一种LED支架注塑成型后的颗粒检测设备及工艺制造技术

本发明专利技术涉及一种LED支架注塑成型后的颗粒检测设备及工艺，属于半导体器件技术领域，第一剔除部件会对LED支架上的模座进行一次剔除，然后通过检测组件对LED支架带上的模座进行检测，检测注塑出的模座是否有缺陷，检测组件检测完后发生信息给控制组件，然后由剔除组件执行，LED支架带等距间歇式经过剔除组件，每次移动距离等于每排模座的距离，多个第二剔除部件会与同一排多个模座进行对应，与具有缺陷模座相对应的第二剔除部件中的连接件会连接顶出杆和推动部件，由推动部件同时推动单个或者多个连接件向下移动，从而实现顶出杆向下移动将缺陷模座顶出，采用本发明专利技术中的检测工艺，能够快速对同排多个模座进行检测，能对同排的多个缺陷模座同时进行剔除。多个缺陷模座同时进行剔除。多个缺陷模座同时进行剔除。

【技术实现步骤摘要】
一种LED支架注塑成型后的颗粒检测设备及工艺


[0001]本专利技术属于半导体器件
，具体涉及一种LED支架注塑成型后的颗粒检测设备及工艺。

技术介绍

[0002]传统的LED支架带在其表面注塑模座后，然后会进行折弯工艺，折弯结束后进行分切成片，再对一片一片的LED支架片进行检测，检测LED支架片上的注塑模座是否有缺陷，将有缺陷的收集到一起，将合格的收集在一起，这种检测方式检测精度差且效率低，如中国专利技术专利公开号为CN111162030A提供了一种LED支架缺陷检测及剔除设备，能够对料带进行缺陷检测，并对缺陷颗粒进行剔除，这种检测设备检测精度高，且效率由于传统的检测方式，但是该专利存在一个技术问题，就是同排注塑模座出现两个及以上的缺陷时，需要一个一个进行剔除，无法将同排的缺陷模座一次性进行剔除，有鉴于此，遂有了本方案的产生。

技术实现思路

[0003]鉴于现有技术的不足，本专利技术所要解决的技术问题是提供一种LED支架注塑成型后的颗粒检测设备及工艺，它能够一次对LED支架带同排的多个具有缺陷的模座同时进行剔除。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种LED支架注塑成型后的颗粒检测设备，其特征在于：包括检测组件和剔除组件，所述检测组件位于剔除组件输入端一侧，所述剔除组件包括第一剔除部件、多个第二剔除部件和推动部件，所述第一剔除部件包括第一胶粘辊，所述第一胶粘辊表面与LED支架上表面接触，所述第二剔除部件包括承载座体、顶出杆和连接件，各所述顶出杆与推动部件之间的连接通过连接件控制，所述推动部件通过推动连接件和顶出杆向下移动。2.根据权利要求1所述的一种LED支架注塑成型后的颗粒检测设备，其特征在于：所述第一剔除部件还包括刮板和收集槽，所述第一胶粘辊包括第一辊筒和棉胶套，所述棉胶套套设在第一辊筒的外表面，所述刮板固定连接在收集槽上，所述刮板一端抵住棉胶筒的表面。3.根据权利要求1所述的一种LED支架注塑成型后的颗粒检测设备，其特征在于：所述承载座体设有移动通道，所述移动通道的开口位于承载座体的底面，所述顶出杆位于移动通道内且滑动连接，所述承载座体还设有第一腔室，所述第一腔室位于移动通道的一侧，所述移动通道与第一腔室之间具有连通缺口，所述推动部件位于第一腔室内，所述连接件位于顶出杆上，所述连接件可伸入或退出第一腔室。4.根据权利要求3所述的一种LED支架注塑成型后的颗粒检测设备，其特征在于：所述顶出杆设有容置孔，所述承载座体具有安装腔室，所述安装腔室位于顶出杆远离第一腔室的一侧，所述连接件包括滑动柱和正负极电磁板，所述滑动柱位于容置孔内且滑动连接，所述正负极电磁板位于安装腔室内，所述滑动柱朝向正负极电磁板的一面固设有磁石。5.根据权利要求3所述的一种LED支架注塑成型后的颗粒检测设备，其特征在于：所述顶出杆设有容置孔，所述承载座体具有安装腔室，所述安装腔室位于顶出杆远离第一腔室的一侧，...

【专利技术属性】
技术研发人员：杨先武，汪路，
申请(专利权)人：福建鼎珂光电科技有限公司，
类型：发明
国别省市：