【技术实现步骤摘要】
高精密蚀刻引线框架用铜合金材料的制备方法
[0001]本专利技术涉及铜合金
,具体指一种高精密蚀刻引线框架用铜合金材料的制备方法。
技术介绍
[0002]引线框架是集成电路中起导电、散热和支撑作用的关键部件。随着电路集成度的提高,引线框架也向高精密化、节距微细化、多脚化发展,冲压法由于加工精度较差已无法满足其制造需求,蚀刻法成为制造大规模集成电路引线框架的主流。早期的引线框架材料为FeNi
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合金,后逐渐被强度、导电性、导热性更好的Cu
‑
Fe、Cu
‑
P、Cu
‑
Fe
‑
P等系列合金所替代,2010年以来,极大规模集成电路的发展促使强度和导电性更高的Cu
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Ni
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Si和Cu
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Cr系合金大量涌现,其中Cu
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Cr
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Sn系相对于Cu
‑
Cr
‑
(Zr)系和Cu
‑
Ni
‑
Si系合金具有易电镀、钎焊性好等优点,满足极大规模集成电路的应用需求,是高端引线框架的理想材料。
[0003]目前我国同类产品存在着蚀刻过程中易变形、微区腐蚀速率差异明显及蚀刻后表面处理一致性差等问题,无法满足高精密蚀刻引线框架的应用需求,严重制约着我国半导体产业的持续发展。
[0004]关于蚀刻类引线框架材料在国内外有很多的专利保护,现有技术中公开的主要包含三种合金系列,如 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种高精密蚀刻引线框架用铜合金材料的制备方法,其特征在于包括有以下步骤:(1)上引连铸:将纯铜杆、高纯Sn颗粒、高纯Zn块、Cu
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Cr中间合金、高纯Nb颗粒、Cu
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Y中间合金、纯Ni块、覆盖剂放入坩埚,进行大气熔炼,待金属完全熔化后保温一段时间,随后开始连续铸造铜合金排;(2)高温时效处理:将步骤(1)所得的铜合金排置于保温炉中进行高温时效处理;(3)冷轧处理:将步骤(2)所得的铜合金排进行酸洗和冷轧处理得到铜合金带;(4)低温退火处理:将步骤(3)所得的铜合金带进行低温退火处理;(5)二次冷轧处理:将步骤(4)所得的铜合金带进行二次冷轧处理;步骤(2)中,所述高温时效处理的具体步骤如下:随炉加热至580~635℃,保温30~90min,取出后空冷。2.根据权利要求1所述的制备方法,其特征在于:步骤(1)中,按照重量百分比计,所述的铜合金排由以下组分组成Sn:0.18wt.%,Zn:0.16wt.%,Cr:0.20wt.%,Nb:0.06wt.%,Ni:0.04wt.%,Y:0.04wt.%,杂质含量≤0.05wt%,余量为Cu。3.根据权利要求1所述的制备方法,其特征在于:步骤(1)中,所述上引连铸的具体步骤如下:首先进行纯铜杆的熔炼,待纯铜杆完全熔化后加入覆盖剂,覆盖剂是碎玻璃和脱水木炭的混合物,覆盖剂的添加顺序为先加入碎玻璃,待碎玻璃完全覆盖于铜液表面后再加入木炭;然后继续保持1300~1350℃保温,加入高纯Sn颗粒、高纯Zn块、Cu
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Cr中间合金、高纯Nb颗粒、Cu...
【专利技术属性】
技术研发人员:龚留奎,黄伟,陈子明,黄滢秋,宋士鑫,刘晓彬,蒋博宇,阮金琦,张延松,冯宏伟,
申请(专利权)人:中国兵器科学研究院宁波分院,
类型:发明
国别省市:
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