减光模块及激光加工质量光电检测系统技术方案

本发明专利技术属于激光加工技术领域，公开了一种减光模块及激光加工质量光电检测系统，减光模块，包括底座，底座上设有用于光通过的通孔，转动筒转动设于通孔内，转动筒内壁设有第一固定台阶，转动筒内设有第一偏光镜和第一压环，第一偏光镜的两侧面分别与第一固定台阶和第一压环抵接；底座上安装有固定筒，固定筒内设有第二偏光镜，第二偏光镜与第一偏光镜平行设置。本发明专利技术所提供的减光模块，旋转调节第一偏光镜的角度，改变第一偏光镜的透光轴方向和第二偏光镜的透光轴方向的角度，光的通过率可按比例从0～100％进行连续的调节，给激光加工质量光电检测系统提供更为理想的光电信号。量光电检测系统提供更为理想的光电信号。量光电检测系统提供更为理想的光电信号。

【技术实现步骤摘要】
减光模块及激光加工质量光电检测系统


[0001]本专利技术属于激光加工
，具体涉及一种减光模块及激光加工质量光电检测系统。

技术介绍

[0002]激光加工质量光电检测系统用于各种激光加工工艺的过程质量检测，其工作时需要将激光加工过程中产生的光信号通过分光镜分解成三个波段来单独采集、光电信号转换和信号特征提取，然后判断产品的加工质量。激光加工设备及其使用的激光头种类繁多，激光头的输出功率不一，其光强大小相差较大，因此，光电检测系统在采集光信号之前需要对其进行不同比例的减弱，才能让系统采集到的数据分布稳定，避免出现因信号饱满而失真或者因信号太弱而信号特征不明显的问题。目前，主要是在三个波段范围的光进入光电传感器之前各自适配一块固定衰减比例的减光镜来达到减光的效果，光电检测系统更换到不同的激光设备上使用时，须重新适配一组减光镜。
[0003]在实现本专利技术过程中，专利技术人发现现有技术中至少存在如下问题：1.同一片减光镜对光强的衰减比例是固定不变的，不能提供按任意比例衰减的光电信号，影响仪器对光电信号特征的识别和提取。2.为了让每个检本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种减光模块，其特征在于：包括底座(501)，底座(501)上设有用于光通过的通孔，转动筒(502)转动设于通孔内，转动筒(502)内壁设有第一固定台阶，转动筒(502)内设有第一偏光镜(503)和第一压环(504)，第一偏光镜(503)的两侧面分别与第一固定台阶和第一压环(504)抵接；底座(501)上安装有固定筒(505)，固定筒(505)内设有第二偏光镜(506)，第二偏光镜(506)与第一偏光镜(503)平行设置。2.根据权利要求1所述的减光模块，其特征在于：所述固定筒(505)内壁设有第二固定台阶，转动筒(502)内设有第二压环(507)，第二偏光镜(506)的两侧面分别与第二固定台阶和第二压环(507)抵接。3.根据权利要求2所述的减光模块，其特征在于：所述第一压环(504)螺纹连接安装在转动筒(502)内，第二压环(507)螺纹连接安装在固定筒(505)内。4.根据权利要求1所述的减光模块，其特征在于：所述底座(501)上螺纹安装有紧定螺钉(508)，紧定螺钉...

【专利技术属性】
技术研发人员：张健，欧红师，
申请(专利权)人：深圳市微谱感知智能科技有限公司，
类型：发明
国别省市：