表面检查装置、存储介质及表面检查方法制造方法及图纸

一种表面检查装置、存储介质及表面检查方法，所述表面检查装置具有：摄像器件，拍摄作为检查对象的物体表面；及处理器，通过由所述摄像器件拍摄的图像的处理来计算所述物体的质感的评价值，所述处理器至少根据所述图像的亮度信息来检测错误计算的原因映入该图像的特定的范围内。定的范围内。定的范围内。

【技术实现步骤摘要】
表面检查装置、存储介质及表面检查方法


[0001]本专利技术涉及一种表面检查装置、存储介质及表面检查方法。

技术介绍

[0002]目前，在各种产品中，使用将合成树脂成型而成的组件(以下称为“成型品”)。由于质感是决定外观印象的项目之一，因此在开发阶段设置有检查成型品的质感的工序。另外，成型品多为复杂的三维形状，组装后也要求进行质感的检查，因此有时使用拍摄范围较窄的检查装置。
[0003]专利文献1：日本特开2018
‑
66712号公报
[0004]然而，在质感的评价中，使用拍摄范围的一部分区域。当然，在拍摄范围较窄的检查装置中，用于质感的评价的区域也较窄。因此，也难以将作为检查对象的缺陷正确地定位在用于质感的评价的区域。若缺陷不在正确的位置，则所计算出的值不会成为缺陷部分的正确的评价值。并且，拍摄范围有时包括极暗的部位或极亮的部位。在该情况下，所计算出的值也不会用于缺陷部分的评价。
[0005]在任何情况下，只要是熟练者，就能够根据用于评价的摄像图像注意到评价值的异常，但是对检查不熟练的工作人员的情况下，不会注意到所计算出的评价值的异常。

