一种地质剖面图生成方法、系统、电子设备及介质技术方案

本发明专利技术属于地质信息处理技术领域，其目的在于提供一种地质剖面图生成方法、系统、电子设备及介质。本发明专利技术先通过获取的指定区域的地表轮廓信息、高程信息以及多个地质采样点的地质钻孔信息，构建当前指定区域的三维实体模型；再获取剖面路径参数及剖面方向，并根据三维实体模型、剖面路径参数以及剖面方向生成地质剖面图；最后根据地质剖面图，得到与剖面路径参数对应区域的地质构造信息。在此过程中，由于本发明专利技术的地质剖面图基于三维实体模型得到，使得地质剖面图的生成精度较高，同时在构建得到三维实体模型后，可基于用户指定的剖面路径及剖面方向快速生成地质剖面图，此外，本发明专利技术还可便于用户基于地质剖面图对相应区域进行全面分析。进行全面分析。进行全面分析。

【技术实现步骤摘要】
一种地质剖面图生成方法、系统、电子设备及介质


[0001]本专利技术属于地质信息处理
，具体涉及一种地质剖面图生成方法、系统、电子设备及介质。

技术介绍

[0002]地质剖面图是沿某一剖面方向绘制的、用于表示地质剖面上的地质现象及相互关系的图件，地质剖面图分为沿垂直岩层走向绘制的地质横剖面图、沿平行岩层走向绘制的地质纵剖面图以及按水平方向编制的水平地质断面图。地质剖面图对于指导矿产资源开采和工程地质勘探具有重要意义，用户可通过地质剖面图配合地形地质图获取某一地区的地质全貌，还可通过地质剖面图更加清楚地了解矿体在地下的延展分布情况。
[0003]目前，在绘制地质剖面图的过程中，用户首先基于地质钻孔数据进行地层分析，然后手动确定地层线的连接关系，再采用传统的手工绘制或利用CAD等工具绘制地质剖面图。
[0004]但是，在使用现有技术过程中，专利技术人发现现有技术中至少存在如下问题：传统的手工绘制工作效率极为低下，同时成图的精度难以保证，与地质环境和工程建设项目管理的办公自动化不相适应；CAD等工具则主要起到将地质剖面图电子化的作用，然而其缺少空间分析、拓扑重建等功能，不适用于用户对地质分布进行全面分析；此外，传统的手工绘制或利用CAD等工具绘制地质剖面图均需要用户手动分析地质钻孔数据，导致地质剖面图的生成速度较慢。

