基物质质量衰减系数获取方法、系统、电子设备及介质技术方案

本公开提供了一种基物质质量衰减系数获取方法、系统、电子设备及介质。该基物质质量衰减系数获取方法通过获取包含不同密度的目标基物质的预设标定模体在目标能量区间下衰减特征值，基于预设标定模体的衰减特征值和不同预设标定模体中目标基物质的密度计算目标基物质的质量衰减系数。本公开基于获取目标基物质准确的质量衰减系数，可以针对待分解物构建物质分解矩阵，基于物质分解矩阵对待分解物对应的目标图像进行分解，获取目标基物质对应的密度图像。密度图像。密度图像。

【技术实现步骤摘要】
基物质质量衰减系数获取方法、系统、电子设备及介质


[0001]本公开涉及图像域物质分解
，特别涉及一种基物质质量衰减系数获取方法、系统、电子设备及介质。

技术介绍

[0002]基于双能或多能能谱成像的CT技术能够获取不同能量区间的图像，提供更丰富的X射线衰减信息。利用不同物质的衰减随能量变化不同的特性，可以通过双能或多能CT成像来区分不同的物质，重建出基物质对应的密度图像。
[0003]现有的物质分解方法包括直接分解法、投影域物质分解法和图像域物质分解法。其中，图像域物质分解的理论基础为任何一个物质的质量衰减系数可以用任何其他两个基物质(基物质对)的质量衰减系数来表示，结合线性衰减系数与基物质的密度及质量衰减系数的关系，有如下等式关系：
[0004]μ0(E)＝ρ1μ1(E)+ρ2μ2(E)；
[0005]其中，ρ1和ρ2分别为两种基物质的密度，与X射线的能量无关，μ0(E)为待分解物对应能量E的线性衰减系数，μ1(E)和μ2(E)分别为待分解物中的两种基物质对应E的质量衰减系数。
[0006]在实际应用过本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基物质质量衰减系数获取方法，其特征在于，所述基物质质量衰减系数获取方法包括：获取至少两个预设标定模体；其中，所述预设标定模体包括目标基物质，不同的所述预设标定模体中所述目标基物质的密度不同；分别获取每个所述预设标定模体对应目标能量区间的衰减特征值；基于所述预设标定模体的所述衰减特征值和所述目标基物质的密度，获取所述目标基物质对应所述目标能量区间的质量衰减系数。2.根据权利要求1述的基物质质量衰减系数获取方法，其特征在于，所述预设标定模体还包括背景物质；所述获取所述目标基物质对应所述目标能量区间的质量衰减系数的步骤还包括：基于不同所述预设标定模体的所述衰减特征值与所述目标基物质的密度、所述背景物质的密度的关系构建目标方程组；其中，所述衰减特征值为所述目标基物质的线性衰减系数与所述背景物质的线性衰减系数之和；所述目标基物质的线性衰减系数为所述目标基物质的密度与所述目标基物质的质量衰减系数的乘积，所述背景物质的线性衰减系数为所述背景物质的密度与所述背景物质的质量衰减系数的乘积；基于所述目标方程组获取所述目标基物质的质量衰减系数。3.根据权利要求2所述的基物质质量衰减系数获取方法，其特征在于，对于不同的所述预设标定模体，若所述背景物质的密度相同，所述基于所述目标方程组获取所述目标基物质的质量衰减系数的步骤还包括：使用不同所述预设标定模体的所述衰减特征值与所述预设标定模体包含的所述目标基物质的密度，基于所述目标方程组进行最小二乘线性拟合，得到第一拟合关系；基于所述第一拟合关系确定所述目标基物质的质量衰减系数。4.根据权利要求2所述的基物质质量衰减系数获取方法，其特征在于，对于不同的所述预设标定模体，若所述背景物质按照预设稀释倍数被稀释后的密度不同，所述基于所述目标方程组获取所述目标基物质的质量衰减系数的步骤包括：使用不同所述预设标定模体的所述衰减特征值、所述预设标定模体包含的所述目标基物质的密度及所述预设稀释倍数，基于所述目标方程组进行最小二乘线性拟合，得到第二拟合关系；基于所述第二拟合关系确定所述目标基物质的质量衰减系数。5.根据权利要求1所述的基物质质...

【专利技术属性】
技术研发人员：严冬梅，杨永，李兵，傅建伟，杨美丽，
申请(专利权)人：武汉联影医疗科技有限公司，
类型：发明
国别省市：