技术实现思路

[0006]本专利技术的目的在于，与不检测成为错误计算的原因的映入的存在的状态下计算评价值的情况相比，提高检查的可靠性。
[0007]方案1所述的专利技术为表面检查装置，其具有：摄像器件，拍摄作为检查对象的物体表面；及处理器，通过由所述摄像器件拍摄的图像的处理来计算所述物体的质感的评价值，所述处理器至少根据所述图像的亮度信息来检测错误计算的原因映入该图像的特定的范围内。
[0008]方案2所述的专利技术在方案1所述的表面检查装置中，所述处理器在检测到所述错误计算的原因的映入的情况下，不在画面上显示所述评价值。
[0009]方案3所述的专利技术在方案2所述的表面检查装置中，所述处理器在检测到所述错误计算的原因的映入的情况下，不计算所述评价值。
[0010]方案4所述的专利技术在方案2所述的表面检查装置中，所述处理器在检测到所述错误计算的原因的映入的情况下，即使计算出所述评价值也不显示在画面上。
[0011]方案5所述的专利技术在方案1所述的表面检查装置中，所述处理器在检测到所述错误计算的原因的映入的情况下，将该检测通知给工作人员。
[0012]方案6所述的专利技术在方案5所述的表面检查装置中，所述处理器通过文字在画面上显示所述错误计算的原因的映入的检测。
[0013]方案7所述的专利技术在方案5所述的表面检查装置中，所述处理器在检测到所述错误计算的原因的映入的情况下，将检测到的区域部分显示在画面上。
[0014]方案8所述的专利技术在方案5所述的表面检查装置中，所述处理器在检测到所述错误计算的原因的映入的情况下，通知所述评价值不是正常值。
[0015]方案9所述的专利技术在方案1至8中任一项所述的表面检查装置中，所述处理器在接受到计算所述评价值的指示的情况下，执行该评价值的计算。
[0016]方案10所述的专利技术在方案1所述的表面检查装置中，所述错误计算的原因是在所述图像的特定的方向的亮度值的变化率中出现异常值的图像。
[0017]方案11所述的专利技术在方案1所述的表面检查装置中，所述错误计算的原因是在所述特定的范围内出现特定的亮度值的区域的面积超过基准的图像。
[0018]方案12所述的专利技术为存储介质，其存储有用于使对用摄像器件拍摄作为检查对象的物体的表面而获得的图像进行处理的计算机实现如下功能的程序：至少根据所述图像的亮度信息来检测错误计算的原因映入该图像的特定的范围内。
[0019]方案13所述的专利技术为表面检查方法，其包括如下步骤：至少根据图像的亮度信息来检测错误计算的原因映入该图像的特定的范围内。
[0020]专利技术效果
[0021]根据本专利技术的第1方案，与在不检测成为错误计算的原因的映入的存在的状态下计算评价值的情况相比，能够提高检查的可靠性。
[0022]根据本专利技术的第2方案，能够注意到摄像方法存在问题。
[0023]根据本专利技术的第3方案，能够避免计算不显示的评价值。
[0024]根据本专利技术的第4方案，能够注意到摄像方法存在问题。
[0025]根据本专利技术的第5方案，能够使工作人员注意到摄像方法存在问题。
[0026]根据本专利技术的第6方案，能够明确地通知摄像方法存在问题。
[0027]根据本专利技术的第7方案，能够明确地通知原因的部位。
[0028]根据本专利技术的第8方案，能够通知评价值的可靠性低。
[0029]根据本专利技术的第9方案，能够避免计算不需要的评价值。
[0030]根据本专利技术的第10方案，能够检测除了检查对象以外的映入或外光的映入。
[0031]根据本专利技术的第11方案，能够检测与检查对象不同的物体的映入。
[0032]根据本专利技术的第12方案，与在不检测成为错误计算的原因的映入的存在的状态下计算评价值的情况相比，能够提高检查的可靠性。
[0033]根据本专利技术的第13方案，与在不检测成为错误计算的原因的映入的存在的状态下计算评价值的情况相比，能够提高检查的可靠性。
附图说明
[0034]根据以下附图，对本专利技术的实施方式进行详细叙述。
[0035]图1是对在实施方式1中设想的表面检查装置的使用例进行说明的图；
[0036]图2是对在检查对象的表面显现的缺陷的例子进行说明的图；图2的(A)表示缩痕的例子，图2的(B)表示焊缝的例子；
[0037]图3是对在实施方式1中使用的表面检查装置的硬件结构的一例进行说明的图；
[0038]图4是对实施方式1的表面检查装置的光学系统的结构例进行说明的图；
[0039]图5是对显示在显示器上的操作画面的一例进行说明的图；
[0040]图6是对基于在实施方式1中使用的表面检查装置的检查动作的一例进行说明的流程图；
[0041]图7是对摄像图像与亮度分布的关系进行说明的图；图7的(A)表示与能够计算可靠性高的分数的图像例对应的亮度分布例，图7的(B)及图7的(C)表示与计算出可靠性存在问题的分数的图像例对应的亮度分布例；
[0042]图8是对执行缺陷检查时的操作画面的显示例进行说明的图；图8的(A)表示成为错误计算的原因的区域未映入检查范围时的显示例，图8的(B)表示成为错误计算的原因的区域映入检查范围时的显示例；
[0043]图9是对基于在实施方式2中使用的表面检查装置的检查动作的一例进行说明的流程图；
[0044]图10是对基于在实施方式3中使用的表面检查装置的检查动作的一例进行说明的流程图；
[0045]图11是对通知成为错误计算的原因的区域的映入的方法的一例进行说明的图；
[0046]图12是对通知成为错误计算的原因的区域的映入的方法的另一例进行说明的图；图12的(A)及图12的(B)表示用框线将有可能存在问题的部位包围并显示本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种表面检查装置，其具有：摄像器件，拍摄作为检查对象的物体表面；及处理器，通过由所述摄像器件拍摄的图像的处理来计算所述物体的质感的评价值，所述处理器至少根据所述图像的亮度信息来检测错误计算的原因映入所述图像的特定的范围内。2.根据权利要求1所述的表面检查装置，其中，所述处理器在检测到所述错误计算的原因的映入的情况下，不在画面上显示所述评价值。3.根据权利要求2所述的表面检查装置，其中，所述处理器在检测到所述错误计算的原因的映入的情况下，不计算所述评价值。4.根据权利要求2所述的表面检查装置，其中，所述处理器在检测到所述错误计算的原因的映入的情况下，即使计算出所述评价值也不显示在画面上。5.根据权利要求1所述的表面检查装置，其中，所述处理器在检测到所述错误计算的原因的映入的情况下，将所述检测通知给工作人员。6.根据权利要求5所述的表面检查装置，其中，所述处理器通过文字在画面上显示所述错误计算的原因的映入的检测。7.根据权利要求5所述的表面检查装置，其中，所述处理器在检测到...

【专利技术属性】
技术研发人员：相川清史，平松崇，田崎海渡，宇野美穂，市川裕一，大贯宏子，桑田良隆，
申请(专利权)人：富士胶片商业创新有限公司，
类型：发明
国别省市：