电容到过孔导线长度检查系统及方法技术方案

本发明专利技术提供一种电容到过孔导线长度检查方法，该方法包括步骤：从数据库中获取ＰＣＢ上的所有电容及所有电容的ＰＩＮ脚；从获取的电容及电容的ＰＩＮ脚中选择欲检查的电容及其ＰＩＮ脚，并选择检查标准；从数据库中获取过孔的位置及欲检查的电容的位置；根据获取的过孔的位置及欲检查的电容的位置，计算得到所述电容到过孔的导线长度；根据计算得到的导线长度及选择的检查标准，判断所述电容到过孔的导线长度是否合格；及根据上述判断输出检查结果。本发明专利技术还提供一种电容到过孔导线长度检查系统。利用该电容到过孔导线长度检查系统及方法，能够快速准确地检查电容到过孔的导线长度。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种电容到过孔导线长度检査系统及方法。技术背景印刷电路板(Printed Circuit Board, PCB)是电子产品中电路元件的支撑件，它提供 了电路元件之间的电气连接。其将元件与元件之间复杂的电路导线，经过细致整齐的规划后 ，蚀刻在一块板子上，提供电子元件在安装与互连时的主要支撑体，是所有电子产品不可或 缺的基础零件。印刷电路板是以不导电材料所制成的平板，在板面上印制有导线以连接电子元件。将所 述电子元件的PIN脚(引脚)穿过PCB后，再以导电性的金属焊条黏附在PCB上形成电路。依应用领域，PCB可分为单层板和多层板(包括两层或以上)。随着技术的发展，多层 PCB得到越来越多的应用。过孔(via)是多层PCB的重要组成部分，尤其是体积小且密度高 的PCB。过孔的使用随之带来了寄生电感(equivalent serial inductance, ESL即等效串连电 感)，寄生电感阻碍了电容迅速响应电流变化的能力，进而造成低频电源噪声或者高频电磁 干扰。寄生电感由电流环(PIN脚一电容一过孔一GND (地)一PIN脚)所产生，其与所述电 流环的面积成一定比例，因此控制所述电流环的面积可以有效地控制寄生电感，而检査电容 到过孔(即电容一过孔)的导线长度是控制所述电流环的面积的重要手段。传统方法一般采用人工检査电容到过孔的导线长度，相当费时费力，且难以保持检査结 果的准确性。
技术实现思路
鉴于以上内容，有必要提供一种电容到过孔导线长度检査系统，其可快速准确地检査电 容到过孔的导线长度。鉴于以上内容，还有必要提供一种电容到过孔导线长度检査方法，其可快速准确检査电 容到过孔的导线长度。一种电容到过孔导线长度检査系统，该系统包括主机和数据库，该数据库存储有PCB的 信息，所述PCB的信息包括过孔及其位置、电容及其位置、电容的PIN脚，其特征在于，所述 的主机包括获取模块，用于从数据库中获取PCB上的所有电容及所有电容的PIN脚；选择模块，用于从获取的电容及电容的PIN脚中选择欲检査的电容及其PIN脚，并选择检査标准；所 述的获取模块还用于从数据库中获取过孔的位置及欲检査的电容的位置；计算模块，用于根 据获取的过孔的位置及欲检査的电容的位置，计算得到所述电容到过孔的导线长度；判断模 块，用于根据计算得到的导线长度及选择的检査标准，判断所述电容到过孔的导线长度是否 合格；及输出模块，用于根据上述判断输出检査结果。一种电容到过孔导线长度检査方法，该方法包括以下步骤(a)从数据库中获取PCB上 的所有电容及所有电容的PIN脚；(b)从获取的电容及电容的PIN脚中选择欲检査的电容及 其PIN脚，并选择检査标准；(C)从数据库中获取过孔的位置及欲检査的电容的位置；(d )根据获取的过孔的位置及欲检査的电容的位置，计算得到所述电容到过孔的导线长度；( e)根据计算得到的导线长度及选择的检査标准，判断所述电容到过孔的导线长度是否合格 ;(f)根据上述判断输出检査结果。所述电容到过孔导线长度检査系统及方法，能够快速准确地检査电容到过孔的导线长度 ，以有效地控制所述电流环的面积，进而可以控制寄生电感，降低寄生电感带来的低频电源 噪声或者高频电磁干扰。附图说明图l是本专利技术电容到过孔导线长度检査系统较佳实施例的硬件架构图。 图2是图1中主机的功能模块图。图3是本专利技术电容到过孔导线长度检査方法较佳实施例的作业流程图。图4是检査结果较佳实施例的示意图。具体实施方式参阅图1所示，是本专利技术电容到过孔导线长度检査系统较佳实施例的硬件架构图。该系 统的硬件架构主要包括输入装置(包括键盘12以及鼠标14)、显示器16、主机10以及数据 库18。其中，所述数据库18存储有PCB的信息。