光谱测量用样品的封装方法技术

本发明专利技术提供了一种光谱测量用样品的封装方法，包括：先用去离子水对第一透光衬底和第二透光衬底进行清洗；接着依次以去离子水和有机溶剂分别作为清洗剂并利用超声波清洗机对所述第一透光衬底和所述第二透光衬底进行超声清洗；之后用干燥气体吹干第一透光衬底和第二透光衬底；再之后吸取样品溶液滴在第一透光衬底的第一表面的中心，摇晃第一透光衬底以使样品溶液平铺在第一透光衬底的第一表面；跟着将第一透光衬底放在加热台上加热，以使第一表面的所述样品溶液中的溶剂完全蒸发留下溶质部分；再跟着将第二透光衬底覆盖在第一透光衬底的溶质部分之上制得光谱测量用样品。本发明专利技术的封装方法操作容易，样品分布均匀，且可以在真空环境中测试。真空环境中测试。真空环境中测试。

【技术实现步骤摘要】
光谱测量用样品的封装方法


[0001]本专利技术涉及光谱测量
，尤其涉及一种光谱测量用样品的封装方法。

技术介绍

[0002]光谱测量是最常用的分析测试方法之一，广泛应用于材料科学、生命科学、物理学、化学等领域。随着光谱分析仪器的迅速普及与应用，其测试样品的范围不断扩大。对于粉末样品的光谱测试，需要对样品进行预处理，然后放在光谱分析仪器样品架上进行光谱分析测试。对于粉末样品的预处理，本专利技术提供了一种快速可靠低成本的粉末封装技术，便于对粉末样品进行光谱分析测试。
[0003]目前对于粉末样品的光谱分析测试预处理方法，有方案是通过采用特定的样品架放置粉末样品，但这种方法针对性强，不适用于一般的粉末样品，且需要特制样品架，成本相对较高；有方案是直接将粉末样品放置在石英片上，这种方法无法保证粉末样品均匀分布，且无法在真空环境下对样品进行测试；有方案是将粉末样品压片后进行测试，这种方法可能对样品有损伤，不适用于一般粉末样品。
[0004]因此，现有技术还有待于改进和发展。

