一种光敏传感器性能测试仪器制造技术

本发明专利技术公开了一种光敏传感器性能测试仪器，其结构包括机箱、安装框架、升降气缸、测试槽、安装座，机箱上焊接连接有安装框架，安装框架上安装有升降气缸，安装座上安装有测试槽，安装座固定在机箱上，测试槽包括支撑边沿、底座、承托装置、凹槽，支撑边沿与凹槽焊接成口字型结构，底座固定在凹槽的底部，承托装置设在凹槽的内部，本发明专利技术通过在测试槽中设有承托装置，其中承托座与承托橡胶层呈矩形完全覆盖在凹槽内部，承托橡胶层具有伸缩的功能，配合升降轴，实现具有调节放置位置功能的承托装置，承托橡胶层还可避免测试件与支撑边沿直接接触，保护测试件放置到测试槽时不受到磨损损坏。坏。坏。

【技术实现步骤摘要】
一种光敏传感器性能测试仪器


[0001]本专利技术涉及光敏传感器测试设备
，特别的，是一种光敏传感器性能测试仪器。

技术介绍

[0002]光敏传感器是对外界光信号或光辐射有响应或转换功能的敏感装置，光敏传感器是最常见的传感器之一，它的种类繁多，主要有：光电管、光电倍增管、光敏电阻、光敏三极管、太阳能电池、红外线传感器、紫外线传感器、光纤式光电传感器、色彩传感器、CCD和CMOS图像传感器等，光传感器是产量最多、应用最广的传感器之一，它在自动控制和非电量电测技术中占有非常重要的地位，最简单的光敏传感器是光敏电阻，当光子冲击接合处就会产生电流，光敏传感器是利用光敏元件将光信号转换为电信号的传感器，它的敏感波长在可见光波长附近，包括红外线波长和紫外线波长，光传感器不只局限于对光的探测，它还可以作为探测元件组成其他传感器，对许多非电量进行检测，只要将这些非电量转换为光信号的变化即可，在光敏传感器测试中，光敏传感器需要放置到测试槽中进行测试，但是由于光敏传感器的大小规格不同，并且在放置过程中，光敏传感器的边沿易于放置槽的边沿发生接触磨损，严重的情况下还会造成光敏传感器间接性损坏。

