同轴度校准装置及应用该装置的下摆机制造方法及图纸

技术编号:37175701 阅读:31 留言:0更新日期:2023-04-20 22:44
本实用新型专利技术提供了一种同轴度校准装置及应用该装置的下摆机,涉及检测校正技术领域,主要目的是提供一种占用空间小且使用方便的同轴度校准设备。该同轴度校准装置包括:校准基座,所述校准基座上固定安装有校准球;连接头;校准构件,所述校准构件包括连接组件和探针,所述连接组件的两端分别与所述连接头和所述探针转动连接;所述探针位于所述校准基座和所述连接头之间且所述探针的自由端能与所述校准球的外表面接触并相对于所述校准球的外表面滑动移动。本实用新型专利技术用于提供一种占用空间小且使用方便的同轴度校准装置。间小且使用方便的同轴度校准装置。间小且使用方便的同轴度校准装置。

【技术实现步骤摘要】
同轴度校准装置及应用该装置的下摆机


[0001]本技术涉及检测校正
,尤其是涉及一种同轴度校准装置及应用该装置的下摆机。

技术介绍

[0002]很多大型设备在出厂后都需要进行同轴度校准,包括上下同轴度以及左右同轴度等,从而确保设备的加工精度,使设备能够正常运行。传统的同轴度校准用设备体积较大,需要相对较大的安装空间才能满足校准需要。当需要校准的两个轴之间的间距较小时,传统的校准设备因缺乏足够的安装空间而无法使用。例如下摆机、割边机以及数控机床等。
[0003]为了解决上述问题,使待校准轴距离较近的设备也能够方便的进行同轴度校准,需要研发一种新型的校准装置。

技术实现思路

[0004]本技术的目的在于提供同轴度校准装置及应用该装置的下摆机,以解决现有技术中存在的校准设备因调校空间限制使用不便的技术问题。本技术提供的诸多技术方案中的优选技术方案所能产生的诸多技术效果详见下文阐述。
[0005]为实现上述目的,本技术提供了以下技术方案:
[0006]本技术提供的同轴度校准装置,包括:/>[0007]校准本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.同轴度校准装置,其特征在于,包括:校准基座,所述校准基座上固定安装有校准球;连接头;校准构件,所述校准构件包括连接组件和探针,所述连接组件的两端分别与所述连接头和所述探针转动连接;所述探针位于所述校准基座和所述连接头之间且所述探针的自由端能与所述校准球的外表面接触并相对于所述校准球的外表面滑动移动。2.根据权利要求1所述的同轴度校准装置,其特征在于,所述校准构件还包括第一紧固件,所述连接组件经所述第一紧固件与所述连接头和所述探针相连。3.根据权利要求1所述的同轴度校准装置,其特征在于,所述校准构件还包括滑动组件,所述滑动组件与所述连接组件转动连接,所述探针位于所述滑动组件上并能在所述滑动组件的作用下相对于所述连接组件滑动移动。4.根据权利要求3所述的同轴度校准装置,其特征在于,所述滑动组件包括紧固轨道和滑动表头;所述紧固轨道中部凹陷并形成供所述滑动表头滑动移动的凹槽,所述凹槽的两个侧壁均沿其长度方向凸起并形成条形导轨;所述滑动表头插入所述凹槽内的一端侧壁...

【专利技术属性】
技术研发人员:冯志新
申请(专利权)人:北京创思工贸有限公司
类型:新型
国别省市:

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