【技术实现步骤摘要】
在版图中生成图形的方法、装置、存储介质及电子设备
[0001]本专利技术涉及集成电路设计
,特别是涉及一种在版图中生成图形的方法、装置、存储介质及电子设备。
技术介绍
[0002]在集成电路版图设计中,常常需要在一些区域内绘制很多圆形的目标图形,例如为了电路板不同板层的电气连接,需要绘制圆形通孔;为了电路板与外部器件连接,需要绘制圆形焊盘;为了对倒装芯片起到支撑作用,需要绘制圆形支柱。在目标图形的绘制过程中,需要保证目标图形之间不能相互重叠,而且目标图形也不能与版图上的其他图形重叠。
[0003]本申请的专利技术人在长期的研发中发现,目标圆形的绘制需要设计人员手动完成,然而,在一些大规模的版图中,目标图形的数量多达几十万、上百万个,在这种情况下,手动绘制效率低且容易出错。
技术实现思路
[0004]本专利技术的目的是提供一种在版图中生成图形的方法、装置、存储介质及电子设备,以解决现有技术中手动绘制目标图形效率低且容易出错的问题,能够实现目标图形的自动绘制,提高绘制效率,并避免出错。
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【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种在版图中生成图形的方法,其特征在于,包括:获取版图上用于生成目标图形的布图区域,所述目标图形为圆形;将所述布图区域内的像素点设为第一像素点;按照预设顺序遍历所有所述第一像素点,在与非第一像素点的其它像素点以及已生成的目标图形之间的距离大于预设阈值的第一像素点生成目标图形,所述预设阈值不小于所述目标图形的半径。2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述按照预设顺序遍历所有所述第一像素点,在与非第一像素点的其它像素点以及已生成的目标图形之间的距离大于预设阈值的第一像素点生成目标图形,包括:像素点获取步骤:从所有所述第一像素点中按照预设顺序选择一个未检测的作为检测像素点;检测以所述检测像素点为圆心、半径为预设阈值的圆形范围是否覆盖非第一像素点的像素点以及已生成的目标图形;如果检测结果为否,则在所述检测像素点生成目标图形,并转至所述像素点获取步骤,直至所有所述第一像素点被选择;如果检测结果为是,则转至所述像素点获取步骤,直至所有所述第一像素点被选择。3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述在所述检测像素点生成目标图形,还包括:将所述目标图形覆盖范围内的第一像素点设为第二像素点。4.根据权利要求1至3任一项所述的方法,其特征在于,所述按照预设顺序遍历所有所述第一像素点之前,还包括:获取所述布图区域内的障碍物;在所述障碍物外围确定绕障边界,其中,所述绕障边界上的每一点到所述障碍物的最短距离均相等;将所述绕障边界内的第一像素点设为第三像素点。5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述障碍物为非...
【专利技术属性】
技术研发人员:请求不公布姓名,
申请(专利权)人:本源科仪成都科技有限公司,
类型:发明
国别省市:
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