一种辐射场监测探测点的确定方法、系统、介质及设备技术方案

本发明专利技术属于辐射探测技术领域，尤其涉及一种辐射场监测探测点的确定方法、系统、介质及设备。该方法包括基于辐射场的物理信息以及几何信息计算每个放射源的探测器响应函数；根据每个放射源的探测器响应函数，确定每个放射源在不同空间位置上的品质因子，基于预设条件在所有品质因子中确定至少两个优选探测点；计算任意两个优选探测点之间的相关性因子；利用探测点确认法对相关性因子进行处理，得到最终探测点。本发明专利技术基于品质因子的确定避免布置方案中可能出现的探测器对源响应弱，导致探测器浪费的现象；基于相关性因子的确定避免可能出现的多个探测器对同一放射源响应敏感，无法兼顾到各个放射源的现象。到各个放射源的现象。到各个放射源的现象。

【技术实现步骤摘要】
一种辐射场监测探测点的确定方法、系统、介质及设备


[0001]本专利技术属于辐射探测
，尤其涉及一种辐射场监测探测点的确定方法、系统、介质及设备。

技术介绍

[0002]核辐射探测器利用粒子与物质的相互作用进行辐射测量，在辐射场中往往已知放射源的种类、能量，需要确定放射源的强度。在核设施的辐射场监测中，探测器测量值及其变化可以反映放射源的强度变化，使工作人员能够对全空间辐射场进行实时有效的监控。为了得到精确可靠的源项，探测器的布置十分重要。探测点需对放射源响应灵敏，并尽可能兼顾每个源项，全面地反映不同位置处放射源的变化。清华大学的分析表明，不合适的测量值会导致反演得到的源活度与真实活度值相差一个数量级。而传统的探测器布置依赖于人员经验，缺乏相关的定量分析，无法确保探测点的可靠性，往往造成资源浪费与评估失真。

技术实现思路

[0003]本专利技术所要解决的技术问题是提供一种辐射场监测探测点的确定方法、系统、介质及设备。
[0004]本专利技术解决上述技术问题的技术方案如下：一种辐射场监测探测点的确定方法，包括：...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种辐射场监测探测点的确定方法，其特征在于，包括：步骤1，获取辐射场的物理信息以及几何信息，基于所述物理信息以及所述几何信息计算每个放射源的探测器响应函数；步骤2，根据每个放射源的探测器响应函数，确定每个放射源在不同空间位置上的品质因子，基于预设条件在所有品质因子中确定至少两个优选探测点；步骤3，计算任意两个优选探测点之间的相关性因子；步骤4，利用探测点确认法对相关性因子进行处理，得到最终探测点。2.根据权利要求1所述的一种辐射场监测探测点的确定方法，其特征在于，所述步骤1具体为：获取辐射场的物理信息以及几何信息，根据所述物理信息以及所述几何信息构建全空间粒子输运模型，通过粒子输运程序对所述全空间粒子输运模型进行计算得到每个放射源的探测器响应函数，所述物理信息中包括每个放射源的参数。3.根据权利要求1所述的一种辐射场监测探测点的确定方法，其特征在于，所述步骤2具体为：通过第一公式计算每个放射源在不同空间位置上的品质因子FOM(r)，所述第一公式为：其中，f
i
(r)为放射源S
i
全空间各位置r处的探测器响应函数，N为放射源个数；所述预设条件为：降序排列品质因子，将选取的预设数量的品质因子对应的放射源所对应的空间位置作为优选探测点，基于预设条件在所有品质因子中确定至少两个优选探测点。4.根据权利要求1所述的一种辐射场监测探测点的确定方法，其特征在于，所述步骤3具体为：通过第二公式计算相关因子INC(r1,r2)，所述第二公式为：其中，f
i
(r1)为第i个放射源在r1处的响应函数，f
i
(r2)为第i个放射源在r2处的响应函数。5.根据权利要求1所述的一种辐射场监测探测点的确定方法，其特征在于，所述步骤4具体为：所述探测点确认法为：将相关性因子最大的两个优选探测点作为第一批最终探测点，将剩余所有非第一批最终探测点的优选探测点作为待探测点集，分别计算所述待探测点集中每个优选探测点与每
个第一批最终探测点之间的第一相关性因子，基于第...

【专利技术属性】
技术研发人员：请求不公布姓名，
申请(专利权)人：安徽中科超安科技有限公司，
类型：发明
国别省市：