制冷设备及其化霜方法、装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种制冷设备及其化霜方法、装置。制冷设备的化霜方法包括：获取间室的实际降温速率；确定所述实际降温速率与参考降温速率的比对结果，进行化霜。该制冷设备的化霜方法通过获取间室的参考降温速率以及间室的实际降温速率，并将参考降温速率与实际降温速率进行比对，根据具体的比对结果判断是否进行化霜，使得该化霜方法不需要额外增加新的传感器，仅在控制逻辑上进行改进即可实现对于是否进行化霜的判断，不仅仅降低了判断是否化霜的控制成本，该化霜方法还具有简单易行、可靠性高的优点。高的优点。高的优点。

【技术实现步骤摘要】
制冷设备及其化霜方法、装置


[0001]本专利技术涉及化霜
，尤其涉及一种制冷设备及其化霜方法、装置。

技术介绍

[0002]制冷设备中的厚冰霜会影响冰箱的热交换效率，从而影响制冷设备的制冷能力、保鲜能力，也会使得制冷设备更加耗电。
[0003]以冰箱为例，在相关技术中，针对冰箱的化霜的控制方法主要包括以下两种方式：
[0004]根据冰箱所处环境的环境参数来固定化霜的时间间隔，每次开门均会减少化霜的时间间隔，化霜完成后，时间重置。这种控制方式难以匹配现实中的各种情况。
[0005]或者，通过检测霜层厚度来确定化霜的启停，但是这样需要添加额外的传感器，成本较高。