技术实现思路

[0003]针对上述问题，本专利技术提供一种光敏传感器性能测试仪器。
[0004]为了实现上述目的，本专利技术是通过如下的技术方案来实现：一种光敏传感器性能测试仪器，其结构包括机箱、安装框架、升降气缸、测试槽、安装座，所述机箱上焊接连接有安装框架，所述安装框架上安装有升降气缸，所述安装座上安装有测试槽，所述安装座固定在机箱上。
[0005]作为本专利技术的进一步改进，所述测试槽包括支撑边沿、底座、承托装置、凹槽，所述支撑边沿与凹槽焊接成口字型结构，所述底座固定在凹槽的底部，所述承托装置设在凹槽的内部。
[0006]作为本专利技术的进一步改进，所述底座的内部设有固定座、转盘、升降轴，所述固定座上机械连接有转盘，所述转盘上安装有升降轴，所述升降轴的顶端固定连接在承托装置的底部。
[0007]作为本专利技术的进一步改进，所述承托装置包括承托橡胶层、承托座、安装底座，所述承托橡胶层焊接在承托座的四周，所述承托座的底部焊接有安装底座，所述安装底座与升降轴连接在一起，所述承托橡胶层的周边与支撑边沿接触配合。
[0008]作为本专利技术的进一步改进，所述承托座包括安装腔、滚轴、牵引绳、限位套、连接杆、收卷器，所述安装腔的内部设有收卷器、连接杆与限位套，所述滚轴设有四个，所述滚轴活动配合于安装腔、承托橡胶层的表面，所述滚轴通过牵引绳与收卷器配合，所述限位套用连接杆安装，所述牵引绳贯穿于限位套。
[0009]作为本专利技术的进一步改进，所述滚轴包括闭合轴、拉簧、固定腔、轴体、伸缩杆、吸附胶层、气缸，所述轴体的表面开设有配合于吸附胶层开口，所述吸附胶层通过伸缩杆与气缸连接，所述固定腔安装在轴体的内部，所述固定腔设有四个，所述固定腔的内部呈水平安装有闭合轴与拉簧，所述闭合轴活动闭合于轴体的开口。
[0010]本专利技术的有益效果：
[0011]1、本专利技术通过在测试槽中设有承托装置，其中承托座与承托橡胶层呈矩形完全覆盖在凹槽内部，承托橡胶层具有伸缩的功能，配合升降轴，实现具有调节放置位置功能的承托装置，承托橡胶层还可避免测试件与支撑边沿直接接触，保护测试件放置到测试槽时不受到磨损损坏。
[0012]2、本专利技术升降轴与转盘、承托装置相配合，其中转盘带动升降轴与承托装置旋转，在旋转过程中，随着离心力，承托座与承托橡胶层表面的粉尘被甩掉，保证承托装置的干净整洁。
[0013]3、本专利技术置于承托座表面的滚轴在转盘运作时被甩开，使得滚轴沿着承托座与承托橡胶层的表面活动，在活动中，伸缩杆延长，吸附胶层暴露在开口中，利用吸附胶层将承托橡胶层上一些无法甩掉的粉尘进行粘附，进一步提高承托装置表面的整洁度。
[0014]4、本专利技术在伸缩杆延长时，带动吸附胶层向外挤压位于两个闭合轴之间的开口伸出，此时由闭合轴所闭合的开口打开，而吸附胶层暴露在滚轴外，当伸缩杆缩回时，闭合轴在两个拉簧的作用下再次复位闭合，实现具有开闭功能的开口，在放置测试件时，保护吸附胶层不与测试件直接接触。
附图说明
[0015]图1为本专利技术一种光敏传感器性能测试仪器的结构示意图。
[0016]图2为本专利技术测试槽的内部结构示意图。
[0017]图3为本专利技术测试槽中升降轴延长的状态结构示意图。
[0018]图4为本专利技术承托座的内部结构示意图。
[0019]图5为本专利技术滚甩开后与承托座、承托橡胶层配合的结构示意图。
[0020]图6为本专利技术滚轴的内部结构示意图。
[0021]图中：机箱1、安装框架2、升降气缸3、测试槽4、安装座5、支撑边沿41、底座42、承托装置43、凹槽44、固定座421、转盘422、升降轴423、承托橡胶层431、承托座432、安装底座433、安装腔321、滚轴322、牵引绳323、限位套324、连接杆325、收卷器326、闭合轴22a、拉簧22b、固定腔22c、轴体22d、伸缩杆22e、吸附胶层22f、气缸22g。
具体实施方式
[0022]为使本专利技术实现的技术手段、创作特征、达成目的与功效易于明白了解，图1～图6示意性的显示了本专利技术实施方式的性能测试仪器的结构，下面结合具体实施方式，进一步阐述本专利技术。
[0023]实施例
[0024]如图1
‑
图6所示，本专利技术提供一种光敏传感器性能测试仪器，其结构包括机箱1、安装框架2、升降气缸3、测试槽4、安装座5，所述机箱1上焊接连接有安装框架2，所述安装框架
2上安装有升降气缸3，所述安装座5上安装有测试槽4，所述安装座5固定在机箱1上，所述测试槽4包括支撑边沿41、底座42、承托装置43、凹槽44，所述支撑边沿41与凹槽44焊接成口字型结构，所述底座42固定在凹槽44的底部，所述承托装置43设在凹槽44的内部，所述底座42的内部设有固定座421、转盘422、升降轴423，所述固定座421上机械连接有转盘422，所述转盘422上安装有升降轴423，所述升降轴423的顶端固定连接在承托装置43的底部，所述承托装置43包括承托橡胶层431、承托座432、安装底座433，所述承托橡胶层431焊接在承托座432的四周，所述承托座432的底部焊接有安装底座433，所述安装底座433与升降轴423连接在一起，所述承托橡胶层431的周边与支撑边沿41接触配合，所述承托座432包括安装腔321、滚轴322、牵引绳323、限位套324、连接杆325、收卷器326，所述安装腔321的内部设有收卷器326、连接杆325与限位套324，所述滚轴322设有四个，所述滚轴322活动配合于安装腔321、承托橡胶层431的表面，所述滚轴322通过牵引绳323与收卷器326配合，所述限位套324用连接杆325安装，所述牵引绳323贯穿于限位套324，所述滚轴322包括闭合轴22a、拉簧22b、固定腔22c、轴体22d、伸缩杆2本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种光敏传感器性能测试仪器，其特征在于：其结构包括机箱(1)、安装框架(2)、升降气缸(3)、测试槽(4)、安装座(5)，所述机箱(1)上焊接连接有安装框架(2)，所述安装框架(2)上安装有升降气缸(3)，所述安装座(5)上安装有测试槽(4)，所述安装座(5)固定在机箱(1)上。2.根据权利要求1所述的一种光敏传感器性能测试仪器，其特征在于：所述测试槽(4)包括支撑边沿(41)、底座(42)、承托装置(43)、凹槽(44)，所述支撑边沿(41)与凹槽(44)焊接成口字型结构，所述底座(42)固定在凹槽(44)的底部，所述承托装置(43)设在凹槽(44)的内部。3.根据权利要求2所述的一种光敏传感器性能测试仪器，其特征在于：所述底座(42)的内部设有固定座(421)、转盘(422)、升降轴(423)，所述固定座(421)上机械连接有转盘(422)，所述转盘(422)上安装有升降轴(423)，所述升降轴(423)的顶端固定连接在承托装置(43)的底部。4.根据权利要求2所述的一种光敏传感器性能测试仪器，其特征在于：所述承托装置(43)包括承托橡胶层(431)、承托座(432)、安装底座(433)，所述承托橡胶层(431)焊接在承托座(432)的四周，所述承托座(432)的底部焊接有安装底座(433)，所述安装底座(433)与升降轴(4...

【专利技术属性】
技术研发人员：罗志宪，
申请(专利权)人：罗志宪，
类型：发明
国别省市：