射频装置温度相关可靠度试验系统及其方法制造方法及图纸

一种射频装置温度相关可靠度试验系统，用以供射频装置执行温度相关可靠度试验，射频装置温度相关可靠度试验系统包含温控腔室、至少一温度感测器及控制单元。控制单元包含处理器及存储媒体，其中存储媒体提供温度相关可靠度试验程序。于进入温度相关可靠度试验前的调试期间，控制单元基于温度相关可靠度试验程序用以读取及评估调试温度，其中调试温度是由温度感测器感测而得；并依据调试温度调整射频装置的至少一电性参数，以决定满足温度相关可靠度试验的温度条件的电性参数。借此，有利于温度相关可靠度试验中保护射频装置。相关可靠度试验中保护射频装置。相关可靠度试验中保护射频装置。

【技术实现步骤摘要】
射频装置温度相关可靠度试验系统及其方法


[0001]本揭示内容是有关于一种射频装置温度相关可靠度试验系统及其方法，且特别是有关于进入温度相关可靠度试验前的调试期间调整射频装置参数的射频装置温度相关可靠度试验系统及其方法。

技术介绍

[0002]随着科技的进步以及无线通信产品的普及，人们对于射频(Radio Frequency，RF)装置的要求日益提高，遂而射频装置的可靠度试验也日益严苛。
[0003]在众多射频装置的温度相关可靠度试验中，举例而言，高温工作寿命试验(High Temperature Operating Life Test，HTOL)目的为通过高温环境使射频装置、模块或元件加速老化来评估失效率，通常是让射频装置以最大操作功率运行在最高环境温度，但不能超过射频装置的元件设计极限而毁损。试验过程中除需尽可能维持整个环境的一致性，同时需完整监控射频装置(即试验中的待测件、待测样品)状态，特别是工作温度。
[0004]再者，在正式进入高温工作寿命试验前，需要预定义各项参数，如烤箱温度，射频装置运行参数(例如射频功率、频段、本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种射频装置温度相关可靠度试验系统，其特征在于，用以供一射频装置执行一温度相关可靠度试验，该射频装置温度相关可靠度试验系统包含：一温控腔室，用以容置该射频装置；至少一温度感测器，设置于该温控腔室的内部；以及一控制单元，包含一处理器及一存储媒体，其中该存储媒体提供一温度相关可靠度试验程序，该控制单元用以通信连接该温控腔室、该温度感测器及该射频装置中各个；其中，于进入该温度相关可靠度试验前的一调试期间，该控制单元基于该温度相关可靠度试验程序用以：读取及评估一调试温度，其中该调试温度是由该温度感测器感测而得；以及依据该调试温度调整该射频装置的至少一电性参数，以决定满足该温度相关可靠度试验的一温度条件的该电性参数。2.如权利要求1所述的射频装置温度相关可靠度试验系统，其特征在于，该温度相关可靠度试验为一高温工作寿命试验，该温控腔室为一烤箱，该电性参数为一发射功率。3.如权利要求1所述的射频装置温度相关可靠度试验系统，其特征在于，该至少一温度感测器为安装于该温控腔室的一腔体，或是该至少一温度感测器为与该腔体分离且用以接触该射频装置。4.如权利要求1所述的射频装置温度相关可靠度试验系统，其特征在于，于进入该温度相关可靠度试验前的该调试期间，该控制单元基于该温度...

【专利技术属性】
技术研发人员：曾其诚，
申请(专利权)人：环旭电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：