产厂家和用户迫切需要一种测试便捷、精度高、实用性强的工业CT系统的穿透能力测试方法。
[0004]目前，GB/T 37158《无损检测工业计算机层析成像(CT本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种工业CT系统穿透能力测试方法，工业CT系统包括依次间隔布置的X射线源、转台和探测器，其特征在于包括如下步骤：步骤1、根据待测试工业CT系统的穿透能力范围设计供被测试工业CT系统测试用的试块，该试块为圆柱体且内部开设有与圆柱体同轴布置的通孔，所述通孔的纵截面呈梯形；步骤2、将步骤1中的试块置于转台的中心位置，使试块的轴心线与转台的轴心线基本重合，并使试块的基准面与CT扫描平面平行，使用被测试工业CT系统对试块进行CT扫描成像，获得多幅试块CT图像；其中每幅试块CT图像均包括位于中央并呈圆形的内部空隙部分和位于内部空隙部分外围并与内部空隙部分同心布置的材料部分，所述材料部分呈环形；步骤3、获取每幅试块CT图像的材料中心位置，其中并根据每幅试块CT图像的材料中心位置获取得到每幅试块CT图像的穿透厚度，将第n幅试块CT图像的穿透厚度记为D
n
；步骤4、计算CT图像的点扩散函数；步骤5、获取每幅试块CT图像中内部空隙部分的灰度值和材料部分的灰度值；将第n幅试块CT图像的内部空隙部分的灰度值记为A
n
和材料部分的灰度值记为B
n
；步骤6、计算不同穿透厚度下，不同空间分辨率对应的对比度值；具体为：确定一线对卡密度，即：k线对/毫米；k为正整数；建立理想线对卡灰度值分布图g
n
(x)，其中g
n
(x)为矩形波，g
n
(x)的波峰值为B
n
，波谷值为A
n
；将理想线对卡灰度值分布图g
n
(x)与步骤4中CT图像的点扩散函数进行卷积计算，得到退化后的线对卡灰度值分布图；其中将退化后的线对卡灰度值分布图中材料的灰度值记为B
′
n
，将退化后的线对卡灰度值分布图中内部空隙的灰度值记为A
′
n
；则当前空间分辨率下的对比度值步骤7、当MTF
k
≥10％时，则认定当前工业CT系统的设备及工艺条件能穿透厚度为D
n
的产品。2.根据权利要求1所述的工业CT系统穿透能力测试方法，其特征在于：所述步骤1中圆柱体试块的横截面直径为c，通孔...

【专利技术属性】
技术研发人员：齐子诚，倪培君，李红伟，唐盛明，徐凤丽，郭琦，陆英豪，左欣，张荣繁，付康，郑颖，乔日东，张维国，郭智敏，
申请(专利权)人：中国兵器科学研究院宁波分院，
类型：发明
国别省市：