【技术实现步骤摘要】
程序刻录装置及其电流保护检测方法
[0001]本案涉及一种程序刻录装置及其电流保护检测方法，尤其涉及一种可判断电流保护是否正常的程序刻录装置及其电流保护检测方法。
技术介绍
[0002]在现有技术中，传统的程序刻录装置，需要仰赖外部的制具对控制器进行刻录，且外部的制具都会搭配辅助的独立组件(例如：电流传感器、霍尔传感器等)。为了节省空间，越来越多的整合性产品将辅助的独立组件、程序刻录装置及控制器整合在一起。然而，这样的整合性产品多在硬件异常(例如外部马达故障)时才会触发过电流保护电路动作，而在正常情况下过电流保护电路并无作用。因此，在长期使用后，若过电流保护电路出现异常，亦无法及时察觉，导致在硬件发生故障时过电流保护电路无法产生作用。
[0003]因此，如何发展一种可改善上述现有技术的程序刻录装置及其电流保护检测方法来检测过电流保护电路的状况，实为目前迫切的需求。
技术实现思路
[0004]本案的目的在于提供一种程序刻录装置及其电流保护检测方法，其可主动对过电流保护电路进行测试，以确保过电流保护电路正常运作。
[0005]为达上述目的，本案提供一种程序刻录装置，用于对程序刻录接口进行读取或写入，其中程序刻录装置包括微处理器、编程驱动电路及过电流保护电路。微处理器用以输出第一测试信号或第二测试信号，其中第一测试信号具有高电压电平，且第二测试信号具有低电压电平。微处理器控制编程驱动电路输出高驱动电压或低驱动电压给程序刻录接口。过电流保护电路耦接第一及第二测试信号，以通过微处理器来触发过电流...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种程序刻录装置，用于对程序刻录接口进行读取或写入，其中所述程序刻录装置包括：微处理器，用以输出第一测试信号或第二测试信号，其中所述第一测试信号具有高电压电平，且所述第二测试信号具有低电压电平；编程驱动电路，通过所述微处理器的控制，输出高驱动电压或低驱动电压给所述程序刻录接口；以及过电流保护电路，耦接所述第一测试信号及第二测试信号，以通过所述微处理器来触发过电流保护或低电流保护；其中在所述编程驱动电路输出所述低驱动电压达到预定时间后，所述编程驱动电路输出所述高驱动电压，使得所述程序刻录接口形成高阻抗；其中在所述程序刻录接口形成所述高阻抗之后，所述过电流保护电路接收所述第一测试信号以触发所述过电流保护，且在触发所述过电流保护之后，所述过电流保护电路接收所述第二测试信号以触发所述低电流保护；其中如果连续触发所述过电流保护及所述低电流保护失败的次数超过预定次数，则所述微处理器判断电流保护失效。2.根据权利要求1所述的程序刻录装置，其中如果连续触发所述过电流保护及所述低电流保护失败的次数低于所述预定次数，则所述微处理器判断所述电流保护正常。3.根据权利要求2所述的程序刻录装置，其中当所述微处理器判断所述电流保护正常时，所述微处理器控制所述编程驱动电路对所述程序刻录接口进行读取或写入。4.根据权利要求1所述的程序刻录装置，其中所述编程驱动电路包括：电压调整器，包括阴极端、阳极端及参考端，其中所述阳极端连接接地电压，且所述参考端提供参考电压；NPN型晶体管，其中所述NPN型晶体管的集极端耦接高电压源，且所述NPN型晶体管的基极端耦接所述阴极端；第一电阻，其中所述第一电阻的第一端连接所述NPN型晶体管的射极端以形成所述编程驱动电路的驱动输出端，且所述第一电阻的第二端连接所述参考端；第二电阻，其中所述第二电阻的第一端连接所述参考端，且所述第二电阻的第二端连接所述接地电压；第三电阻，其中所述第三电阻的第一端连接所述参考端；以及场效晶体管，其中所述场效晶体管的漏极端连接所述第三电阻的第二端，且所述场效晶体管的源极端连接所述接地电压，且所述场效晶体管的栅极端耦接所述微处理器。5.根据权利要求4所述的程序刻录装置，其中所述编程驱动电路经由所述驱动输出端提供所述高驱动电压或所述低驱动电压给所述程序刻录接口。6.根据权利要求5所述的程序刻录装置，其中所述微处理器导通所述场效晶体管时，所述编程驱动电路经由所述驱动输出端提供所述高驱动电压；其中当所述程序刻录接口接收到所述高驱动电压时，所述微处理器对所述程序刻录接口读取或写入数据。7.根据权利要求5所述的程序刻录装置，其中所述微处理器截止所述场效晶体管时，所述编程驱动电路经由所述驱动输出端提供所述低驱动电压；
其中当所述程序刻录接口接收到所述低驱动电压时，所述微处理器读取来自所述程序刻录...
【专利技术属性】
技术研发人员：赵国亨，庄家翔，赵铭仁，
申请(专利权)人：台达电子工业股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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