一种闪烁体探测阵列的信号处理方法及成像设备技术

本发明专利技术属于闪烁体探测器技术领域，提供了一种闪烁体探测阵列的信号处理方法及成像设备，在成像时，由闪烁体探测阵列接收射线辐射而产生光信号；通过光传感阵列将所述光信号转换为电信号；对所述电信号进行信号积分时，选择所述闪烁体探测阵列中特定位置像素点的余辉截止时间作为整个探测阵列各像素点所产生电信号的积分范围。本发明专利技术的优点在于通过在一个闪烁体探测阵列中的特定位置设置短余辉像素点，整个闪烁体探测阵列所产生的电信号，以短余辉像素点的截止时间进行信号的积分处理能够有效减少信号处理过程中的计算量，同时能够消除闪烁体探测阵列所产生的余辉对成像的影响。影响。影响。

【技术实现步骤摘要】
一种闪烁体探测阵列的信号处理方法及成像设备


[0001]本专利技术涉及闪烁体探测器
，尤其涉及一种闪烁体探测阵列的信号处理方法及成像设备。

技术介绍

[0002]闪烁体探测器在辐射射线照射停止后一段时间内仍有残余发光，被之称为闪烁体的余辉。闪烁体的余辉产生机理十分复杂，一般认为余辉和闪烁体内部的结构、杂质和缺陷以及闪烁体的制造过程相关，同时还和闪烁体的使用温度、被电离辐射照射的剂量以及照射的时间长短有关。闪烁体余辉的衰减时间常数从1ms到几百ms甚至几个小时，往往同一个闪烁体具有从短余辉到长余辉的多种衰减成分。随着闪烁体被照射时间的增加，长余辉的成分会逐渐增多，因此会对探测器的输出信号造成不良影响，进而在扫描图像中形成伪影。

