芯片测试方法和装置制造方法及图纸

本申请涉及芯片设计领域，尤其涉及一种芯片测试方法和装置。一种芯片测试方法，包括：通过第一检测程序运行测试列表中的待测实例，得到所述待测实例的标准结果；通过第二检测程序将所述待测实例传输至待测芯片，以使所述待测芯片运行所述待测实例，得到所述待测实例的实际结果；通过所述第二检测程序获取所述待测实例的所述实际结果；根据所述待测实例的所述标准结果和所述实际结果，确定所述待测芯片的测试结果。本申请通过在上位机中设置第一检测程序和第二检测程序，自动执行上位机与待测芯片间的信息交互，避免了用户手动录入待测实例的冗余操作，极大的提高了测试效率。极大的提高了测试效率。极大的提高了测试效率。

【技术实现步骤摘要】
芯片测试方法和装置


[0001]本申请涉及芯片设计领域，尤其涉及一种芯片测试方法和装置。

技术介绍

[0002]在多媒体IP芯片的设计、生产过程中，需要通过执行现场可编程逻辑门阵列(Field Programmable Gate Array，FPGA)验证来检测FPGA芯片的功能是否完善。在FPGA验证的过程中，针对FPGA芯片的不同功能，设置若干不同类型的待测示例录入FPGA芯片运行，根据处理结果来检测FPGA芯片的对应功能。
[0003]在相关技术中，需要由用户手动将待测示例录入FPGA芯片中运行，并手动获取运行结果，来判断FPGA芯片功能是否完善。但是实现FPGA检测需要用到大量的待测示例进行验证，如果全部由用户手动操作，不但费时费力，而且会降低检测效率。

技术实现思路

[0004]有鉴于此，本专利技术实施例提供了一种芯片测试方法和装置，通过在上位机中设置第一检测程序和第二检测程序，自动将待测实例发送至待测芯片进行测试，并自动获取实际结果，解决了用户手动操作过于繁杂的问题。
[0005]第一方面本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种芯片测试方法，其特征在于，所述方法包括：通过第一检测程序运行测试列表中的待测实例，得到所述待测实例的标准结果；通过第二检测程序将所述待测实例传输至待测芯片，以使所述待测芯片运行所述待测实例，得到所述待测实例的实际结果；通过所述第二检测程序获取所述待测实例的所述实际结果；根据所述待测实例的所述标准结果和所述实际结果，确定所述待测芯片的测试结果。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述通过第一检测程序运行待测实例，得到所述待测实例的标准结果之前，所述方法还包括：解析全部的待测实例，以将各所述待测实例转换为所述第一检测程序和所述第二检测程序可以调用的格式；依次将解析后的各所述待测实例存入测试列表中。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述解析全部预存的待测实例之前，所述方法还包括：调取用户在上位机内预存的预存实例；确定所述预存实例的参数类型，在所述参数类型的参数范围内，随机生成若干随机实例；将所述预存实例和所述随机实例确定为所述待测实例。4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述通过第一检测程序运行待测实例，得到所述待测实例的标准结果，包括：通过所述第一检测程序调用芯片仿真程序，所述芯片仿真程序用于对所述待测芯片进行仿真；基于所述芯片仿真程序处理所述待测实例，得到所述标准结果。5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述待测实例的所述标准结果和所述实际结果，确定所述待测芯片的测试结果，包括：当所述实际结果与所述标准结果一致时，继续对所述测试列表中的其他待测实例进行测试；当所述实际结果与所述标准结果不一致时，确定所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：张帅，徐继翔，金艳，
申请(专利权)人：北京紫光展锐通信技术有限公司，
类型：发明
国别省市：