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一种射频装置温度相关可靠度试验系统，用以供射频装置执行温度相关可靠度试验，射频装置温度相关可靠度试验系统包含温控腔室、至少一温度感测器及控制单元。控制单元包含处理器及存储媒体，其中存储媒体提供温度相关可靠度试验程序。于进入温度相关可靠度试验...
该专利属于环旭电子股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过环旭电子股份有限公司授权不得商用。

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