一种面向跨芯片互连的并行数据在线校准系统及校准方法技术方案

本发明专利技术公开了一种面向跨芯片互连的并行数据在线校准系统及校准方法，涉及多片网络领域，包括设置有辅助校准片间接口的辅助校准裸芯，以及设置有可校准片间接口的可校准裸芯；辅助校准片间接口中设置有测试数据生成器；可校准片间接口中设置有重校准间隔计时器、测试数据检查器和片间互联修复器；辅助校准裸芯还包括至少一个其他片间接口，可校准片间接口与其所在裸芯中的至少一个其他片间接口之间设置有绕行输出通道。本发明专利技术可以在线检测LVDS并行数据跨片传输是否存在故障并根据实际情况对故障进行修复。本发明专利技术可以避免跨芯片互连电路因温度、电压降和老化等因素引发网络级故障，从而能够实时增强多片上网络跨芯片互连的可靠性。可靠性。可靠性。

【技术实现步骤摘要】
一种面向跨芯片互连的并行数据在线校准系统及校准方法


[0001]本专利技术涉及多片网络领域，具体涉及一种面向跨芯片互连的并行数据在线校准系统及校准方法。

技术介绍

[0002]在高性能计算和大数据应用的背景下，系统架构师需要不断在给定的功率范围内集成更多内核、加速器和内存。而随着集成电路工艺的发展进入后摩尔时代，电子及物理的限制让半导体先进制程的持续微缩与升级难度越来越高。继续通过单芯片实现大型系统的方案必然面临着良率大幅降低、设计和掩模成本急剧增加等问题。将传统的单芯片设计方案改成多芯片进行设计，并利用高速接口进行互连或利用先进封装工艺进行集成的方案成为更优的选择。LVDS(Low Voltage Differential Signaling)是一种低摆幅的差分信号技术，具有低功耗、低误码率、低串扰和低辐射等优点，可满足跨裸芯之间的高速互连需求。
[0003]芯片磨损和环境变化等物理因素可能会导致片间互连组件的电路级故障。例如，老化可能增加片间链路的传输延迟从而导致片间并行数据采样错误，而温度的变化也可能引起电压电流的波形从而引发逻辑本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种面向跨芯片互连的并行数据在线校准系统，其特征在于，包括设置有辅助校准片间接口的辅助校准裸芯，以及设置有可校准片间接口的可校准裸芯；辅助校准片间接口中设置有测试数据生成器；可校准片间接口中设置有重校准间隔计时器、测试数据检查器和片间互联修复器；辅助校准裸芯还包括至少一个其他片间接口，可校准片间接口与其所在裸芯中的至少一个其他片间接口之间设置有绕行输出通道；在辅助校准片间接口和可校准片间接口之间设置有正常通道和测试通道，正常通道包括正常输入通道和正常输出通道，测试通道包括测试输入通道和测试输出通道；正常通道，与片间LVDS通道相连，用于传输正常数据包；测试通道，与片间LVDS通道相连，用于传输测试数据包；绕行输出通道，用于在校准过程中传输辅助校准裸芯中的正常数据包；重校准间隔计时器，用于在计时溢出时，通过其所在的片间接口向辅助校准裸芯发送重校准请求，并使其该片间接口管制位于该片间接口中的正常通道；测试数据生成器，用于在接收到重校准请求时生成测试数据包，使其所在的片间接口管制位于该片间接口中的正常通道；测试数据检查器，用于对测试数据包进行采样，获取LVDS链路的传输状况；片间互连修复器，用于根据LVDS链路的传输状况对LVDS各通道的延时和/或传输方案进行调整，实现LVDS并行数据校准；并在校准结束后使其所在的片间接口、产生测试数据包的片间接口恢复正常状态。2.一种应用于权利要求1所述的面向跨芯片互连的并行数据在线校准系统的校准方法，其特征在于，包括以下步骤：S1、当可校准片间接口的重校准间隔计时器检测到计时溢出时，通过可校准片间接口向辅助校准裸芯发送重校准请求；S2、使可校准片间接口和辅助校准片间接口均进入排空状态，管制传输重校准请求的LVDS通道涉及区域的正常数据包：暂停可校准片间接口和辅助校准片间接口向下游裸芯发送新的正常数据包，继续发送片间已部分传输的正常数据包，直至传输重校准请求的LVDS通道涉及区域的正常数据包被清空；S3、使可校准片间接口和辅助校准片...

【专利技术属性】
技术研发人员：黄乐天，魏敬和，桂江华，何甜，陈颖芃，鞠虎，李杨，何健，韩玉洁，
申请(专利权)人：中国电子科技集团公司第五十八研究所，
类型：发明
国别省市：