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本公开提供了一种测试信号生成电路、测试芯片和测试系统，在原有电路的基础上增加待测信号波形的优化电路(即测试信号生成电路)，该测试信号生成电路对待测信号滤波优化处理，生成激励信号，利用该激励信号对测试芯片翻转阈值的精度进行检测，当待测信号波形...
该专利属于圣邦微电子（北京）股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过圣邦微电子（北京）股份有限公司授权不得商用。

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