所述PCB的信息包括了PCB上所有元件的信息， 如过孔及其位置、电容及其位置、电容的PIN脚(如'GND—VDD' 、'GND—VREF'、' GND—POWER')等。所述输入装置可以用来输入或修改所述PCB的信息。所述显示器16提供图形化用户界面(Graphic User Interface, GUI)配合输入装置的 输入操作。显示器16还用于显示本专利技术电容到过孔导线长度检査系统的检査结果。所述主机10可以是IBM架构的计算机(IBM Personal Computer, IBM PC) 、 Apple公司的Mac PC、个人计算机、网络服务器，还可以是任意其它适用的计算机。参阅图2示，是图l中主机的功能模块图。本专利技术所称的模块是完成特定功能的计算机程 序段，比程序更适合于描述软件在计算机中的执行过程，因此本专利技术对软件的描述都以模块 描述。所述主机10包括获取模块300、选择模块301、计算模块302、判断模块303及输出模块304。其中，所述获取模块300用于从数据库18中获取PCB上的所有电容及所有电容的PIN脚。 所述选择模块301用于从上述获取的电容及电容的PIN脚中，选择欲检査的电容及其PIN 脚。其中，选择模块301可以一次选择一个欲检査的电容，也可以一次选择多个欲检査的电 容。选择模块301还用于选择检査标准。其中，所述检査标准即是允许的电容到过孔的导线 长度的最大值，超过所述检査标准的电容到过孔的导线长度即为不合格。在本较佳实施例中 ，允许的电容到过孔的导线长度的最大值可以为50mils、 100mils、 200mils、 300mils或者 500mils，其中，lmils为千分之一英寸，该值是可扩充的，还可以再多加入800mils及 1000mils，最常见的导线长度的最大值为50mils。所述获取模块300还用于从数据库18中获取过孔的位置，及根据选择的欲检査的电容获 取所述电容的位置。所述计算模块302用于根据获取的过孔的位置及欲检査的电容的位置，计算得到所述电 容到过孔的导线长度。所述判断模块303用于根据计算得到的导线长度及上述选择的检査标准，判断所述电容 到过孔的导线长度是否合格。具体而言，判断模块303将计算得到的导线长度与上述选择的 检査标准进行比较若计算得到的导线长度不大于上述选择的检査标准，则判断模块303判 定所述电容到过孔的导线长度合格；否则，若计算得到的导线长度大于上述选择的检査标准 ，则判断模块303判定所述电容到过孔的导线长度不合格。所述输出模块304用于输出判断模块303的检査结果，所述检査结果指判断模块303对所 述电容到过孔的导线长度的检査结果，主要为合格或不合格。在本较佳实施例中，输出模块 304以报表的形式输出所述检査结果。为了使本系统具有更强的可操作性和交互性，所述的判断模块303还用于提示用户是否 继续检査。参阅图3所示，是本专利技术电容到过孔导线长度检査方法较佳实施例的作业流程图。 步骤S400，首先需要进行一些准备步骤获取模块300从数据库18中获取PCB上的所有电容及所有电容的PIN脚。步骤S401，选择模块301从上述获取的电容及电容的PIN脚中，选择欲检査的电容及其 PIN脚。其中，可以一次选择一个欲检査的电容，也可以一次选择多个欲检査的电容。而后 ，选择模块301选择检査标准，所述检査标准即是允许的电容到过孔的导线长度的最大值， 超过所述检査标准的电容到过孔的导线本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种电容到过孔导线长度检查系统，该系统包括主机和数据库，该数据库存储有ＰＣＢ的信息，所述ＰＣＢ的信息包括过孔及其位置、电容及其位置、电容的ＰＩＮ脚，其特征在于，所述的主机包括：获取模块，用于从数据库中获取ＰＣＢ上的所有电容及所有电容的ＰＩＮ脚；选择模块，用于从获取的电容及电容的ＰＩＮ脚中选择欲检查的电容及其ＰＩＮ脚，并选择检查标准；所述的获取模块还用于从数据库中获取过孔的位置及欲检查的电容的位置；计算模块，用于根据获取的过孔的位置及欲检查的电容的位置，计算得到所述电容到过孔的导线长度；判断模块，用于根据计算得到的导线长度及选择的检查标准，判断所述电容到过孔的导线长度是否合格；及输出模块，用于根据上述判断输出检查结果。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：许寿国，萧俊山，
申请(专利权)人：鸿富锦精密工业深圳有限公司，鸿海精密工业股份有限公司，
类型：发明
国别省市：94[中国|深圳]