测试信号生成电路、测试芯片和测试系统技术方案

本公开提供了一种测试信号生成电路、测试芯片和测试系统，在原有电路的基础上增加待测信号波形的优化电路(即测试信号生成电路)，该测试信号生成电路对待测信号滤波优化处理，生成激励信号，利用该激励信号对测试芯片翻转阈值的精度进行检测，当待测信号波形发生振荡时，可以保证测试芯片连接的后端功能测试机台检测到的输出波形一直为低电平状态，但当待测信号为完全翻转后的稳态波形时，功能测试机台可以及时检测到激励信号翻转后的高电平，由此可改善原有测试系统提前误触发的情况，提高该测试信号生成电路的测试准确性及精度。测试信号生成电路的测试准确性及精度。测试信号生成电路的测试准确性及精度。

【技术实现步骤摘要】
测试信号生成电路、测试芯片和测试系统


[0001]本公开涉及半导体集成电路
，具体涉及一种测试信号生成电路、测试芯片和测试系统。

技术介绍

[0002]由于很多阈值翻转类芯片如逻辑芯片，都会有成品功能测试(Functional Test，FT，主要应用于表面贴装半导体器件生产的最后一道工序，对全自动完成器件的电参数测试、分类甄选存储、激光打印标识、标识检测和外形尺寸检测等)，以确定其电气性能的误差精度。在输入电压临近VIH/VIL(VIL为可以被解释为逻辑“0”的最大输入电压，VIH为可以被解释为逻辑“1”的最小输入电压)时，输出会出现不完全翻转并振荡的情况，当采用FT测试VIH/VIL参数时，由于输出振荡(毛刺)，会导致测试系统提前误触发，造成测试结果不准，精度降低，从而严重影响产品性能。
[0003]原有的测试方案如图1a所示，测试芯片根据输入信号Vin生成待测信号DUT，并将其直接连接到功能测试机台的电压检测接口，以VIH为例，芯片输出电压Vo随输入电压Vin变化的波形如图1b所示。当输入电压Vin接近VIH的前一段时间内，本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种测试信号生成电路，用于向测试芯片提供激励信号，其中，所述测试信号生成电路包括：控制单元，用于根据待测信号和预设的参考信号生成第一电平信号，并受控于时序控制信号输出选择信号，所述选择信号为所述第一电平信号和该第一电平信号的反相信号的其中之一；逻辑单元，用于接收复位信号，并且响应于所述复位信号而改变所述第一电平信号或所述第一电平信号的反相信号状态检测的逻辑控制，生成第二电平信号；整形单元，用于对所述第二电平信号进行信号处理生成第三电平信号；输出单元，用于根据所述第三电平信号调整自身电路状态，生成所述激励信号，所述激励信号用于所述测试芯片翻转阈值的精度检测。2.根据权利要求1所述的测试信号生成电路，其中，所述控制单元包括：比较器，所述比较器的同相输入端接入所述待测信号，反相输入端接入所述参考信号，正电源端接入工作电压，负电源端接地，输出端提供所述第一电平信号；选择模块，连接在所述比较器的输出端与所述逻辑单元之间，受控于所述时序控制信号输出所述选择信号。3.根据权利要求2所述的测试信号生成电路，其中，所述时序控制信号包括互为反相的第一控制信号和第二控制信号，并且，所述选择模块包括：第一开关和第一反相器，所述第一开关和所述第一反相器串联连接在所述比较器的输出端与所述逻辑单元的输入端之间，受控于所述第一控制信号，以通过该第一反相器提供所述第一电平信号的反相信号；第二开关，所述第二开关的第一端与所述第一开关的第一端共同连接在所述比较器的输出端，所述第二开关的第二端与所述第一反相器的输出端共同连接在所述逻辑单元的输入端，所述第二开关受控于所述第二控制信号，以提供所述第一电平信号。4.根据权利要求3所述的测试信号生成电路，其中，所述逻辑单元包括：第一触发器，用于对所述选择信号的下降沿进行检测，响应于所述复位信号，通过二分频输出成第一脉冲信号；第二触发器，用于对所述选择信号的上升沿进行检测，响应于所述复位信号，通过二分频输出成第二脉冲信号；第三触发器，所述第三触发器的置位端接入所述第一脉冲信号，时钟端接入所述第二脉冲信号，复位端接入所述复位信号，输出端提供第三脉冲信号；逻辑非门，所述逻辑非门连...

【专利技术属性】
技术研发人员：于美洁，张新城，
申请(专利权)人：圣邦微电子北京股份有限公司，
类型：发明
国别省市：