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本发明公开了一种自动化浪涌试验和电性参数测试系统及方法，它涉及半导体测试技术领域。系统包括工业电脑、电性参数测试仪、水银开关盒和浪涌发生器，工业电脑通过电性参数测试仪通信线缆与电性参数测试仪连接，电性参数测试仪经由电性参数测试线与水银开关盒...
该专利属于深圳市高特微电子有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳市高特微电子有限公司授权不得商用。

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