背散射检查设备制造技术

本公开提供了一种背散射检查设备，用于对被检物进行辐射检查，包括：箱体，具有出束侧面；射线发生装置，设置于箱体上，被配置为朝向箱体的出束侧面发射笔形射线束以扫描位于出束侧面外侧的被检物；和探测装置，被配置为接收被检物散射的背散射射线，包括第一探测部和一个以上第二探测部，第一探测部位于出束侧面处并具有用于接收背散射射线的第一探测表面，第二探测部具有用于接收背散射射线的第二探测表面，其中，至少一个第二探测部位于箱体的顶部或底部。该背散射检查设备利于改善该被检物的位于出束侧面的探测部顶端或底端之外部分扫描图像的效果。分扫描图像的效果。分扫描图像的效果。

【技术实现步骤摘要】
背散射检查设备


[0001]本公开涉及辐射检查设备
，特别涉及一种背散射检查设备。

技术介绍

[0002]在辐射检查设备
，背散射检查设备用于对被检物1进行辐射检查。相关技术的背散射检查设备的原理性结构示意图如图1和图2所示，主要包括箱体2和背散射成像系统。背散射成像系统包括射线发生装置4和探测装置3，以及包括未图示的电源、信号处理装置、电气控制装置、计算机等。图1中仅展示了背散射检查设备的箱体2及位于箱体2内部的射线发生装置4和探测装置3，省略了背散射检查设备的用于承载箱体2的底盘和背散射成像系统中射线发生装置4和探测装置3以外的其它组成部分。
[0003]如图1所示，该背散射检查设备的背散射成像系统中，射线发生装置4能够产生笔形射线束7，并且能够改变笔形射线束7的方向，图1中标记5所指示的两条点划线标明了笔形射线束7的出射角度范围。探测装置3用于接收笔形射线束7被照射到被检物体1后散射的背散射射线6。其中，探测装置3和射线发生装置4位于箱体2内，探测装置3位于箱体2的笔形射线束7的出束侧面。射线背散射检查设备的背散射成像系统的其它组成部分可以全部或部分位于箱体2内。
[0004]背散射检查设备对被检物1进行辐射检查时，某个时刻笔形射线束7从射线发生装置4中射出，在被检物1上发生散射，其中部分背散射射线6进入探测装置3产生输出信号，经过信号处理装置的信号处理及数据采集系统，记录此时刻该信号的大小。改变笔形射线束7的出射方向，在下一时刻获取下一个位置的背散射射线6的信号。依此类推实现对被检物1的第一个部位的扫描。改变被检物1与箱体2的相对位置，对被检物1执行前述扫描过程，实现对被检物1的第二个部位的扫描。直到完成对被检物1的全部扫描过程。
[0005]如图1和图2所示，在背散射检查设备对被检物1执行检查时，如果被检物1的高度超过探测装置3顶端，当笔形射线束7照射被检物1中位于探测装置3顶端之上的部分(如图1所示中点划线框8所示区域)的某个位置时(如图2所示)，由于探测装置3对于该位置的张角(如图2中600所示)较小，所以背散射射线6中只有较少的部分能够进入探测装置3，造成背散射成像系统对于被检物1中高于探测装置3顶部的部分的成像质量较差。如果要提升对被检物1中位于探测装置3的顶端之外的部分的探测效果，就需要向上延长探测装置3的长度，这样就增加背散射成像系统的尺寸。当被检物1的底端的高度低于探测装置3的底端时，也存在类似的问题。

