一种电子产品老化测试装置制造方法及图纸

本发明专利技术适用于电子产品老化测试技术领域，提供了一种电子产品老化测试装置，包括：测试箱，设置有加热腔和驱动腔；加热管，设置于加热腔内；驱动杆，转动设置于测试箱轴心；间歇驱动机构，设置于驱动腔内，用于间歇驱动驱动杆旋转；复位机构，设置于驱动腔内，用于驱动驱动杆复位；滑套，套设于驱动杆上，位于加热腔内；提升机构，用于驱动滑套往复移动；以及安装机构，设置于滑套上，用于固定电子产品；本发明专利技术具有良好的老化测试效果，受热均匀。受热均匀。受热均匀。

【技术实现步骤摘要】
一种电子产品老化测试装置


[0001]本专利技术属于电子产品老化测试
，尤其涉及一种电子产品老化测试装置。

技术介绍

[0002]电子产品老化测试，是针对高性能电子产品，仿真出一种高温、恶劣环境的测试，是提高产品稳定性、可靠性和抗老化的重要测试、是各生产企业提高产品质量和竞争性的重要生产流程，被广泛应用于电源电子、电脑、通讯、生物制药等领域。
[0003]现有技术存在对电子产品加热不均匀的现象，如公开了公开了一种电子产品老化测试装置，包括测试箱体，测试箱体形状呈矩形，测试箱体转动设有密封门，测试箱体内部匹配设有矩形空腔，且矩形空腔底部匹配固定设有底板，底板上匹配设有支撑圆盘，底板与支撑圆盘之间通过球轴承连接，测试箱体底部设有与支撑圆盘匹配的减速电机，支撑圆盘上侧匹配设有托板，托板与支撑圆盘之间通过螺栓固定连接，测试箱体侧壁对称设有蒸汽进气口和出气口，测试箱体顶部对称设有两个热风口。
[0004]上述现有技术虽然能够通过托板带动电子产品旋转，使得加热位置均匀变化，但是在旋转过程中，电子产品固定牢固，容易产生碰撞，从而导致电子产品损坏。

