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本发明公开了一种智能化半导体器件发光寿命测试设备，涉及测试设备技术领域，包括：感应模块；温度模块，通过导线与中控装置电性连接，用于调节检测过程中的温度；供电模块；检测模块。本发明通过设置硅光二极管，中控装置控制恒流电源，让恒流电源输出恒流，...
该专利属于广州晶合设备有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过广州晶合设备有限公司授权不得商用。

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