技术实现思路

[0005]本专利技术的主要目的旨在提供一种对样品几乎无损伤，可以使样品在衬底上均匀分布，并且封装后的样品可以在真空环境中进行测试的样品封装方法。
[0006]本专利技术提供了一种光谱测量用样品的封装方法，所述封装方法包括：
[0007]提供第一透光衬底和第二透光衬底；
[0008]用去离子水对所述第一透光衬底和所述第二透光衬底进行清洗；
[0009]接着以去离子水作为清洗剂并利用超声波清洗机对所述第一透光衬底和所述第二透光衬底进行超声清洗；
[0010]再接着以有机溶剂作为清洗剂并利用超声波清洗机对所述第一透光衬底和所述第二透光衬底进行超声清洗；
[0011]之后用干燥气体吹干所述第一透光衬底和所述第二透光衬底；
[0012]再之后吸取样品溶液滴在所述第一透光衬底的第一表面的中心，摇晃所述第一透光衬底以使所述样品溶液平铺在所述第一透光衬底的所述第一表面；
[0013]跟着将所述第一透光衬底以所述第一表面朝上放在加热台上加热，以使所述第一表面的所述样品溶液中的溶剂完全蒸发留下溶质部分；
[0014]再跟着将所述第二透光衬底覆盖在所述第一透光衬底的所述溶质部分之上制得光谱测量用样品。
[0015]在本专利技术一种可选的实施方式中，所述用去离子水对所述第一透光衬底和所述第二透光衬底进行清洗的方式可以是冲洗或刷洗。
[0016]在本专利技术一种可选的实施方式中，所述接着以去离子水作为清洗剂并利用超声波
清洗机对所述第一透光衬底和所述第二透光衬底进行超声清洗包括：
[0017]将去离子水清洗过后的所述第一透光衬底和所述第二透光衬底放入盛有去离子水的烧杯中，随后将盛有去离子水的所述烧杯放入超声波清洗机的清洗槽中，超声震荡10
‑
20min。
[0018]在本专利技术一种可选的实施方式中，所述再接着以有机溶剂作为清洗剂并利用超声波清洗机对所述第一透光衬底和所述第二透光衬底进行超声清洗包括：
[0019]首先，从盛有去离子水的超声波清洗机的清洗槽中取出所述第一透光衬底和所述第二透光衬底；将所述第一透光衬底和所述第二透光衬底放入盛有丙酮的烧杯中，随后将盛有丙酮的所述烧杯放入超声波清洗机的清洗槽中，超声震荡10
‑
20min；
[0020]其次，从盛有丙酮的超声波清洗机的清洗槽中取出所述第一透光衬底和所述第二透光衬底；再将所述第一透光衬底和所述第二透光衬底放入盛有乙醇的烧杯中，随后将盛有乙醇的所述烧杯放入超声波清洗机的清洗槽中，超声震荡10
‑
20min；
[0021]然后，从盛有乙醇的超声波清洗机的清洗槽中取出所述第一透光衬底和所述第二透光衬底；再将所述第一透光衬底和所述第二透光衬底放入盛有异丙醇的烧杯中，随后将盛有异丙醇的所述烧杯放入超声波清洗机的清洗槽中，超声震荡10
‑
20min。
[0022]在本专利技术一种可选的实施方式中，所述之后用干燥气体吹干所述第一透光衬底和所述第二透光衬底包括：
[0023]从盛有异丙醇的所述烧杯中取出所述第一透光衬底和所述第二透光衬底；
[0024]用氮气吹干所述第一透光衬底和所述第二透光衬底。
[0025]在本专利技术一种可选的实施方式中，所述摇晃所述第一透光衬底以使所述样品溶液平铺在所述第一透光衬底的所述第一表面包括：
[0026]用镊子夹住所述第一透光衬底，将所述第一透光衬底向各个方向倾斜，使所述样品溶液均匀覆盖在所述第一透光衬底的所述第一表面。
[0027]在本专利技术一种可选的实施方式中，所述封装方法还包括:
[0028]利用胶带围绕所述第二透光衬底的边缘将所述光谱测量用样品粘贴到样品架上。
[0029]在本专利技术一种可选的实施方式中，其特征在于，所述第一透光衬底和所述第二透光衬底为石英衬底、蓝宝石衬底、氧化硅衬底或有机薄膜衬底。
[0030]有益效果：本专利技术提供了一种光谱测量用样品的封装方法，包括：先用去离子水对第一透光衬底和第二透光衬底进行清洗；接着依次以去离子水和有机溶剂分别作为清洗剂并利用超声波清洗机对所述第一透光衬底和所述第二透光衬底进行超声清洗；之后用干燥气体吹干第一透光衬底和第二透光衬底；再之后吸取样品溶液滴在第一透光衬底的第一表面的中心，摇晃第一透光衬底以使样品溶液平铺在第一透光衬底的第一表面；跟着将第一透光衬底放在加热台上加热，以使第一表面的所述样品溶液中的溶剂完全蒸发留下溶质部分；再跟着将第二透光衬底覆盖在第一透光衬底的溶质部分之上制得光谱测量用样品。本专利技术的封装方法操作容易，样品分布均匀，且可以在真空环境中测试。
附图说明
[0031]图1为本专利技术一种光谱测量用样品的封装方法的一个实施例示意图；
[0032]图2为固定于样品架上的经过封装处理的粉末碳点样品在经历一次抽真空后(10
‑
5
mbar)的实物图；
[0033]图3为固定于样品架上的未经过封装处理的粉末碳点样品在经历一次抽真空后(10
‑5mbar)的实物图；
[0034]图4为在真空环境下测试得到的没有经过封装的粉末碳点样品(E1)、经过封装的粉末碳点样品(E2)，以及仅有双层衬底(E0)得到的太赫兹时域光谱组合图。
具体实施方式
[0035]本专利技术实施例提供了一种光谱测量用样品的封装方法。本专利技术的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”、“第三”、“第四”[0036]等(如果存在)是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便这里描述的实
[0037]施例能够以除了在这里图示或描述的内容以外的顺序实施。此外，术语“包5括”或“具有”及其任何变形，意图在于覆盖不排他的包含，例如，包含了
[0038]一系列步骤或单本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种光谱测量用样品的封装方法，其特征在于，所述封装方法包括：提供第一透光衬底和第二透光衬底；用去离子水对所述第一透光衬底和所述第二透光衬底进行清洗；接着以去离子水作为清洗剂并利用超声波清洗机对所述第一透光衬底和所述第二透光衬底进行超声清洗；再接着以有机溶剂作为清洗剂并利用超声波清洗机对所述第一透光衬底和所述第二透光衬底进行超声清洗；之后用干燥气体吹干所述第一透光衬底和所述第二透光衬底；再之后吸取样品溶液滴在所述第一透光衬底的第一表面的中心，摇晃所述第一透光衬底以使所述样品溶液平铺在所述第一透光衬底的所述第一表面；跟着将所述第一透光衬底以所述第一表面朝上放在加热台上加热，以使所述第一表面的所述样品溶液中的溶剂完全蒸发留下溶质部分；再跟着将所述第二透光衬底覆盖在所述第一透光衬底的所述溶质部分之上制得光谱测量用样品。2.根据权利要求1所述的光谱测量用样品的封装方法，其特征在于，所述用去离子水对所述第一透光衬底和所述第二透光衬底进行清洗的方式可以是冲洗或刷洗。3.根据权利要求2所述的光谱测量用样品的封装方法，其特征在于，所述接着以去离子水作为清洗剂并利用超声波清洗机对所述第一透光衬底和所述第二透光衬底进行超声清洗包括：将去离子水清洗过后的所述第一透光衬底和所述第二透光衬底放入盛有去离子水的烧杯中，随后将盛有去离子水的所述烧杯放入超声波清洗机的清洗槽中，超声震荡10
‑
20min。4.根据权利要求3所述的光谱测量用样品的封装方法，其特征在于，所述再接着以有机溶剂作为清洗剂并利用超声波清洗机对所述第一透光衬底和所述第二透光衬底进行超声清洗包括：首先，从盛有去离子水的超声波清洗机的清洗槽中取出所述第一透光衬底和所述第二透光衬底；将所述第一透光衬底和所述第...

【专利技术属性】
技术研发人员：徐文，温华，李浩文，
申请(专利权)人：深圳网联光仪科技有限公司，
类型：发明
国别省市：