【技术实现步骤摘要】
自动化浪涌试验和电性参数测试系统及方法
[0001]本专利技术涉及的是半导体测试
，具体涉及自动化浪涌试验和电性参数测试系统及方法。
技术介绍
[0002]目前，元器件浪涌试验多采用分体式作业方式，其作业步骤如下：
[0003]①
在电性参数测试仪测得元器件电性指标；
[0004]②
元器件移至浪涌发生器进行相应的浪涌试验；
[0005]③
再将元器件移回电性参数测试仪进行浪涌试验后的电性参数测试，以判定元器件经过浪涌试验后是否损坏；若元器件没损坏，则提升浪涌试验条件重复步骤
②
和
③
，直至元器件损坏。
[0006]该作业方式的每一个步骤均需要人工操作，工作时效非常低下，人工成本居高不下。为了解决上述问题，开发一种新型的自动化浪涌试验和电性参数测试系统及方法尤为必要。
技术实现思路
[0007]针对现有技术上存在的不足，本专利技术目的是在于提供一种自动化浪涌试验和电性参数测试系统及方法，结构设计合理，大大提高测试...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.自动化浪涌试验和电性参数测试系统，其特征在于，包括工业电脑(1)、电性参数测试仪(2)、水银开关盒(3)和浪涌发生器(4)，工业电脑(1)通过电性参数测试仪通信线缆(5)与电性参数测试仪(2)连接，电性参数测试仪(2)经由电性参数测试线(6)与水银开关盒(3)连接，工业电脑(1)通过浪涌发生器通信线缆(7)与浪涌发生器(4)连接，浪涌发生器(4)经由浪涌测试线缆(8)与水银开关盒(3)连接，所述的水银开关盒(3)通过器件测试线缆(9)与受测元器件(10)连接。2.自动化浪涌试验和电性参数测试方法，其特征在于，其步骤为：
①
工业电脑(1)发送电性参数测试程序至电性参数测试仪(2)，由电性参数测试仪(2)通过水银开关盒(3)输出电源至受测元器件(10)，并测得受测元器件(10)的电性：若测试结果不合格，则测试过程自动结束；若测试结果合格，则自动执行步骤
②
；
②
工业电脑(1)发送浪涌初始试验条件至浪涌发生器(4)，浪涌发生器(4)因此产生的浪涌通过水银开关盒(3)加载至受测元器件(1...
【专利技术属性】
技术研发人员：王海青，李章夏，
申请(专利权)人：深圳市高特微电子有限公司，
类型：发明
国别省市：
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