发光二极管的亮度值测试方法和测试装置制造方法及图纸

本公开提供了一种发光二极管的亮度值测试方法和测试装置，该亮度值测试方法包括：点亮n个发光二极管，n≥3，且n为整数，并检测所述n个发光二极管的第一总亮度值；使所述n个发光二极管中的m个发光二极管被点亮，n

【技术实现步骤摘要】
发光二极管的亮度值测试方法和测试装置


[0001]本公开涉及光电子制造
，特别涉及一种发光二极管的亮度值测试方法和测试装置。

技术介绍

[0002]发光二极管(英文：Light Emitting Diode，简称：LED)作为光电子产业中极具影响力的新产品，具有体积小、使用寿命长、颜色丰富多彩、能耗低等特点，广泛应用于照明、显示屏、信号灯、背光源、玩具等领域。
[0003]由于发光二极管尺寸越做越小，单颗发光二极管的发光强度也随之下降，在任意小电流下测试时，由于发光微弱，发光强度不足，会出现难以测试出发光二极管的亮度值的问题。

技术实现思路

[0004]本公开实施例提供了一种发光二极管的亮度值测试方法和测试装置，能在小电流下测试出各发光二极管的亮度值。所述技术方案如下：
[0005]本公开实施例提供了一种发光二极管的亮度值测试方法，所述亮度值测试方法包括：点亮n个发光二极管，n≥3，且n为整数，并检测所述n个发光二极管的第一总亮度值；使所述n个发光二极管中的m个发光二极管被点亮，n
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m个发光二极管熄灭，m＜n，且m≥2，并检测所述m个发光二极管的第二总亮度值；将所述第一总亮度值和所述第二总亮度值的差值，确定为熄灭的所述n
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m个发光二极管的亮度值。
[0006]在本公开实施例的一种实现方式中，m≤n
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1。
[0007]在本公开实施例的另一种实现方式中，所述使所述n个发光二极管中的m个发光二极管被点亮，nr/>‑
m个发光二极管熄灭，包括：熄灭所述n个发光二极管中的第1个发光二极管，点亮剩余的n
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1个发光二极管，检测点亮的发光二极管的总亮度，得到第1个第二总亮度值；熄灭所述n个发光二极管中的第i个发光二极管，2≤i≤n
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1，且i为整数，点亮剩余的n
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1个发光二极管，检测点亮的发光二极管的总亮度，得到第i个第二总亮度值，直至获取第n
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1个第二总亮度值。
[0008]在本公开实施例的另一种实现方式中，所述将所述第一总亮度值和所述第二总亮度值的差值，确定为熄灭的所述n
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m个发光二极管的亮度值包括：将所述第一总亮度值和第1个所述第二总亮度值的差值，确定为第1个所述发光二极管的亮度值；将所述第一总亮度值和第i个所述第二总亮度值的差值，确定为第i个所述发光二极管的亮度值；在所述第一总亮度值中扣除第1个至第i个发光二极管的所述第二总亮度值之和，得到第n个发光二极管的亮度值。
[0009]在本公开实施例的另一种实现方式中，所述使所述n个发光二极管中的m个发光二极管被点亮，n
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m个发光二极管熄灭，包括：熄灭所述n个发光二极管中的第1个发光二极管，点亮剩余的n
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1个发光二极管，检测点亮的发光二极管的总亮度，得到第1个第二总亮度值；
熄灭所述n个发光二极管中的第j个发光二极管，2≤j≤n，且为整数，点亮剩余的n
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1个发光二极管，检测点亮的发光二极管的总亮度，得到第j个第二总亮度值，直至获取第n个第二总亮度值。
[0010]在本公开实施例的另一种实现方式中，所述将所述第一总亮度值和所述第二总亮度值的差值，确定为熄灭的所述n
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m个发光二极管的亮度值包括：将所述第一总亮度值和第1个所述第二总亮度值的差值，确定为第1个所述发光二极管的亮度值；将所述第一总亮度值和第j个所述第二总亮度值的差值，确定为第j个所述发光二极管的亮度值。
[0011]本公开实施例提供了一种发光二极管的亮度值测试装置，所述亮度值测试装置包括：检测模块，用于点亮n个发光二极管，n≥3，且n为整数，并检测所述n个发光二极管的第一总亮度值；使所述n个发光二极管中的m个发光二极管被点亮，n
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m个发光二极管熄灭，m＜n，且m≥2，并检测所述m个发光二极管的第二总亮度值；确定模块，用于将所述第一总亮度值和所述第二总亮度值的差值，确定为熄灭的所述n
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m个发光二极管的亮度值。
[0012]在本公开实施例的另一种实现方式中，m≤n
‑1[0013]在本公开实施例的另一种实现方式中，所述检测模块还用于熄灭所述n个发光二极管中的第1个发光二极管，点亮剩余的n
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1个发光二极管，检测点亮的发光二极管的总亮度，得到第1个第二总亮度值；熄灭所述n个发光二极管中的第i个发光二极管，2≤i≤n
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1，且i为整数，点亮剩余的n
