一种基于椭圆弯晶的X射线吸收谱仪制造技术

本发明专利技术公开了一种基于椭圆弯晶的X射线吸收谱仪，包括光源、待测样品、狭缝、探测器和椭圆弯晶；所述椭圆弯晶的反射面为椭圆柱面或者椭球面；所述光源的出光口的光出射点位于椭圆的第一焦点F1上，所述狭缝位于椭圆的第二焦点F2上；入射光线被椭圆弯晶反射后的出射光线在椭圆的第二焦点F2处聚焦；所述待测样品位于光路上；第二焦点F2处聚焦的光束穿过狭缝，经过狭缝后的光束由探测器探测得到光束的光谱。本发明专利技术的基于椭圆弯晶的X射线吸收谱仪，具有提高了光谱分辨率、一次获得全谱且能谱范围宽、弯晶谱仪整体尺寸小且结构紧凑等优点。弯晶谱仪整体尺寸小且结构紧凑等优点。弯晶谱仪整体尺寸小且结构紧凑等优点。

【技术实现步骤摘要】
一种基于椭圆弯晶的X射线吸收谱仪


[0001]本专利技术涉及光谱测量领域，特别是涉及一种基于椭圆弯晶的X射线吸收谱仪。

技术介绍

[0002]晶体是由原子(或离子、分子)在空间进行周期地排列而构成的固体物质，具有三维空间的周期性。由于X射线波长与晶体的晶格间距接近，晶体可以衍射X射线，实现单色。将晶体压弯制成弯曲晶体(简称弯晶)元件，可以实现X射线的分光和聚焦。
[0003]XAFS(X
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ray Absorption Fine Structure，即X射线吸收精细结构)，通过X射线对样品进行探测进而获取样品的光谱信息，实现对样品的原子结构和电子结构的分析研究。因此，XAFS技术在催化、能源电池和材料等研究领域中得到广泛应用。然而，现阶段XAFS光谱基本都需要在同步辐射装置上获取。稀缺的同步辐射机时严重限制了XAFS在科学领域和产业中的应用需求。
[0004]近几年，基于实验室光源的XAFS谱仪得到快速的发展，而目前的XAFS谱仪通常采用罗兰圆结构，X射线光源、弯晶、样品都布置在罗兰圆上。X射线光源出射的X射线本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基于椭圆弯晶的X射线吸收谱仪，其特征在于，包括光源(1)、待测样品(2)、狭缝(3)、探测器(4)和椭圆弯晶(5)；所述椭圆弯晶(5)的反射面为椭圆柱面或者椭球面；所述光源(1)的出光口的光出射点位于椭圆的第一焦点F1上，所述狭缝(3)位于椭圆的第二焦点F2上；入射光线被椭圆弯晶(5)反射后的出射光线在椭圆的第二焦点F2处聚焦；所述待测样品(2)位于光路上；第二焦点F2处聚焦的光束穿过狭缝(3)，经过狭缝(3)后的光束由探测器(4)探测得到光束的光谱。2.根据权利要求1所述的基于椭圆弯晶的X射线吸收谱仪，其特征在于，所述待测样品(2)置于光源(1)的出射点前方；入射光线通过待测样品(2)后照射到椭圆弯晶(5)上。3.根据权利要求1所述的基于椭圆弯晶的X射线吸收谱仪，其特征在于，所述待测样品(2)置于光源(1)的狭缝(3)之前；出射光...

【专利技术属性】
技术研发人员：申锦，陈祚磊，邢立娜，朱宁，
申请(专利权)人：安徽创谱仪器科技有限公司，
类型：发明
国别省市：