【技术实现步骤摘要】
绝缘材料与铜箔剥离强度的测试装置和测试方法
[0001]本申请涉及软性铜箔测试技术,具体涉及一种绝缘材料与铜箔剥离强度的测试装置和测试方法。
技术介绍
[0002]现有对FCCL即软性铜箔基材中绝缘材料与铜箔间进行剥离强度测试时,通常需要进行制作线路。制作线路的流程为:FCCL材料裁切、贴干膜、线路曝光、线路显影和线路蚀刻。因此在制作线路的湿制程中,易产生水的污染,对于污染管控严格的区域,是不容许在厂区进行制作线路的工艺的。当需要对绝缘材料与铜箔间进行剥离测试时,需要委外检测,不仅检测费用高,而且检测周期长,严重影响产品生产或研发的进程。
技术实现思路
[0003]为了克服上述缺陷,本申请提供一种绝缘材料与铜箔剥离强度的测试装置,利用该测试装置对绝缘材料层与铜箔层进行剥离强度测试过程中,不会产生任何污染,因此不需要委外检测,提高了测试效率。
[0004]本申请为了解决其技术问题所采用的技术方案是:
[0005]一种绝缘材料与铜箔剥离强度的测试装置,包括裁切治具、裁切刀具和剥离强度测试设备,所述裁切治具上设有若干测试条框,所述裁切刀具包括箱体以及安装于所述箱体内的刀片,裁切时,所述裁切治具压合于软性铜箔基材上,所述软性铜箔基材包括绝缘材料层以及压合于所述绝缘材料层上的铜箔层,所述刀片贴合所述测试条框的内侧壁而将软性铜箔基材上的铜箔层切断而得到铜箔测试条,所述剥离强度测试设备用于将所述铜箔测试条从所述绝缘材料层上剥离下来,从而测出所述铜箔层与所述绝缘材料层之间的剥离强度。
[000 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种绝缘材料与铜箔剥离强度的测试装置,其特征在于:包括裁切治具(10)、裁切刀具(20)和剥离强度测试设备,所述裁切治具(10)上设有若干测试条框,所述裁切刀具(20)包括箱体(21)以及安装于所述箱体(21)内的刀片(23),裁切时,所述裁切治具(10)压合于软性铜箔基材(30)上,所述软性铜箔基材(30)包括绝缘材料层(32)以及压合于所述绝缘材料层(32)上的铜箔层(31),所述刀片(23)贴合所述测试条框的内侧壁而将软性铜箔基材(30)上的铜箔层(31)切断而得到铜箔测试条,所述剥离强度测试设备用于将所述铜箔测试条从所述绝缘材料层(32)上剥离下来,从而测出所述铜箔层(31)与所述绝缘材料层(32)之间的剥离强度。2.根据权利要求1所述的绝缘材料与铜箔剥离强度的测试装置,其特征在于:所述裁切治具(10)为不锈钢材料制备而成的方形的裁切治具,所述裁切治具(1)0的厚度为2
‑
5mm、长度为200
‑
220mm、宽度为60
‑
100mm,所述剥离强度测试设备为万能测试机。3.根据权利要求2所述的绝缘材料与铜箔剥离强度的测试装置,其特征在于:所述测试条框为形成于所述裁切治具(10)上的镂空结构,且所述测试条框为长方形结构,所述测试条框包括第一测试条框(11)和第二测试条框(12),所述裁切治具(10)上设有若干条平行布置的第一测试条框(11)和若干条平行布置的第二测试条框(12),所述第一测试条框(11)的宽度为2.5
±
0.5mm、长度为160
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200mm,所述第二测试条框(12)的宽度为5
±
0.5mm、长度为160
‑
200mm。4.根据权利要求2所述的绝缘材料与铜箔剥离强度的测试装置,其特征在于:相邻两个所述测试条框之间的间距为5
‑
10mm,所述测试条框的上表面进行了磨平处理,所述裁切治具(10)的上表面具有两个平行的长边(13)和两个平行的短边(14),所述长边(13)距离最近的所述测试条框的距离为5
‑
10mm,所述短边(14)距离最近的所述测试条框的距离大于等于10mm。5.根据权利要求1所述的绝缘材料与铜箔剥离强度的测试装置,其特征在于:所述软性铜箔基材(30)为单层铜箔基材或双层铜箔基材,当所述软性铜箔基材(30)为单层铜箔基材时,所述软性铜箔基材(30)包括相互压合的铜箔层(31)和绝缘材料层(32),或者所述软性铜箔基材(30)包括依次贴合的铜箔层(31)、胶层(33)和绝缘材料层(32);当所述软性铜箔基材(30)为双层铜箔基材时,所述软性铜箔基材(30)包括依次贴合的铜箔层(31)、绝缘材料层(32)和铜箔层(31),或者所述软性铜箔基材(30)包括依次贴合的铜箔层(31)、胶层(33)、绝缘材料层(32)、胶层(33)和铜箔层(31)。6.根据权利要求1所...
【专利技术属性】
技术研发人员:徐玮鸿,罗霄,周文贤,
申请(专利权)人:松扬电子材料昆山有限公司,
类型:发明
国别省市:
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