一种测量有机金属纳米银镀层厚度的方法技术

本发明专利技术公开了一种测量有机金属纳米银镀层厚度的测量方法，所述方法包括采用恒电流库仑测量法，以包含磷酸钾和硫氰化钾的水溶液作为电解液进行检测，其中磷酸钾的浓度为200g/L，硫氰化钾的浓度为50g/L。该测量方法具有测量精度高、稳定性好的特性。稳定性好的特性。稳定性好的特性。

【技术实现步骤摘要】
一种测量有机金属纳米银镀层厚度的方法


[0001]本专利技术涉及金属镀层厚度测量，更具体地说涉及一种测量有机金属纳米银镀层厚度的方法。

技术介绍

[0002]目前市场常用金属镀层测厚仪主要是X射线荧光测厚仪和库仑法测厚仪，X射线荧光测量法其缺点是无法分辨金属层和合金层，并且对于十分薄的金属镀层，测量误差很大，且极易受内层金属层的影响，即测量标准片时，测量值误差很小，转换成测量多内层样品时，测量误差很大。库仑法测厚仪可以依次测量不同金属层或合金层，测量误差相对于X射线荧光测量法也精确很多，且不受内层金属影响，但对纳米级厚度的有机金属银，测量偏差较大，因此开发一种测量有机金属纳米银镀层厚度的方法具有十分重要的现实意义。

技术实现思路

[0003]为了解决金属镀层测量行业使用常规X射线荧光测量不够精确的问题，本专利技术一方面的目的是提供一种测量有机金属纳米银镀层厚度的方法，该测量方法精确性好、稳定性强。为实现上述目的，本专利技术采用以下技术方案：
[0004]一种测量有机金属纳米银镀层厚度的方法，该方法包括采用恒电流库仑测量法本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种测量有机金属纳米银镀层厚度的方法，其特征在于，所述方法包括采用恒电流库仑测量法，以包含磷酸钾和硫氰化钾的水溶液作为电解液进行检测，其中磷酸钾的浓度为180～220g/L，硫氰化钾的浓度为40～60g/L。2.根据权利要求1所述的测量有机金属纳米银镀层厚度的方法，其特征在于，电解液中磷酸钾的浓度为190～210g/L，硫氰化钾的浓度为45～55g/L。3.根据权利要求2所述的测量有机金属纳米银镀层厚度的方法，其特征在于，电解液中磷酸钾的浓度为200g/L，硫氰化钾的浓度为50g/L。4.根据权利要求1或2所述的测量有机金属纳米银镀层厚度的方法，其特征在于，检测采用的电极电势E
start
＝
‑
450～
‑
550mV，E1＝
‑
110～
‑
190mV,E2＝160～240mV,E
stop
＝850～950mV。5.根据权利要求4所述的测量有机金属纳米银镀层厚度的方法，其特征在于，检测采用的电极电势E
sta...

【专利技术属性】
技术研发人员：王爱臣，王兴平，王芳，
申请(专利权)人：确信乐思化学上海有限公司，
类型：发明
国别省市：