【技术实现步骤摘要】
一种等离子体光谱数据参数优化方法、装置及设备
[0001]本申请属于等离子体诊断
,尤其涉及一种等离子体光谱数据参数优化方法、装置及设备。
技术介绍
[0002]等离子体光谱主要是线状谱和连续谱。线状谱是等离子体中的中性原子、离子等由其高能级的激发态跃迁到较低能级时所产生的,单个粒子发射的谱线强度主要决定于:
①
原子或离子的外层电子处于上能级的几率,
②
这种电子从上能级跃迁到下能级的跃迁几率,
③
光子在逸出等离子体之前被再吸收的几率。但谱线的总强度与电子和离子的密度和温度有关,每条谱线有它自己的强度分布规律,因此从谱线强度的测量,结合理论模型和上述光谱中的原子数据,可以得到电子、离子的密度、温度等信息。根据多普勒效应,从谱线波长的移动可确定等离子体的宏观运动速度。连续谱是电子在其他粒子的势场中被加速或减速而产生的。从连续光谱强度的测量,也可得到电子密度、温度等数据。
[0003]光谱诊断法是进行等离子体诊断时的广泛采用的方法之一,光谱诊断法基于测量等离子体的 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种等离子体光谱数据参数优化方法,其特征在于,包括以下步骤:获取等离子体光谱数据,并确定所述等离子体光谱数据的波长序列和谱线强度序列;构建包含待优化等离子体参数和所述波长序列的展宽效应函数;根据所述展宽效应函数和所述波长序列得到谱线拟合轮廓;以所述待优化等离子体参数为优化目标,根据所述谱线拟合轮廓和所述谱线强度序列执行迭代算法;输出优化后的等离子体参数。2.根据权利要求1所述一种等离子体光谱数据参数优化方法,其特征在于,所述获取等离子体光谱数据后,确定等离子体的光学厚度,根据所述等离子体的光学厚度,对所述谱线强度序列进行校正。3.根据权利要求2所述一种等离子体光谱数据参数优化方法,其特征在于,所述确定等离子体的光学厚度,根据所述等离子体的光学厚度,对所述谱线强度序列进行校正,包括以下步骤:基于阿贝尔变换,对等离子体的半径进行积分,得到初始谱线强度;基于阿贝尔逆变换,根据所述初始谱线强度,得到谱线强度分布;根据所述谱线强度分布确定吸收系数;基于阿贝尔变换,根据所述吸收系数确定等离子体不同位置处的光学厚度;基于比尔
‑
朗伯定律,根据等离子体不同位置处的光学厚度对等离子体不同位置处的谱线强度进行校正,得到等离子体不同位置处的校正后的谱线强度;生成谱线强度序列。4.根据权利要求1
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3任一项所述一种等离子体光谱数据参数优化方法,其特征在于,所述获取等离子体光谱数据后,对所述等离子体光谱数据进行归一化。5.根据权利要求1
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3任一项所述一种等离子体光谱数据参数优化方法,其特征在于,所述待优化等离子体参数包括:离子温度、电子密度和谱线中心波长;所述构建包含待优化等离子体参数和所述波长序列的展宽效应函数,包括:构建所述波长序列的上采样波长序列,所述上采样波长序列以所述波长序列的最大值和最小值为边界;根据所述上采样波长序列、所述离子温度和所述谱线中心波长构建...
【专利技术属性】
技术研发人员:彭晶,贺玉哲,陈立,石桓通,李兴文,邓云坤,王科,赵现平,
申请(专利权)人:西安交通大学,
类型:发明
国别省市:
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