射频子单元测试方法技术

本发明专利技术提供一种射频子单元测试方法，所述方法包括：当所述射频子单元的APC校准未通过时，对最大功率校准APC码字与参考APC码字对应的功率差值进行比较；当所述功率差值不小于预定值时，启动常规不良检测；当所述功率差值小于预定值时，采用已校准的APC码字中的最大功率输出频点对应的APC码字对频带进行扫描；当所述扫描结果不通过时，确定SAW单板异常；当所述扫描结果通过时，重新进行APC校准，并依据所述重新进行的APC校准结果确定是否进行增益模块异常检查。本发明专利技术提供的射频子单元测试方法，能够对射频子器件进行全面的检测，快速定位异常物料，提高测试和生产效率。提高测试和生产效率。提高测试和生产效率。

【技术实现步骤摘要】
射频子单元测试方法


[0001]本专利技术涉及射频器件测试
，尤其涉及一种射频子单元测试方法。

技术介绍

[0002]声表面波滤波器(surface acoustic wave)简称SAW滤波器，凭借其高Q值和优秀的带外抑制能力、以及成本低廉，已是终端、通信模块射频前端电路的首选滤波器。
[0003]在SAW滤波器的设计、生产、贴片以及使用过程中，通常都会涉及到对SAW滤波器单板、匹配物料以及整个链路的检测。现有技术中，对SAW滤波器单板、匹配物料以及整个链路的检测通常都是由各自厂商独自实施，这种情况下，当射频器件异常时，难以快速的定位异常物料，需要对各物料进行详细的分析，大大降低了测试及生产效率。

技术实现思路

[0004]本专利技术提供的射频子单元测试方法，能够对射频子器件进行全面的检测，快速定位异常物料，提高测试和生产效率。
[0005]本专利技术提供一种射频子单元测试方法，所述方法包括：
[0006]当所述射频子单元的APC校准未通过时，对最大功率校准APC码字与参考APC码字对应的功率差值本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种射频子单元测试方法，其特征在于，所述方法包括：当所述射频子单元的APC校准未通过时，对最大功率校准APC码字与参考APC码字对应的功率差值进行比较；当所述功率差值不小于预定值时，启动常规不良检测；当所述功率差值小于预定值时，采用已校准的APC码字中的最大功率输出频点对应的APC码字对频带进行扫描；当所述扫描结果不通过时，确定SAW单板异常；当所述扫描结果通过时，重新进行APC校准，并依据所述重新进行的APC校准结果确定是否进行增益模块异常检查。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，依据所述重新进行的APC校准结果确定是否进行增益模块检查包括：当重新进行的APC校准结果为通过时，确定所述射频子单元测试通过；当重新进行的APC校准结果为不通过时，开始进行增益模块异常检查。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，采用已校准的APC码字中的最大功率输出频点对应的APC码字对频带进行扫描，包括：对所述最大功率输出频点周围的窄带范围内进行扫描；当所述窄带范围内的扫描结果中功率差值的最大值超出第一预定门限时，确定SAW单板异常；当所述窄带范围内的扫描结果中功率差值的最大值未超出第一预定门限时，将扫描范围扩大至全频带。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，将扫描范围扩大至全频带包括：采用已校准的APC码字中的最大功率输出频点对应的APC码字对全频带进行扫描；当对全频带进行扫描的结果中功率差值的最大值超过第二预定门限时，确定SAW单板异常；当对全频带进行扫描的结果中功率差值的最大值未超过第二预定门限时，重新进行APC校准。5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，当所述射频子单元的APC校准通过时，对所述APC码表的带内补偿值进行检查；当具有超出带内最大允许补偿值的APC码字时，执行采用已校准的...

【专利技术属性】
技术研发人员：何川，王海虹，
申请(专利权)人：展讯通信深圳有限公司，
类型：发明
国别省市：