一种测量地层孔隙度的中子测井方法、系统和电子设备技术方案

本发明专利技术涉及中子测井技术领域，尤其涉及一种测量地层孔隙度的中子测井方法、系统和电子设备，方法包括：建立用于表征地层孔隙度、地层密度和热中子计数比之间关系的地层孔隙度模型；将待测井的目标地层的热中子计数比和待测井的目标地层的地层密度代入地层孔隙度模型，得到待测井的目标地层的地层孔隙度。通过将引入地层密度，提高了目标地层如高孔隙度岩层中的地层孔隙度测量的灵敏度。并且该方法所用的仪器均为本领域常用仪器设备，便于操作、实施和测试。和测试。和测试。

【技术实现步骤摘要】
一种测量地层孔隙度的中子测井方法、系统和电子设备


[0001]本专利技术涉及中子测井
，尤其涉及一种测量地层孔隙度的中子测井方法、系统和电子设备。

技术介绍

[0002]地层孔隙度测量是裸眼井测井中非常重要的一部分。传统的孔隙度测量中，是以Am
‑
Be同位素化学源为放射源。但是这种方法都存在缺点：一方面在测井前/后，需要人工添加/卸载放射源，对操作人员存在辐射危害；另一方面，使用化学源测井时存在井下卡源的危险，一旦打捞失败，就会对环境造成辐射危害。
[0003]随着可控中子源技术的发展以及环保的要求，越来越多的石油公司和相关研究人员开始研究利用可控中子源进行地层孔隙度的测量。但是可控中子源发射的高能中子在地层中的减速长度较使用化学源时长很多，降低了近、远探测器的热中子比值对孔隙度的灵敏性，造成高孔隙度时的测量误差很大，影响了其在油气勘探和开发的应用。因此，必须考虑提高孔隙度测量的灵敏度。
[0004]此外，由于化学源孔隙度测井仪公式简单、刻度系数数量少、而且国内外已有大量的实测数据，因此现有的孔隙度标准刻本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种测量地层孔隙度的中子测井方法，其特征在于，包括：建立用于表征地层孔隙度、地层密度和热中子计数比之间关系的地层孔隙度模型；将待测井的目标地层的热中子计数比和所述待测井的目标地层的地层密度代入地层孔隙度模型，得到所述待测井的目标地层的地层孔隙度。2.根据权利要求1所述的一种测量地层孔隙度的中子测井方法，其特征在于，所述地层孔隙度模型为：其中，表示地层孔隙度，R
t
为热中子计数比，ρ为地层密度，f(R
t
)＝E(R
t
)2+FR
t
+G，A、B、C、D、E、F、G均为刻度系数。3.根据权利要求2所述的一种测量地层孔隙度的中子测井方法，其特征在于，还包括：A、B、C、D、E、F、G的具体值的获取过程，包括：S10、将地层孔隙度中子测井仪器放入所述孔隙度标准刻度井中，测量不同孔隙度的孔隙度标准刻度井中的近热中子探测器计数和远热中子探测器计数，得到不同孔隙度的孔隙度标准刻度井中的地层孔隙度中子测井仪器的近热中子计数和远热中子计数的比值的实验测量值S11、构造不同孔隙度的孔隙度标准刻度井和地层孔隙度中子测井仪器的蒙特卡洛输运模型，通过所述蒙特卡洛输运模型，模拟得到地层孔隙度中子测井仪器的近热中子计数的第一模拟值和远热中子计数的第一模拟值之间的比值S12、建立模拟关系式，所述模拟关系式为：S13、将孔隙度标准刻度井的地层材料按照不同的体积百分比与纯水混合，代入所述蒙特卡洛输运模型中，得到具有新的孔隙度的刻度模拟井，并通过数值模拟得到地层孔隙度中子测井仪器的近热中子计数的第二模拟值和远热中子计数的第二模拟值之间的比值S14、根据所述模拟关系式对进行修正，得到所述刻度模拟井中的地层孔隙度中子测井仪器的修正后的热中子计数比子测井仪器的修正后的热中子计数比子测井仪器的修正后的热中子计数比子测井仪器的修正后的热中子计数比表示新的地层孔隙度；S15、将作为所述地层孔隙度模型中热中子计数比R
t
，将所述标准刻度井的地层密度与孔隙度作为ρ与代入所述地层孔隙度模型，将作为所述地层孔隙度模型中热中子计数比R
t
，将所述孔隙度刻度模拟井的地层密度与孔隙度作为ρ与代入所述地层孔隙度模型，求解得到A、B、C、D、E、F、G的具体值。4.根据权利要求1至3任一项所述的一种测量地层孔隙度的中子测井方法，其特征在于，还包括：通过中子测井仪器测量得到所述待测井的目标地层的热中子计数比。5.一种测量地层孔隙度的中子测井系统，其特征在于，包括模型建立模块和代入计算模块；所述模型建立模块用于：建立用于表征地层孔隙度、地层密度和热中子计数比之间...

【专利技术属性】
技术研发人员：请求不公布姓名，
申请(专利权)人：安徽中科超安科技有限公司，
类型：发明
国别省市：