一种光电探测器热阻测试装置及方法制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种用于光电探测器热阻测量的光功率及反向偏置控制装置及方法，涉及半导体光电探测器热特性测量技术领域。本发明专利技术包括：第一门驱动电路与光功率设置模块连接；第二门驱动电路与绝缘栅开关器件的栅极连接；测试电流源与被测光电探测器的阳极连接；二极管的阳极与被测光电探测器的阳极连接，二极管的阴极与绝缘栅开关器的漏极连接；绝缘栅开关器的源极与电压源的一端连接；电压源的另一端与被测光电探测器的阴极连接；光功率设置模块通过光路与被测光电探测器连接。本发明专利技术可实现从同时设置光功率为通并施加反向偏置的加热状态到设置光功率为断并施加正向电流的测试状态的高速切换。态的高速切换。态的高速切换。

【技术实现步骤摘要】
一种光电探测器热阻测试装置及方法


[0001]本专利技术涉及半导体光电探测器热特性测量
，更具体的说是涉及一种光电探测器热阻测试装置及方法。

技术介绍

[0002]光通信技术是指在收发终端之间，以激光为载波的一种新型通信技术。光通信技术具有传输容量大、体积小、重量轻等特点，已经成为现代通信网的基础平台。随着光通信领域的快速发展，通信网络中的数据量以指数快速增长。其中光电探测器作为光通信系统的光接收器件，对光电探测器的响应度也提出了更高的要求。具有更高响应度的光电探测器，其工作时更高的输出电流促使器件结温升高，同时影响器件的使用寿命。随着光电探测器的广泛应用，需要对其热特性进行检测。通常，采用器件的热阻参数来评价其热特性，热阻越大则散热性能越差。但是，目前对于光电探测器的热阻参数无损测量效率较低。
[0003]因此，为了准确评估光电探测器的可靠性，有关其热阻的测试技术亟需得到突破。

技术实现思路

[0004]有鉴于此，针对光电探测器结到壳热阻测试问题，本专利技术提出了一种光电探测器热阻测试装置及方法，该装置可实现从同本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于光电探测器热阻测量的光功率及反向偏置控制装置，其特征在于，包括第一门驱动电路，第二门驱动电路，测试电流源，二极管，绝缘栅开关器件，电压源，光功率设置模块，被测光电探测器：所述第一门驱动电路与所述光功率设置模块连接；所述第二门驱动电路与所述绝缘栅开关器件的栅极连接；所述测试电流源与所述被测光电探测器的阳极连接；所述二极管的阳极与所述被测光电探测器的阳极连接，所述二极管的阴极与所述绝缘栅开关器的漏极连接；所述绝缘栅开关器的源极与所述电压源的一端连接；所述电压源的另一端与所述被测光电探测器的阴极连接；所述光功率设置模块通过光路与所述被测光电探测器连接。2.根据权利要求1所述的一种用于光电探测器热阻测量的光功率及反向偏置控制装置，其特征在于，所述电流源的电流可调。3.根据权利要求1所述的一种用于光电探测器热阻测量的光功率及反向偏置控制装置，其特征在于，所述电压源为电压可调的双极性电压源。4.根据权利要求1所述的一种用于光电探测器热阻测量的光功率及反向偏置控制装置，其特征在于，所述光功率设置模块设置有高速光开关。5.根据权利要求1所述的一种用于光电探测器热阻测量的光功率及反向偏置控制装置，其特征在于，所述第一门驱动电路，所述第二门驱动电路的输出电压均可调。6.根据权利要求1所述的一种用于光电探测器热阻测量的光功率及反向偏置控制装置，其特征在于，还设置有电阻，所述电阻的一端与绝缘栅开关器件的漏极相连；电阻的另一端与电位高...

【专利技术属性】
技术研发人员：冯士维，鲁晓庄，李轩，白昆，潘世杰，姚占武，尤彬宇，
申请(专利权)人：北京工业大学，
类型：发明
国别省市：