一种智能化半导体器件发光寿命测试设备制造技术

技术编号:37304840 阅读:30 留言:0更新日期:2023-04-21 22:49
本发明专利技术公开了一种智能化半导体器件发光寿命测试设备,涉及测试设备技术领域,包括:感应模块;温度模块,通过导线与中控装置电性连接,用于调节检测过程中的温度;供电模块;检测模块。本发明专利技术通过设置硅光二极管,中控装置控制恒流电源,让恒流电源输出恒流,给器件供电,点亮器件,器件发光,测试盒中的硅光二极管将光能转为电能,软件控制采集仪器采集测试和硅光二极管的信号和测试盒中的电压电流,通过分析硅光二极管的信号,判断器件的寿命情况,将加热片集成到了测试盒中,用高精度温度控制器控制加热片进行测试盒升温,使其达到需要测试的温度,并将发光器件在测试盒中点亮,高温和亮度衰减一起做测试。亮度衰减一起做测试。亮度衰减一起做测试。

【技术实现步骤摘要】
一种智能化半导体器件发光寿命测试设备


[0001]本专利技术涉及测试设备
,具体是一种智能化半导体器件发光寿命测试设备。

技术介绍

[0002]半导体器件是导电性介于良导电体与绝缘体之间,利用半导体材料特殊电特性来完成特定功能的电子器件,可用来产生、控制、接收、变换、放大信号和进行能量转换,半导体器件的半导体材料是硅、锗或砷化镓,可用作整流器、振荡器、发光器、放大器、测光器等器材,为了与集成电路相区别,有时也称为分立器件。绝大部分二端器件(即晶体二极管)的基本结构是一个PN结,在对半导体器件进行使用前需要对其寿命进行测试。
[0003]传统的发光器件寿命测试设备只用于点亮过程中测试衰减过程,当要用于高温测试寿命时候,只能放置到高温箱里面进行测试寿命,这种测试方法需要一个体检大的高温箱,另外也增加了成本,故而研发一款可以集成高温和亮度寿命一起测试的设备,进而降低成本,提高效率。

技术实现思路

[0004]本专利技术的目的在于:为了解决发光器件寿命测试设备成本较高的问题,提供一种智能化半导体器件发光寿命测试设备。...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种智能化半导体器件发光寿命测试设备,其特征在于,包括:感应模块;温度模块,通过导线与中控装置电性连接,用于调节检测过程中的温度;供电模块,通过导线与检测模块电性连接,用于对检测模块提供电能;检测模块,通过导线与感应模块和中控装置电性连接,用于对半导体器件进行检测。2.根据权利要求1所述的一种智能化半导体器件发光寿命测试设备,其特征在于,所述供电模块包括有恒流电源,所述恒流电源通过导线与中控装置电性连接。3.根据权利要求1所述的一种智能化半导体器件发光寿命测试设备,其特征在于,所述温度模块包括有PID温控设备,所述感应模块包括有温度感应器,所述PID温控设备和所述温度感应器均...

【专利技术属性】
技术研发人员:梁丙生刘镇岭王剑斌赖芸光廖燕锋
申请(专利权)人:广州晶合设备有限公司
类型:发明
国别省市:

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