技术实现思路

[0003]本专利技术要解决的技术问题目的在于提供一种闪烁体探测阵列的信号处理方法及成像设备，用以解决上述问题；
[0004]为了实现上述目的，本专利技术采用的技术方案为：
[0005]一种闪烁体探测阵列的信号处理方法，包括：
[0006]在成像时，由闪烁体探测阵列接收射线辐射而产生光信号；
[0007]通过光传感阵列将所述光信号转换为电信号；
[0008]对所述电信号进行信号积分时，选择所述闪烁体探测阵列中特定位置像素点的余辉截止时间作为整个探测阵列各像素点所产生电信号的积分范围。
[0009]进一步的，所述余辉截止时间由预先获得的该闪烁体阵列中各像素点的余辉特性曲线确定。
[0010]进一步的，所述特定位置像素点为探测阵列中某一行或某一排的像素点。
[0011]进一步的，探测阵列中某一行各像素点的余辉截止时间作为各像素点所在排其余像素点所产生电信号的积分范围。
[0012]进一步的，探测阵列中某一排各像素点的余辉截止时间作为各像素点所在行其余像素点所产生电信号的积分范围。
[0013]进一步的，所述特定位置像素点为探测阵列中某个区域内的像素点。
[0014]进一步的，所述探测阵列中某个区域内各像素点的余辉截止时间平均值作为整个探测阵列各像素点所产生电信号的积分范围。
[0015]进一步的，所述探测阵列为线阵列时，所述特定位置像素点为探测阵列中的某一点。
[0016]进一步的，线阵列中所述点的余辉截止时间作为线阵列其余像素点所产生电信号的积分范围。
[0017]本专利技术另一方面还提供了一种成像设备，包括：闪烁体探测阵列；
[0018]光传感器阵列，其光学耦合至所述闪烁体探测阵列；
[0019]以及信号处理单元，其电耦合至所述光传感器阵列；
[0020]所述信号处理单元对光传感器阵列所产生的电信号进行信号积分时，选择所述闪烁体探测阵列中特定位置像素点的余辉截止时间作为整个探测阵列各像素点所产生电信号的积分范围。
[0021]本专利技术与现有技术相比，至少包含以下有益效果：在经过闪烁体探测阵列得到脉冲电信号后选择某一截止时间，对截止时间内的电信号进行积分处理，而去除截止时间以外的电信号，从而消除闪烁体探测阵列所产生的余辉对成像的影响。并且通过在一个闪烁体探测阵列中的特定位置设置短余辉像素点，整个闪烁体探测阵列所产生的电信号，以短余辉像素点的截止时间进行信号的积分处理能够有效减少信号处理过程中的计算量。
附图说明
[0022]图1是本专利技术所提供实施例中信号处理方法的步骤流程图；
[0023]图2是本专利技术所提供实施例中成像设备的结构示意图。
具体实施方式
[0024]以下是本专利技术的具体实施例，并结合附图对本专利技术的技术方案作进一步的描述，但本专利技术并不限于这些实施例。
[0025]如图1所示，本专利技术所提供的一种闪烁体探测阵列的信号处理方法，其包括：
[0026]S1、在成像时，由闪烁体探测阵列接收射线辐射而产生光信号；
[0027]S2、通过光传感阵列将所述光信号转换为电信号；
[0028]S3、对所述电信号进行信号积分时，选择所述闪烁体探测阵列中特定位置像素点的余辉截止时间作为整个探测阵列各像素点所产生电信号的积分范围。
[0029]当X射线等辐射射线入射到闪烁体阵列时，会与闪烁体阵列发生光电效应、康普顿散射效应及电子对效应，将能量沉积在闪烁体中并激发闪烁体阵列产生闪烁光。利用与闪烁体阵列连接的光电探测器如光电倍增管等将闪烁光经过光电转换和倍增，形成脉冲电信号。最后经过信号处理电路的采集放大和数字化处理后，即可转为辐射图像数据，供成像系统读取和显示处理。
[0030]在辐射射线照射停止后一段时间内闪烁体阵列仍然会激发产生闪烁光，并形成脉冲电信号，而该部分的脉冲电信号会对后续成像读取产生影响。
[0031]本专利技术为消除长余辉形成的脉冲电信号对后续成像的影响，在得到脉冲电信号后选择某一截止时间，对截止时间内的脉冲电信号进行积分处理，而去除截止时间以外的脉冲电信号，从而消除闪烁体探测阵列所产生的余辉对成像的影响。
[0032]由于闪烁体探测阵列是由多个闪烁体组合而成的，因此不同闪烁体之间的余辉特性会存在一定的差异，通过在一个闪烁体探测阵列中的特定位置设置短余辉像素点，整个闪烁体探测阵列所产生的电信号，以短余辉像素点的截止时间进行信号的积分处理能够有效减少信号处理过程中的计算量，同时能够消除闪烁体探测阵列所产生的余辉对成像的影响。
[0033]余辉截止时间能够由人工在预先获得的该闪烁体阵列中各闪烁体对应像素点的
余辉特性曲线确定，以使后续电信号的积分处理统一采用该余辉截止时间。
[0034]当闪烁体探测阵列为M*N阵列时，特定位置像素点的选择可以是探测阵列中某一行或某一排的各个像素点。探测阵列中某一行各像素点的余辉截止时间作为各像素点所在排其余像素点所产生电信号的积分范围；探测阵列中某一行各像素点的余辉截止时间作为各像素点所在排其余像素点所产生电信号的积分范围。
[0035]例如，选择第M行中的各个闪烁体作为短余辉像素点，那么第1排各个闪烁体对应像素点所产生的电信号在后续信号积分时，则采用坐标为(M,1)闪烁体对应像素点的余辉截止时间作为信号积分范围。
[0036]当然，特定位置像素点的选择也可以是探测阵列中某个区域内的像素点，对于该区域的选择，也同样通过在预先获得的该闪烁体阵列中各闪烁体对应像素点的余辉特性曲线确定。进一步，可选择探测阵列中某个区域内各闪烁体对应像素点的余辉截止时间平均值作为整个探测阵列各像素点所产生电信号的积分范围。
[0037]当闪烁体探测阵列为线阵列时，特定位置像素点的选择则为线阵列中的某一点，并以线阵列中该点的余辉截止时间作为线阵列其余闪烁体对应像素点所产生电信号的积分范围。
[0038]本专利技术还提供一种成像设备，如图2所示，其包括闪烁体探测阵列1、光传感器阵列2以及信号处理单元3。
[0039]光传感器阵列2光学耦合至闪烁体探测阵列1，信号处理单元3电耦合至光传感器阵列2。
[004本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种闪烁体探测阵列的信号处理方法，其特征在于，包括：在成像时，由闪烁体探测阵列接收射线辐射而产生光信号；通过光传感阵列将所述光信号转换为电信号；对所述电信号进行信号积分时，选择所述闪烁体探测阵列中特定位置像素点的余辉截止时间作为整个探测阵列各像素点所产生电信号的积分范围。2.根据权利要求1所述的一种闪烁体探测阵列的信号处理方法，其特征在于，所述余辉截止时间由预先获得的该闪烁体阵列中各像素点的余辉特性曲线确定。3.根据权利要求2所述的一种闪烁体探测阵列的信号处理方法，其特征在于，所述特定位置像素点为探测阵列中某一行或某一排的像素点。4.根据权利要求3所述的一种闪烁体探测阵列的信号处理方法，其特征在于，探测阵列中某一行各像素点的余辉截止时间作为各像素点所在排其余像素点所产生电信号的积分范围。5.根据权利要求3所述的一种闪烁体探测阵列的信号处理方法，其特征在于，探测阵列中某一排各像素点的余辉截止时间作为各像素点所在行其余像素点所产生电信号的积分范围。6.根据权利...

【专利技术属性】
技术研发人员：秦海明，王新佳，曾榆斌，陈筱，高方浦，刘继超，
申请(专利权)人：宁波虔东科浩光电科技有限公司，
类型：发明
国别省市：