技术实现思路

[0005]本专利技术的目的在于提供一种电子产品老化测试装置，旨在解决
技术介绍
中所提到的问题。
[0006]本专利技术是这样实现的，一种电子产品老化测试装置，包括：
[0007]测试箱，设置有加热腔和驱动腔；
[0008]加热管，设置于加热腔内；
[0009]驱动杆，转动设置于测试箱轴心；
[0010]间歇驱动机构，设置于驱动腔内，用于间歇驱动驱动杆旋转；
[0011]复位机构，设置于驱动腔内，用于驱动驱动杆复位；
[0012]滑套，套设于驱动杆上，位于加热腔内；
[0013]提升机构，用于驱动滑套往复移动；以及
[0014]安装机构，设置于滑套上，用于固定电子产品。
[0015]优选地，所述间歇驱动机构包括：
[0016]驱动电机，安装于驱动腔内壁；
[0017]第一转轴，转动设置于驱动腔内；
[0018]第一齿轮副，分别与驱动电机输出端、第一转轴连接；
[0019]缺齿齿轮，安装于第一转轴上；以及
[0020]第一圆柱直齿轮，安装于驱动杆上，与缺齿齿轮啮合连接。
[0021]优选地，所述复位机构包括：
[0022]第一卷绕轮，安装于驱动杆上；
[0023]第一连接绳，一端卷绕于第一卷绕轮上；
[0024]移动板，滑动设置于驱动腔内，与第一连接绳远离第一卷绕轮的一端固定；以及
[0025]第一弹性件，分别与移动板、驱动腔内壁固定。
[0026]优选地，所述提升机构包括：
[0027]固定板，固定于测试箱外壁上；
[0028]第二转轴，转动设置于固定板上；
[0029]第三转轴，与驱动杆固定连接，与测试箱转动连接，延伸至测试箱外；
[0030]第二齿轮副，分别与第二转轴、第三转轴连接；
[0031]第二卷绕轮，安装于第二转轴上；以及
[0032]第二连接绳，一端固定于第二卷绕轮上，另一端与滑套固定连接。
[0033]优选地，所述安装机构包括：
[0034]第一安装套，固定于滑套上；
[0035]第四转轴，一端转动设置于第一安装套上；
[0036]连接组件，通过转动连接组件与测试箱内壁转动连接，与第四转轴另一端连接；以及
[0037]固定组件，固定于第四转轴上，用于固定电子产品。
[0038]优选地，所述连接组件包括：
[0039]拉板，设置有容纳槽；
[0040]齿杆，安装于容纳槽内壁上；以及
[0041]第二圆柱直齿轮，安装于第四转轴上，与齿杆啮合连接。
[0042]优选地，所述固定组件包括：
[0043]第二安装套，固定于第四转轴上；
[0044]固定框，固定于第二安装套上，设置有翻转门；
[0045]夹紧板，滑动设置于固定框内，用于夹持电子产品；以及
[0046]第二弹性件，两端分别与固定框内壁、夹紧板固定连接。
[0047]与现有技术相比，本专利技术的有益效果是：通过设置测试箱、加热管、驱动杆、间歇驱动机构、复位机构、滑套、提升机构和安装机构，当使用时，首先通过加热管对加热腔进行加热，接着通过安装机构固定电子产品，然后通过间歇驱动机构驱动驱动杆间歇旋转，驱动杆带动滑套旋转，滑套带动安装机构旋转，安装机构带动电子产品旋转，从而使得电子产品受热均匀，与此同时，通过提升机构带动滑套上下往复移动，其次还可以通过复位机构驱动驱动杆反向复位，避免了旋转产生涡流，使得电子产品受热更加均匀，老化测试效果更准确。
附图说明
[0048]图1为本专利技术实施例提供的一种电子产品老化测试装置的结构示意图。
[0049]图2为图1的A处结构示意图。
[0050]图3为本专利技术实施例提供的一种电子产品老化测试装置中第一圆柱直齿轮的立体示意图。
[0051]图4为本专利技术实施例提供的一种电子产品老化测试装置中连接组件的结构示意图。
[0052]图5为本专利技术实施例提供的一种电子产品老化测试装置中固定组件的结构示意图。
[0053]附图中：1
‑
测试箱；2
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加热管；3
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驱动杆；4
‑
间歇驱动机构；401
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驱动电机；402
‑
第一转轴；403
‑
第一齿轮副；404
‑
缺齿齿轮；405
‑
第一圆柱直齿轮；5
‑
复位机构；501
‑
第一卷绕轮；502
‑
第一连接绳；503
‑
移动板；504
‑
第一弹性件；6
‑
滑套；7
‑
提升机构；701
‑
固定板；702
‑
第二转轴；703
‑
第三转轴；704
‑
第二齿轮副；705
‑
第二卷绕轮；706
‑
第二连接绳；8
‑
安装机构；801
‑
第一安装套；802
‑
第四转轴；803
‑
连接组件；804
‑
固定组件；9
‑
转动连接组件；10
‑
拉板；11
‑
齿杆；12
‑
第二圆柱直齿轮；13
‑
第二安装套；14
‑
固定框；15
‑
夹紧板；16
‑
第二弹性件。
具体实施方式
[0054]为了使本专利技术的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本专利技术进本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种电子产品老化测试装置，其特征在于，包括：测试箱，设置有加热腔和驱动腔；加热管，设置于加热腔内；驱动杆，转动设置于测试箱轴心；间歇驱动机构，设置于驱动腔内，用于间歇驱动驱动杆旋转；复位机构，设置于驱动腔内，用于驱动驱动杆复位；滑套，套设于驱动杆上，位于加热腔内；提升机构，用于驱动滑套往复移动；以及安装机构，设置于滑套上，用于固定电子产品。2.根据权利要求1所述的一种电子产品老化测试装置，其特征在于，所述间歇驱动机构包括：驱动电机，安装于驱动腔内壁；第一转轴，转动设置于驱动腔内；第一齿轮副，分别与驱动电机输出端、第一转轴连接；缺齿齿轮，安装于第一转轴上；以及第一圆柱直齿轮，安装于驱动杆上，与缺齿齿轮啮合连接。3.根据权利要求1所述的一种电子产品老化测试装置，其特征在于，所述复位机构包括：第一卷绕轮，安装于驱动杆上；第一连接绳，一端卷绕于第一卷绕轮上；移动板，滑动设置于驱动腔内，与第一连接绳远离第一卷绕轮的一端固定；以及第一弹性件，分别与移动板、驱动腔内壁固定。4.根据权利要求1所述的一种电子产品老化测试装置，其特征在于，所述提升机构包括：固定板，固定于测试箱外壁上；...

【专利技术属性】
技术研发人员：赵延安，刘记，杨卫，徐桂佳，
申请(专利权)人：小洋电源股份有限公司，
类型：发明
国别省市：