技术实现思路

[0006]本专利技术旨在至少解决相关技术中存在的技术问题之一。为此，本专利技术提出一种制冷设备的化霜方法，能够降低制冷设备化霜的成本，提高制冷设备化霜时的可靠性。
[0007]本专利技术还提出一种制冷设备的化霜装置。
[0008]本专利技术还提出一种制冷设备。
[0009]本专利技术还提出一种电子设备。
[0010]本专利技术还提出一种非暂态计算机可读存储介质。
[0011]本专利技术第一方面实施例提供一种制冷设备的化霜方法，包括：
[0012]获取间室的实际降温速率；
[0013]确定所述实际降温速率与参考降温速率的比对结果，进行化霜。
[0014]根据本专利技术第一方面实施例提供的制冷设备的化霜方法，通过获取间室的参考降温速率以及间室的实际降温速率，并将参考降温速率与实际降温速率进行比对，根据具体的比对结果判断是否进行化霜，使得该化霜方法不需要额外增加新的传感器，仅在控制逻辑上进行改进即可实现对于是否进行化霜的判断，不仅仅降低了判断是否化霜的控制成本，该化霜方法还具有简单易行、可靠性高的优点。
[0015]根据本专利技术的一个实施例，在所述获取间室的实际降温速率的步骤之前，还包括：
[0016]获取所述间室的参考降温速率。
[0017]根据本专利技术的一个实施例，所述获取所述间室的参考降温速率的步骤，包括：
[0018]获取所述间室由初始温度至目标温度的第一降温时长；
[0019]所述获取所述间室的实际降温速率的步骤，包括：
[0020]获取所述间室由所述初始温度至所述目标温度的第二降温时长；
[0021]所述确定所述实际降温速率与参考降温速率的比对结果，进行化霜的步骤，包括：
[0022]确定所述第二降温时长与所述第一降温时长的差值大于预设降温时长差值，进行化霜。
[0023]根据本专利技术的一个实施例，所述获取所述间室的参考降温速率的步骤，包括：
[0024]在预设时长内，基于所述间室的初始温度以及降温后的第一检测温度，获取所述间室的第一温度差值；
[0025]所述获取所述间室的实际降温速率的步骤，包括：
[0026]在预设时长内，基于所述间室的初始温度以及降温后的第二检测温度，获取所述间室的第二温度差值；
[0027]所述确定所述实际降温速率与参考降温速率的比对结果，进行化霜的步骤，包括：
[0028]确定所述第一温度差值与所述第二温度差值的差值大于预设温度差值，进行化霜。
[0029]根据本专利技术的一个实施例，所述获取所述间室的参考降温速率的步骤，还包括：
[0030]将所述间室回温至初始温度，基于所述间室的环境温度，确定压缩机的预定转速。
[0031]根据本专利技术的一个实施例，所述基于所述间室的环境温度，以预定转速调整压缩机的转速的步骤，还包括：
[0032]确定所述间室的环境温度的实际波动值大于预设波动值，调整所述压缩机的预定转速。预设时长预设时长
[0033]本专利技术第二方面实施例提供一种制冷设备的化霜装置，包括：
[0034]获取模块，用于获取间室的实际降温速率；
[0035]确定模块，用于确定所述实际降温速率与参考降温速率的比对结果，进行化霜。
[0036]根据本专利技术第二方面实施例提供的制冷设备的化霜装置，通过设置获取模块以获取间室的参考降温速率，通过设置确定模块以将参考降温速率与实际降温速率进行比对，根据具体的比对结果判断是否进行化霜，使得该化霜装置不需要额外增加新的传感器，仅在控制逻辑上进行改进即可实现对于是否进行化霜的判断，不仅仅降低了判断是否化霜的控制成本，该化霜方法还具有简单易行、可靠性高的优点。将其应用于冰箱等制冷设备上，能够简化冰箱等制冷设备的化霜控制逻辑，提高冰箱等制冷设备的化霜控制精度。
[0037]本专利技术第三方面实施例提供一种制冷设备，包括：
[0038]处理器，所述处理器执行计算机程序时实现上述的制冷设备的化霜方法的步骤；
[0039]温度传感器，用于获取间室的实际降温速率；
[0040]所述处理器基于所述实际降温速率与参考降温速率的比对结果，进行化霜。
[0041]根据本专利技术第三方面实施例提供的制冷设备，通过处理器实现上述的制冷设备的化霜方法，使得该制冷设备不需要额外增加新的传感器，仅在控制逻辑上进行改进即可实现对于是否进行化霜的判断，不仅仅降低了判断是否化霜的控制成本，该制冷设备的化霜能力还得到了有效的保证，提高了制冷设备的化霜控制精度。
[0042]本专利技术第四方面实施例提供一种电子设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述程序时实现上述的制冷设备的化霜方法的步骤。
[0043]本专利技术第五方面实施例提供一种非暂态计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该计算机程序被处理器执行时实现上述的制冷设备的化霜方法的步骤。
[0044]本专利技术实施例中的上述一个或多个技术方案，至少具有如下技术效果之一：
[0045]根据本专利技术第一方面实施例提供的制冷设备的化霜方法，通过获取间室的参考降
温速率以及间室的实际降温速率，并将参考降温速率与实际降温速率进行比对，根据具体的比对结果判断是否进行化霜，使得该化霜方法不需要额外增加新的传感器，仅在控制逻辑上进行改进即可实现对于是否进行化霜的判断，不仅仅降低了判断是否化霜的控制成本，该化霜方法还具有简单易行、可靠性高的优点。
[0046]进一步地，根据本专利技术第二方面实施例提供的制冷设备的化霜装置，通过设置获取模块以获取间室的参考降温速率，通过设置确定模块以将参考降温速率与实际降温速率进行比对，根据具体的比对结果判断是否进行化霜，使得该化霜装置不需要额外增加新的传感器，仅在控制逻辑上进行改进即可实现对于是否进行化霜的判断，不仅仅降低了判断是否化霜的控制成本，该化霜方法还具有简单易行、可靠性高的优点。将其应用于冰箱等制冷设备上，能够简化冰箱等制冷设备的化霜控制逻辑，提高冰箱等制冷设备的化霜控制精度。
[0047]进一步地，根据本专利技术第三方面实施例提供的制冷设备，通过处理器实现上述的制冷设备的化霜方法，使得该制冷设备不需要额外增加新的传感器本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种制冷设备的化霜方法，其特征在于，包括：获取间室的实际降温速率；确定所述实际降温速率与参考降温速率的比对结果，进行化霜。2.根据权利要求1所述的制冷设备的化霜方法，其特征在于，在所述获取间室的实际降温速率的步骤之前，还包括：获取所述间室的参考降温速率。3.根据权利要求2所述的制冷设备的化霜方法，其特征在于，所述获取所述间室的参考降温速率的步骤，包括：获取所述间室由初始温度至目标温度的第一降温时长；所述获取所述间室的实际降温速率的步骤，包括：获取所述间室由所述初始温度至所述目标温度的第二降温时长；所述确定所述实际降温速率与参考降温速率的比对结果，进行化霜的步骤，包括：确定所述第二降温时长与所述第一降温时长的差值大于预设降温时长差值，进行化霜。4.根据权利要求2所述的制冷设备的化霜方法，其特征在于，所述获取所述间室的参考降温速率的步骤，包括：在预设时长内，基于所述间室的初始温度以及降温后的第一检测温度，获取所述间室的第一温度差值；所述获取所述间室的实际降温速率的步骤，包括：在预设时长内，基于所述间室的初始温度以及降温后的第二检测温度，获取所述间室的第二温度差值；所述确定所述实际降温速率与参考降温速率的比对结果，进行化霜的步骤，包括：确定所述第一温度差值与所述第二温度差值的差值大于预设温度差值，进行化霜。5.根据权利要求2至4中任一项所述的制冷设备的化霜方法，其特征在于，所...

【专利技术属性】
技术研发人员：王晋东，王一鸣，逯兆栋，李伟，文佳佳，顾昕，王宇，李智强，高志谦，
申请(专利权)人：合肥华凌股份有限公司美的集团股份有限公司，
类型：发明
国别省市：