一种深度检测装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种深度检测装置，包括基准支架；检测仪，安装于基准支架上，检测仪的探测杆贯穿基准支架；校准座，基准支架放置于校准座上，校准座用于校准检测仪。校准座用于校准检测仪。校准座用于校准检测仪。

【技术实现步骤摘要】
一种深度检测装置


[0001]本技术涉及深度检测
，特别涉及一种深度检测装置。

技术介绍

[0002]传统的卡尺在测深度时，局限于测量点到基准点的水平距离需要很近才可测量，其次是测量接触面窄，手持卡尺不平，导致准确度不高，只能粗测。
[0003]另外，深度尺对于深度太深，或测量点到基准点的水平距离较远时，会产生因基准面不平及测杆变形等而导致的测量误差。
[0004]因此，传统的深度测量方式检测效率低下，并且短时间内不能快速出结果，同时，对于处在边角的深度尺寸无法下针测量。

技术实现思路

[0005]本技术旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。为此，本技术提出一种深度检测装置，结构简单实用，可快速测量深度，极大提高了检测效率，提高了检测准确度。
[0006]根据本技术实施例的一种深度检测装置，包括：
[0007]基准支架；
[0008]检测仪，安装于基准支架上，检测仪的探测杆贯穿基准支架；
[0009]校准座，基准支架放置于校准座上，校准座用于校准检测仪。
[0010]根据本技术实施例的一种深度检测装置，至少具有如下有益效果：对于测量点到基准点的水平距离需要很近才可测量的情况，该检测装置有足够长且刚性足够的基准支架，能灵活适应各种距离的测量；同时，每次使用前重新校零，并且校零操作简单；而对于测量效率低及测量位置局限的情况，只要在基准支架长度范围内的水平测量距离，通过水平移动基准支架均可实现测量。
[0011]根据本技术实施例的一种深度检测装置，检测仪包括数显指示表和探测杆，探测杆与数显指示表通过安装座连接。
[0012]根据本技术实施例的一种深度检测装置，安装座包括测杆座和设置于测杆座上的连接座，连接座用于安装数显指示表，测杆座用于安装探测杆。
[0013]根据本技术实施例的一种深度检测装置，探测杆设置有拨杆，拨杆安装于探测杆的杆体上，拨杆的一端穿设于测杆座的滑槽，用户在使用检测装置时，先拇指推动拨杆以将拨杆抬起，待基准支架水平搭在产品的基准面后，找到测量点后，手放开，表上读数即是面距的偏差值，从而可算出该测点深度，可提高测量的准确性。
[0014]根据本技术实施例的一种深度检测装置，拨杆与探测杆为可拆卸连接。
[0015]根据本技术实施例的一种深度检测装置，校准座包括底座和设置于底座上的套筒，套筒的容纳腔用于容纳探测杆。
[0016]根据本技术实施例的一种深度检测装置，套筒顶部平面、底座的底面、基准支
架的底面均处于同一平行面，确保检测的准确度。
[0017]根据本技术实施例的一种深度检测装置，探测杆与检测仪为可拆卸连接，便于用户根据实际情况更换相应长度的探测杆，确保检测的准确度。
[0018]根据本技术实施例的一种深度检测装置，基准支架设置有基准面，检测仪的底面与基准面连接，检测仪的底面的边界不超出基准面的边界，目的在于基准支架和检测仪有足够接触面积，保证测量的稳定。
[0019]本技术的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本技术的实践了解到。
附图说明
[0020]本技术的上述和/或附加的方面和优点从结合下面附图对实施例的描述中将变得明显和容易理解，其中：
[0021]图1为本技术实施例的一种深度检测装置的结构示意图；
[0022]图2为本技术实施例的一种深度检测装置的结构示意图；
[0023]图3为本技术实施例的一种深度检测装置的正视图；
[0024]图4为本技术实施例的一种深度检测装置的工作示意图。
[0025]附图标记说明：
[0026]基准支架1；基准面1
‑
1；
[0027]检测仪2；数显指示表2
‑
1；探测杆2
‑
2；拨杆2
‑
3；
[0028]校准座3；底座3
‑
1；套筒3
‑
2；容纳腔3
‑
3；
[0029]安装座4；测杆座4
‑
1；连接座4
‑
2；滑槽4
‑
3；
[0030]工件5。
具体实施方式
[0031]下面详细描述本技术的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，仅用于解释本技术，而不能理解为对本技术的限制。
[0032]在本技术的描述中，需要理解的是，涉及到方位描述，例如上、下、前、后、左、右等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本技术的限制。
[0033]在技术的描述中，若干的含义是一个或者多个，多个的含义是两个以上，大于、小于、超过等理解为不包括本数，以上、以下、以内等理解为包括本数。如果有描述到第一、第二只是用于区分技术特征为目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量或者隐含指明所指示的技术特征的先后关系。
[0034]本技术的描述中，除非另有明确的限定，设置、安装、连接等词语应做广义理解，所属
技术人员可以结合技术方案的具体内容合理确定上述词语在本技术中的具体含义。
[0035]参照图1和图4，本技术实施例提供了一种深度检测装置，包括基准支架1；检测仪2，安装于基准支架1上，检测仪2的探测杆2
‑
2贯穿基准支架1；校准座，基准支架1放置于校准座上，校准座用于校准检测仪2。对于测量点到基准点的水平距离需要很近才可测量的情况，该检测装置有足够长且刚性足够的基准支架1，能灵活适应各种距离的测量；同时，每次使用前重新校零，并且校零操作简单；而对于测量效率低及测量位置局限的情况，只要在基准支架1长度范围内的水平测量距离，通过水平移动基准支架1均可实现测量。
[0036]根据本申请的一些实施例，检测仪2包括数显指示表2
‑
1和探测杆2
‑
2，探测杆2
‑
2与数显指示表2
‑
1通过安装座4连接。
[0037]根据本申请的一些实施例，安装座4包括测杆座4
‑
1和设置于测杆座4
‑
1上的连接座4
‑
2，连接座4
‑
2用于安装数显指示表2
‑
1，测杆座4
‑
1用于安装探测杆2
‑
2。
[0038]根据本申请的一些实施例，探测杆2
‑
2设置有拨杆2
...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种深度检测装置，其特征在于，包括：基准支架；检测仪，安装于所述基准支架上，所述检测仪的探测杆贯穿所述基准支架；校准座，所述基准支架放置于所述校准座上，所述校准座用于校准所述检测仪。2.根据权利要求1所述的一种深度检测装置，其特征在于，所述检测仪包括数显指示表和探测杆，所述探测杆与所述数显指示表通过安装座连接。3.根据权利要求2所述的一种深度检测装置，其特征在于，所述安装座包括测杆座和设置于所述测杆座上的连接座，所述连接座用于安装所述数显指示表，所述测杆座用于安装所述探测杆。4.根据权利要求3所述的一种深度检测装置，其特征在于，所述探测杆设置有拨杆，所述拨杆安装于所述探测杆的杆体上，所述拨杆的一端穿设于所述测...

【专利技术属性】
技术研发人员：林春峰，牟海鹏，
申请(专利权)人：广东鸿特精密技术台山有限公司，
类型：新型
国别省市：