一种光学测试装置制造方法及图纸

本发明专利技术旨在提供一种结构简洁使用方便，安全性高能进行多个产品检测操作的光学测试装置。本发明专利技术包括测试模组、底座、Y轴移载模组以及反光板模组，所述底座上设有固定架，所述测试模组与所述固定架滑动配合，所述Y轴移载模组与所述固定架的一端固定连接，所述Y轴移载装置的活动端与所述测试模组固定连接，所述反光板模组固定设置在底座上并所述测试模组配合测试。本发明专利技术应用于光学测试模组的技术领域。域。域。

【技术实现步骤摘要】
一种光学测试装置


[0001]本专利技术涉及光学测试模组的
,特别涉及一种光学测试装置。

技术介绍

[0002]随着制造业的迅速发展，各个行业对零配件的要求更高，技术参数要求更加苛刻，光学材料类零配件的制造技术也在不断的提升。与此同时，对检测技术也作出更高的要求，特别是光学材料的检测，目前常用的方式是将被测试的产品直接手动放到发光芯片的位置进行测试。这种方式的缺点是取放料不方便，一次只能测试一个产品，另外如果操作不当，存在操作人员夹伤的安全隐患，传统的检测方式已经不能满足需求。
[0003]公开号为CN209513216U的光学模组测试装置，其公开了一种包括机架、载体、水平调节机构、光源、高度调节机构、载台和升降调节机构，机架用于放置光学模组，载体可沿第一方向移动地设于机架，水平调节机构连接于载体，以驱动载体沿第一方向移动，高度调节机构连接于光源，以驱动光源沿垂直于第一方向的第二方向移动，载台包括可沿第二方向移动地连接于载体的第一载台和第二载台，升降调节机构用于驱动第一载台和第二载台沿第二方向移动，该专利技术将测试产品放置于顶板上本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种光学测试装置，它包括测试模组（4），其特征在于：光学测试模组（4）还包括底座（1）、Y轴移载模组（2）以及反光板模组（3），所述底座（1）上设有固定架（5），所述测试模组（4）与所述固定架（5）滑动配合，所述Y轴移载模组（2）与所述固定架（5）的一端固定连接，所述Y轴移载模组（2）的活动端与所述测试模组（4）固定连接，所述反光板模组（3）固定设置在底座（1）上并所述测试模组（4）配合测试。2.根据权利要求1所述的一种光学测试装置，其特征在于：所述测试模组（4）包括支撑板（41）、对位调节组件（42）、对位组件（43）以及测试组件（44），所述支撑板（41）与所述固定架（5）滑动连接，所述对位调节组件（42）设置在所述支撑板（41）上并开设有与产品配合的放置槽（6），所述测试组件（44）设置在所述对位调节组件（42）的活动端，所述支撑板（41）和所述对位组件（43）中均开设有与所述测试组件（44）相配合的让位孔。3.根据权利要求2所述的一种光学测试装置，其特征在于：所述对位调节组件（42）包括Z轴驱动装置（421）和XYZ三轴精定位装置（422），所述Z轴驱动装置（421）的一端与所述支撑板（41）固定连接，所述XYZ三轴精定位装置（422）设置在所述Z轴驱动装置（421）的活动端上，所述XYZ三轴精定位装置（422）的活动端与所述测试组件（44）相连接。4.根据权利要求2所述的一种光学测试装置，其特征在于：所述对位组件（43）包括对位板（431）、滑动板（432）、至少两组滑轨（433）、两组顶压件（434）以及若干滑块（435），所述对位板（431）与所述滑动板（432）导向定位配合，若干滑轨（433）设置在所述支撑板（41）上，若干所述滑块（435）均与所述滑动板（432）固定连接并对应与所述滑轨（433）滑动配合，两组所述顶压件（434）对称设置在所述对位板（431）的两端，若干所述放置槽（6）均设置在所述对位板（431）上，所述对位板（431）和所述滑动板（432）上均开设有与所述测试组件（44）相配合的开孔。5.根据权利要求4所述的一种...

【专利技术属性】
技术研发人员：张本伍，潘孔斌，胡仁有，郗旭斌，
申请(专利权)人：珠海市运泰利自动化设备有限公司，
类型：发明
国别省市：