【技术实现步骤摘要】
基于多级常温富集技术的分析装置和方法
[0001]本专利技术涉及色谱技术，特别涉及基于多级常温富集技术的分析装置和方法。
技术介绍
[0002]气体中痕量物质的含量较低，直接检测对仪器检出限的要求很高，一般需要对样品进行前处理。现技术多为低温冷阱吸附浓缩技术，利用吸附剂在低温下对轻组分吸附能力强的特性，对气体样品中痕量组分进行浓缩富集，然后快速加热使组分快速脱附。这种方案的不足在于：
[0003]1.低温冷阱技术需要制冷，其能耗较大，对技术的要求较高，大大增加技术成本；
[0004]2.在常温下进行一次富集，其吸附效率较低，检出限较高，在现有的常温多次富集技术中，采用的一通道技术，在进行热脱附时其传输路线较长或较宽，将造成热脱附组分峰展宽严重，在进行下一级吸附富集时不易富集完全。
技术实现思路
[0005]为解决上述现有技术方案中的不足，本专利技术提供了一种基于多级常温富集技术的分析装置。
[0006]本专利技术的目的是通过以下技术方案实现的：
[0007]基于多级常温富集技术...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.基于多级常温富集技术的分析装置，所述基于多级常温富集技术的分析装置包括富集单元、加热单元和分析单元；其特征在于，所述富集单元具有第一进口、第二进口、第一出口和第二出口，样气连通所述第一进口，载气连通所述第二进口；所述富集单元具有串联的多级，上一级富集单元的第二出口连通下一级富集单元的第一进口，最后一级富集单元的第二出口连通所述分析单元。2.根据权利要求1所述的基于多级常温富集技术的分析装置，其特征在于，所述富集单元内包括并联的多个富集通道，填料设置在所述富集通道内。3.根据权利要求1所述的基于多级常温富集技术的分析装置，其特征在于，所述富集单元无需制冷模块。4.根据权利要求1所述的基于多级常温富集技术的分析装置，其特征在于，所述基于多级常温富集技术的分析装置还包括：风扇，所述...
【专利技术属性】
技术研发人员：刘秋芳，王琳琳，刘立鹏，李天麟，洪沅，傅佳沣，董亚楠，
申请(专利权)人：杭州谱育科技发展有限公司，
类型：发明
国别省市：
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