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本发明提供一种射频子单元测试方法，所述方法包括：当所述射频子单元的APC校准未通过时，对最大功率校准APC码字与参考APC码字对应的功率差值进行比较；当所述功率差值不小于预定值时，启动常规不良检测；当所述功率差值小于预定值时，采用已校准的A...
该专利属于展讯通信（深圳）有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过展讯通信（深圳）有限公司授权不得商用。

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