表面检查装置、存储介质及表面检查方法制造方法及图纸

一种表面检查装置、存储介质及表面检查方法，所述表面检查装置具有：摄像器件，拍摄作为检查对象的物体表面；及处理器，通过由所述摄像器件拍摄的图像的处理来计算所述物体的质感的评价值，所述处理器至少根据所述图像的亮度信息来检测错误计算的原因映入该图像的特定的范围内。定的范围内。定的范围内。

【技术实现步骤摘要】
表面检查装置、存储介质及表面检查方法


[0001]本专利技术涉及一种表面检查装置、存储介质及表面检查方法。

技术介绍

[0002]目前，在各种产品中，使用将合成树脂成型而成的组件(以下称为“成型品”)。由于质感是决定外观印象的项目之一，因此在开发阶段设置有检查成型品的质感的工序。另外，成型品多为复杂的三维形状，组装后也要求进行质感的检查，因此有时使用拍摄范围较窄的检查装置。
[0003]专利文献1：日本特开2018
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66712号公报
[0004]然而，在质感的评价中，使用拍摄范围的一部分区域。当然，在拍摄范围较窄的检查装置中，用于质感的评价的区域也较窄。因此，也难以将作为检查对象的缺陷正确地定位在用于质感的评价的区域。若缺陷不在正确的位置，则所计算出的值不会成为缺陷部分的正确的评价值。并且，拍摄范围有时包括极暗的部位或极亮的部位。在该情况下，所计算出的值也不会用于缺陷部分的评价。
[0005]在任何情况下，只要是熟练者，就能够根据用于评价的摄像图像注意到评价值的异常，但是对检查不熟练的工作人员的情况下本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种表面检查装置，其具有：摄像器件，拍摄作为检查对象的物体表面；及处理器，通过由所述摄像器件拍摄的图像的处理来计算所述物体的质感的评价值，所述处理器至少根据所述图像的亮度信息来检测错误计算的原因映入所述图像的特定的范围内。2.根据权利要求1所述的表面检查装置，其中，所述处理器在检测到所述错误计算的原因的映入的情况下，不在画面上显示所述评价值。3.根据权利要求2所述的表面检查装置，其中，所述处理器在检测到所述错误计算的原因的映入的情况下，不计算所述评价值。4.根据权利要求2所述的表面检查装置，其中，所述处理器在检测到所述错误计算的原因的映入的情况下，即使计算出所述评价值也不显示在画面上。5.根据权利要求1所述的表面检查装置，其中，所述处理器在检测到所述错误计算的原因的映入的情况下，将所述检测通知给工作人员。6.根据权利要求5所述的表面检查装置，其中，所述处理器通过文字在画面上显示所述错误计算的原因的映入的检测。7.根据权利要求5所述的表面检查装置，其中，所述处理器在检测到...

【专利技术属性】
技术研发人员：相川清史，平松崇，田崎海渡，宇野美穂，市川裕一，大贯宏子，桑田良隆，
申请(专利权)人：富士胶片商业创新有限公司，
类型：发明
国别省市：