技术实现思路

[0006]本公开的目的在于提供一种背散射检查装置，旨在改善被检物的位于出束侧面的探测部顶端或底端之外部分扫描图像的效果。
[0007]本公开第一方面提供一种背散射检查设备，用于对被检物进行辐射检查，包括：
[0008]箱体，具有出束侧面；
[0009]射线发生装置，设置于所述箱体上，被配置为朝向所述箱体的所述出束侧面发射笔形射线束以扫描位于所述出束侧面外侧的所述被检物；和
[0010]探测装置，被配置为接收所述被检物散射的背散射射线，包括第一探测部和一个以上第二探测部，所述第一探测部位于所述出束侧面处并具有用于接收所述背散射射线的第一探测表面，所述第二探测部具有用于接收所述背散射射线的第二探测表面，其中，至少一个所述第二探测部位于所述箱体的顶部或底部。
[0011]在一些实施例的背散射检查设备中，
[0012]所述第一探测部相对于所述箱体固定设置或可动地设置；和/或
[0013]至少一个所述第二探测部相对于所述箱体固定设置，和/或至少一个所述第二探测部相对于所述箱体可动地设置。
[0014]在一些实施例的背散射检查设备中，
[0015]所述第一探测部位于所述箱体内部或外部；和/或
[0016]至少一个所述第二探测部位于所述箱体内部，和/或至少一个所述第二探测部位于所述箱体外部。
[0017]在一些实施例的背散射检查设备中，至少一个所述第二探测部位于所述箱体的顶部，所述箱体的顶壁包括开合部，所述开合部具有闭合位置和打开位置，在所述闭合位置，所述箱体的顶部封闭，位于所述箱体的顶部的所述第二探测部位于所述箱体的内部，在所述打开位置，所述箱体的顶部开放，所述第二探测部暴露。
[0018]在一些实施例的背散射检查设备中，至少一个所述第二探测部的所述第二探测表面具有多个工作位置。
[0019]在一些实施例的背散射检查设备中，至少一个所述第二探测部可平移和/或可转动地设置以改变其第二探测表面的工作位置。
[0020]在一些实施例的背散射检查设备中，至少一个所述第二探测部的所述第二探测表面具有与所述第一探测表面垂直的第一工作位置和/或具有相对于水平面和所述第一探测表面均倾斜的第二工作位置和/或具有与所述第一探测表面平行或共面的第三工作位置。
[0021]在一些实施例的背散射检查设备中，至少一个所述第二探测部的所述第二探测表面包括多个探测区域，所述多个探测区域中至少一个探测区域与其它所述探测区域的相对位置可变地设置。
[0022]在一些实施例的背散射检查设备中，至少一个所述第二探测部的所述第二探测表面的面积可变地设置。
[0023]在一些实施例的背散射检查设备中，面积可变的所述第二探测表面可伸缩，和/或可折叠，和/或至少部分探测区域可屏蔽，和/或至少部分探测区域的输出信号可切断。
[0024]在一些实施例的背散射检查设备中，所述背散射检查设备为背散射检查车。
[0025]基于本公开提供的背散射检查设备，相比于相关技术的背散射检查设备而言，增设了第二探测部，至少一个第二探测部位于箱体2的顶部或底部。相关技术的背散射检查设备中，探测装置一般都布置于背散射检查设备的朝向被检物的一侧，即出束侧面所在的一侧，以接收从该出束侧面入射的背散射射线。对于被检物中位于相关技术的探测装置(对应于本公开实施例的第一探测部)的顶端或底端之外的部分散射回来的射线，相关技术的探测装置只有很小的接收角度，能收到的背散射射线较少，较大的影响对被检物中位于探测
装置顶端或底端之外的部分的成像质量。本公开的背散射检查设备在背散射检查设备的箱体顶部或底部增加第二探测部，增加了对被检物中位于相关技术的探测装置顶端或底端之外的部分散射回来的射线的接收角度范围，能收到更多的背散射射线，从而提高探测器输出信号的信噪比，改善该被检物的位于出束侧面的探测部顶端或底端之外部分扫描图像的效果。通过以下参照附图对本公开的示例性实施例的详细描述，本公开的其它特征及其优点将会变得清楚。
附图说明
[0026]此处所说明的附图用来提供对本公开的进一步理解，构成本申请的一部分，本公开的示意性实施例及其说明用于解释本公开，并不构成对本公开的不当限定。在附图中：
[0027]图1为相关技术的背散射检查设备的射线发生装置输出的笔形射线束在某一出束角度时检查被检物时的原理性结构示意图，其中示出了背散射检查设备的箱体、射线发生装置和探测器以及被检物。
[002本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种背散射检查设备，用于对被检物(1)进行辐射检查，其特征在于，包括：箱体(2)，具有出束侧面(21)；射线发生装置(4)，设置于所述箱体(2)上，被配置为朝向所述箱体(2)的所述出束侧面(21)发射笔形射线束(7)以扫描位于所述出束侧面(21)外侧的所述被检物(1)；和探测装置，被配置为接收所述被检物(1)散射的背散射射线，包括第一探测部(31)和一个以上第二探测部(32)，所述第一探测部(31)位于所述出束侧面(21)处并具有用于接收所述背散射射线的第一探测表面(311)，所述第二探测部(32)具有用于接收所述背散射射线的第二探测表面(321)，其中，至少一个所述第二探测部(32)位于所述箱体(2)的顶部或底部。2.根据权利要求1所述的背散射检查设备，其特征在于，所述第一探测部(31)相对于所述箱体(2)固定设置或可动地设置；和/或至少一个所述第二探测部(32)相对于所述箱体(2)固定设置，和/或至少一个所述第二探测部(32)相对于所述箱体(2)可动地设置。3.根据权利要求1所述的背散射检查设备，其特征在于，所述第一探测部(31)位于所述箱体(2)内部或外部；和/或至少一个所述第二探测部(32)位于所述箱体(2)内部，和/或至少一个所述第二探测部(32)位于所述箱体(2)外部。4.根据权利要求1所述的背散射检查设备，其特征在于，至少一个所述第二探测部(32)位于所述箱体(2)的顶部，所述箱体(2)的顶壁包括开合部，所述开合部具有闭合位置和打开位置，在所述闭合位置，所述箱体(2)的顶部封闭，位于所述箱体(2)...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈志强，吴万龙，沈宗俊，桑斌，周奕，丁先利，唐乐，曹硕，丁光伟，
申请(专利权)人：同方威视技术股份有限公司，
类型：发明
国别省市：