一种应用于四显微镜正交并共聚焦的调校装置制造方法及图纸

技术编号:37183227 阅读:32 留言:0更新日期:2023-04-20 22:48
本实用新型专利技术公开了一种应用于四显微镜正交并共聚焦的调校装置,包括台架以及设置于台架上的四个二维位移台,每个二维位移台上均设有带相机的显微镜,显微镜I和显微镜III相对设置,显微镜II和显微镜Ⅳ相对设置;所述台架中心位置设有轴系,轴系包括轴套以及设置于轴套内的竖轴,竖轴呈T型通过钢球组与轴套的内侧转动连接;轴系上还设有回转定位机构,回转定位机构包括柱塞与锥窝,柱塞设于竖轴的一侧;锥窝有四组,沿圆周均匀分布在轴套的外侧;竖轴上还设有二维调整架,二维调整架上垂直设置有刀片。本实用新型专利技术整个调整过程操作简单,沿光轴方向和左右方向聚焦误差小于0.005mm,光轴正交90

【技术实现步骤摘要】
一种应用于四显微镜正交并共聚焦的调校装置


[0001]本技术属于多显微镜调焦
,尤其是涉及一种应用于四显微镜正交并共聚焦的调校装置。

技术介绍

[0002]各式荧光显微镜相继研发,期望在对样本检测的速度和质量上不断攀升。一种新颖的激光扫描共聚焦显微镜系统,其结构是四个相同的显微物镜,光轴在一个水平面,两路照明两路成像,互成90度正交,并共同会聚于中央样品液导管的竖轴线上。现有技术中,采用直接观察的方法对四个显微物镜的光轴进行对准,这种调校方式误差大,操作不方便,调校时间长。

技术实现思路

[0003]技术目的:本技术的目的旨在提供一种操作方便、精准度高的应用于四显微镜正交并共聚焦的调校装置。
[0004]技术方案:本技术所述的应用于四显微镜正交并共聚焦的调校装置,包括台架以及设置于台架上的四个二维位移台,每个二维位移台上均设有带相机的显微镜,显微镜I和显微镜III相对设置,显微镜II和显微镜Ⅳ相对设置;所述台架中心位置设有轴系,轴系包括轴套以及设置于轴套内的竖轴,竖轴呈T型通过钢球组与轴套的内侧转动连接;轴系上还设有回本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种应用于四显微镜正交并共聚焦的调校装置,包括台架(11)以及设置于台架(11)上的四个二维位移台(6),每个二维位移台(6)上均设有带相机的显微镜,显微镜I(1)和显微镜III(3)相对设置,显微镜II(2)和显微镜Ⅳ(4)相对设置;其特征在于:所述台架(11)中心位置设有轴系(7),轴系(7)包括轴套(71)以及设置于轴套(71)内的竖轴(72),竖轴(72)呈T型通过钢球组(73)与轴套(71)的内侧转动连接;轴系(7)上还设有回转定位机构(8),回转定位机构(8)包括柱塞(82)与锥窝(81),柱塞(82)设于竖轴(72)的一侧;锥窝(81)有四组,沿圆周均匀分布在轴套(71)的外侧;竖轴(72)上还设有二维调整架(9),二维调整架(9)上垂直设置有刀片(10)。2.根据权利要求1所述的应用于四显微镜正交并共聚焦的...

【专利技术属性】
技术研发人员:张大伦张斌范浩
申请(专利权)人:茂莱南京仪器有限公司
类型:新型
国别省市:

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1