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本申请涉及芯片设计领域，尤其涉及一种芯片测试方法和装置。一种芯片测试方法，包括：通过第一检测程序运行测试列表中的待测实例，得到所述待测实例的标准结果；通过第二检测程序将所述待测实例传输至待测芯片，以使所述待测芯片运行所述待测实例，得到所述待...
该专利属于北京紫光展锐通信技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过北京紫光展锐通信技术有限公司授权不得商用。

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