技术实现思路

[0005]本专利技术旨在至少在一定程度上解决上述技术问题，本专利技术提供了一种地质剖面图生成方法、系统、电子设备及介质。
[0006]为了实现上述目的，本专利技术采用以下技术方案：第一方面，本专利技术提供了一种地质剖面图生成方法，包括：获取指定区域的地表轮廓信息、位于所述地表轮廓信息所在区域内的高程信息以及位于所述地表轮廓信息所在区域内的多个地质采样点的地质钻孔信息；根据所述地表轮廓信息、所述高程信息以及多个地质采样点的地质钻孔信息，构建当前指定区域的三维实体模型；获取剖面路径参数及剖面方向，并根据所述三维实体模型、所述剖面路径参数以及所述剖面方向生成地质剖面图；其中，所述地质剖面图为所述三维实体模型中，沿与所述剖面路径参数匹配的路径延伸，且切面方向与所述剖面方向平行的剖面图；根据所述地质剖面图，得到与所述剖面路径参数对应区域的地质构造信息。
[0007]在一个可能的设计中，根据所述地表轮廓信息、所述高程信息以及多个地质采样点的地质钻孔信息，构建当前指定区域的三维实体模型，包括：根据所述高程信息以及所述地表轮廓信息，构建当前指定区域的三维高程模型；将多个地质采样点的地质钻孔信息插入所述三维高程模型，得到插值后三维高程
模型；根据多个地质采样点的地质钻孔信息，对所述插值后三维高程模型中除所述地质钻孔信息对应位置外的其他位置进行地层轮廓预测，得到三维实体模型。
[0008]在一个可能的设计中，根据所述高程信息以及所述地表轮廓信息，构建当前指定区域的三维高程模型，包括：根据所述高程信息，构建顶面高程模型；根据所述地表轮廓信息，构建侧面高程模型；根据预设的基础海拔信息，构建底面高程模型；将所述顶面高程模型、所述侧面高程模型以及所述底面高程模型进行融合处理，得到当前指定区域的三维高程模型。
[0009]在一个可能的设计中，根据所述三维实体模型、所述剖面路径参数以及所述剖面方向生成地质剖面图，包括：根据所述剖面路径参数以及所述剖面方向，获取所述三维实体模型中，沿与所述剖面路径参数匹配的路径延伸，且切面方向与所述剖面方向相同的剖面上的取样点参数集；其中，所述取样点参数集中包括与所述剖面路径参数匹配的路径延伸，且切面方向与所述剖面方向相同的剖面上的所有取样点的坐标信息及钻孔地层信息；根据所述取样点参数集中所有取样点的坐标信息，将所有取样点映射在与所述剖面方向平行的基准平面上，得到初始地质剖面图，所述初始地质剖面图中包括所有取样点对应的映射后取样点，所有映射后取样点的坐标信息及钻孔地层信息构成地质剖面点参数集；根据所述地质剖面点参数集中所有映射后取样点的坐标信息及钻孔地层信息，得到边界点，并根据边界点得到所述初始地质剖面图的边界线；其中，所述边界线包括地面线及地层线；根据所述地质剖面点参数集中所有映射后取样点的钻孔地层信息，得到所有映射后取样点的地层标识信息；根据所有映射后取样点的地层标识信息，对所述初始地质剖面图中的所有映射后取样点进行标志填充，得到最终地质剖面图。
[0010]在一个可能的设计中，所述地面线根据所述地质剖面点参数集中所有映射后取样点的坐标信息得到，所述地层线根据所述地质剖面点参数集中所有映射后取样点的坐标信息及钻孔地层信息得到；其中，根据所述地质剖面点参数集中所有映射后取样点的坐标信息，得到地面线，包括：根据所述地质剖面点参数集中所有映射后取样点的坐标信息，获取所述地质剖面点参数集中，与所述剖面路径参数匹配的所有映射后取样点，并将与所述剖面路径参数匹配的所有映射后取样点作为地面线对应的第一边界点；获取所有第一边界点的坐标信息；根据所述第一边界点的坐标信息，将多个所述第一边界点依次连接，得到地面线；根据所述取样点参数集中所有取样点的钻孔地层信息以及地质剖面点参数集，得到任一地层线，包括：
根据所述地质剖面点参数集中所有映射后取样点的钻孔地层信息，得到所述地质剖面点参数集中，钻孔地层信息不同的相邻取样点；根据所述地质剖面点参数集中所有映射后取样点的坐标信息，得到各钻孔地层信息不同的相邻取样点的连接线的中点以及中点的坐标信息，并将各钻孔地层信息不同的相邻取样点的中点作为地层线对应的第二边界点；根据多个第二边界点的坐标信息，将多个第二边界点依次连接，得到地层线。
[0011]在一个可能的设计中，所述方法还包括：获取图像生成精度，并根据所述图像生成精度得到相邻取样点间距；根据所述相邻取样点间距、所述剖面路径参数以及所述剖面方向，获取所述三维实体模型中，沿与所述剖面路径参数匹配的路径延伸，且切面方向与所述剖面方向相同的剖面上的取样点参数集；其中，所述取样点参数集中的相邻取样点坐标的间距与所述相邻取样点间距相同。
