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本公开提供了一种基物质质量衰减系数获取方法、系统、电子设备及介质。该基物质质量衰减系数获取方法通过获取包含不同密度的目标基物质的预设标定模体在目标能量区间下衰减特征值，基于预设标定模体的衰减特征值和不同预设标定模体中目标基物质的密度计算目标...
该专利属于武汉联影医疗科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过武汉联影医疗科技有限公司授权不得商用。

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