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1个发光二极管，检测点亮的发光二极管的总亮度，得到第i个第二总亮度值，直至获取第n
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1个第二总亮度值。
[0014]在本公开实施例的另一种实现方式中，所述检测模块还用于熄灭所述n个发光二极管中的第1个发光二极管，点亮剩余的n
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1个发光二极管，检测点亮的发光二极管的总亮度，得到第1个第二总亮度值；熄灭所述n个发光二极管中的第j个发光二极管，2≤j≤n，且为整数，点亮剩余的n
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1个发光二极管，检测点亮的发光二极管的总亮度，得到第j个第二总亮度值，直至获取第n个第二总亮度值。
[0015]本公开实施例提供的技术方案带来的有益效果至少包括：
[0016]本公开实施例提供的发光二极管的亮度值测试方法，首先，点亮n个发光二极管，并得到该数量的发光二极管的第一总亮度值；然后，点亮m个的发光二极管，并让n
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m个发光二极管熄灭，并得到该数量的发光二极管的第二总亮度值；由于m小于n，且点亮的m个的发光二极管是n个发光二极管中的一部分，因此，通过在第一总亮度值中扣除第二总亮度值，就可以得到熄灭的n
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m个发光二极管的亮度值。相较于相关技术，该亮度值测试方法不用单独测试各个发光二极管的亮度值，避免单独测试时因发光二极管的发光强度差，而难以测试出亮度值的问题，实现在小电流下测试出各发光二极管的亮度值的目的。
附图说明
[0017]为了更清楚地说明本公开实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本公开的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0018]图1是本公开实施例提供的一种发光二极管的亮度值测试方法的流程图；
[0019]图2是本公开实施例提供的一种发光二极管的测试环境示意图；
[0020]图3是本公开实施例提供的另一种发光二极管的亮度值测试方法的流程图；
[0021]图4是本公开实施例提供的另一种发光二极管的亮度值测试方法的流程图；
[0022]图5是本公开实施例提供的一种发光二极管的亮度值测试装置；
[0023]图6是本公开实施例提供的一种计算机设备的结构框图。
具体实施方本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种发光二极管的亮度值测试方法，其特征在于，所述亮度值测试方法包括：点亮n个发光二极管，n≥3，且n为整数，并检测所述n个发光二极管的第一总亮度值；使所述n个发光二极管中的m个发光二极管被点亮，n
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m个发光二极管熄灭，m＜n，且m≥2，并检测所述m个发光二极管的第二总亮度值；将所述第一总亮度值和所述第二总亮度值的差值，确定为熄灭的所述n
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m个发光二极管的亮度值。2.根据权利要求1所述的亮度值测试方法，其特征在于，m≤n
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1。3.根据权利要求1所述的亮度值测试方法，其特征在于，所述使所述n个发光二极管中的m个发光二极管被点亮，n
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m个发光二极管熄灭，包括：熄灭所述n个发光二极管中的第1个发光二极管，点亮剩余的n
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1个发光二极管，检测点亮的发光二极管的总亮度，得到第1个第二总亮度值；熄灭所述n个发光二极管中的第i个发光二极管，2≤i≤n
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1，且i为整数，点亮剩余的n
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1个发光二极管，检测点亮的发光二极管的总亮度，得到第i个第二总亮度值，直至获取第n
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1个第二总亮度值。4.根据权利要求3所述的亮度值测试方法，其特征在于，所述将所述第一总亮度值和所述第二总亮度值的差值，确定为熄灭的所述n
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m个发光二极管的亮度值包括：将所述第一总亮度值和第1个所述第二总亮度值的差值，确定为第1个所述发光二极管的亮度值；将所述第一总亮度值和第i个所述第二总亮度值的差值，确定为第i个所述发光二极管的亮度值；在所述第一总亮度值中扣除第1个至第i个发光二极管的所述第二总亮度值之和，得到第n个发光二极管的亮度值。5.根据权利要求1所述的亮度值测试方法，其特征在于，所述使所述n个发光二极管中的m个发光二极管被点亮，n
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m个发光二极管熄灭，包括：熄灭所述n个发光二极管中的第1个发光二极管，点亮剩余的n
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1个发光二极管，检测点亮的发光二极管的总亮度，得到第1个第二总亮度值；熄灭所述n个发光二极管中的第j个发光二极管，2≤j≤n，且为整数，点亮剩余的n
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【专利技术属性】
技术研发人员：顾新宇，陈建南，
申请(专利权)人：华灿光电苏州有限公司，
类型：发明
国别省市：