[0012]在一个可能的设计中，根据所述地质剖面图，得到与所述剖面路径参数对应区域的地质构造信息，包括：获取不同地质构造类型的多个样本数据，多个样本数据构成训练数据集；其中，任一样本数据包括样本地质剖面图以及当前样本地质剖面图对应的地质类型信息；构建初始地质分析模型；将所述训练数据集输入所述初始地质分析模型中进行训练，得到训练后地质分析模型；将所述地质剖面图输入所述训练后地质分析模型中，得到与所述剖面路径参数对应区域的地质构造信息。
[0013]第二方面，本专利技术提供了一种地质剖面图生成系统，用于实现如上述任一项所述的地质剖面图生成方法；所述地质剖面图生成系统包括：基础信息获取模块，用于获取指定区域的地表轮廓信息、位于所述地表轮廓信息所在区域内的高程信息以及位于所述地表轮廓信息所在区域内的多个地质采样点的地质钻孔信息；模型构建模块，与所述基础信息获取模块通信连接，用于根据所述地表轮廓信息、所述高程信息以及多个地质采样点的地质钻孔信息，构本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种地质剖面图生成方法，其特征在于：包括：获取指定区域的地表轮廓信息、位于所述地表轮廓信息所在区域内的高程信息以及位于所述地表轮廓信息所在区域内的多个地质采样点的地质钻孔信息；根据所述地表轮廓信息、所述高程信息以及多个地质采样点的地质钻孔信息，构建当前指定区域的三维实体模型；获取剖面路径参数及剖面方向，并根据所述三维实体模型、所述剖面路径参数以及所述剖面方向生成地质剖面图；其中，所述地质剖面图为所述三维实体模型中，沿与所述剖面路径参数匹配的路径延伸，且切面方向与所述剖面方向平行的剖面图；根据所述地质剖面图，得到与所述剖面路径参数对应区域的地质构造信息。2.根据权利要求1所述的一种地质剖面图生成方法，其特征在于：根据所述地表轮廓信息、所述高程信息以及多个地质采样点的地质钻孔信息，构建当前指定区域的三维实体模型，包括：根据所述高程信息以及所述地表轮廓信息，构建当前指定区域的三维高程模型；将多个地质采样点的地质钻孔信息插入所述三维高程模型，得到插值后三维高程模型；根据多个地质采样点的地质钻孔信息，对所述插值后三维高程模型中除所述地质钻孔信息对应位置外的其他位置进行地层轮廓预测，得到三维实体模型。3.根据权利要求2所述的一种地质剖面图生成方法，其特征在于：根据所述高程信息以及所述地表轮廓信息，构建当前指定区域的三维高程模型，包括：根据所述高程信息，构建顶面高程模型；根据所述地表轮廓信息，构建侧面高程模型；根据预设的基础海拔信息，构建底面高程模型；将所述顶面高程模型、所述侧面高程模型以及所述底面高程模型进行融合处理，得到当前指定区域的三维高程模型。4.根据权利要求1所述的一种地质剖面图生成方法，其特征在于：根据所述三维实体模型、所述剖面路径参数以及所述剖面方向生成地质剖面图，包括：根据所述剖面路径参数以及所述剖面方向，获取所述三维实体模型中，沿与所述剖面路径参数匹配的路径延伸，且切面方向与所述剖面方向相同的剖面上的取样点参数集；其中，所述取样点参数集中包括与所述剖面路径参数匹配的路径延伸，且切面方向与所述剖面方向相同的剖面上的所有取样点的坐标信息及钻孔地层信息；根据所述取样点参数集中所有取样点的坐标信息，将所有取样点映射在与所述剖面方向平行的基准平面上，得到初始地质剖面图，所述初始地质剖面图中包括所有取样点对应的映射后取样点，所有映射后取样点的坐标信息及钻孔地层信息构成地质剖面点参数集；根据所述地质剖面点参数集中所有映射后取样点的坐标信息及钻孔地层信息，得到边界点，并根据边界点得到所述初始地质剖面图的边界线；其中，所述边界线包括地面线及地层线；根据所述地质剖面点参数集中所有映射后取样点的钻孔地层信息，得到所有映射后取样点的地层标识信息；根据所有映射后取样点的地层标识信息，对所述初始地质剖面图中的所有映射后取样
点进行标志填充，得到最终地质剖面图。5.根据权利要求4所述的一种地质剖面图生成方法，其特征在于：所述地面线根据所述地质剖面点参数集中所有映射后取样点的坐标信息得到，所述地层线根据所述地质剖面点参数集中所有映射后取样点的坐标信息及钻孔地层信息得到；其中，根据所述地质剖面点参数集中所有映射后取样点的坐标信息，得到地面线，包括：根据所述地质剖面点参数集中所有映射后取样点的坐标信...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘晓雪，张伟国，谭渭源，
申请(专利权)人：红石恒信成都科技有限公司，
类型：发明
国别省市：