显示面板和用于检查显示面板的方法技术

用于检查显示面板的方法包括：将测试电压施加到数据线中的每个；将栅极信号施加到栅极线中的每个；响应于栅极信号和测试电压，测量通过像素电路施加到每个像素的发光单元的一端的感测电压；以及基于感测电压来确定在每个像素的发光单元内发光元件是否被有效地串联联接。联接。联接。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】显示面板和用于检查显示面板的方法


[0001]本公开涉及一种显示面板及其测试方法。

技术介绍

[0002]随着对信息显示的兴趣的增加和对便携式信息媒介的需求的增加，显示装置的需求和商业化已经被关注。

技术实现思路

[0003]技术问题
[0004]本公开的实施方式提供了一种显示面板的测试方法，其能够确定发光元件在显示面板中的像素内是否正常对准或有效对准。
[0005]本公开的实施方式提供了一种能够针对每个像素确定发光元件是否有效对准的显示面板。
[0006]技术解决方案
[0007]根据本公开的实施方式的测试显示面板的方法可以测试显示面板。显示面板可以包括电连接到栅极线和数据线的像素，并且像素中的每个可以包括像素电路和发光单元，像素电路电连接到栅极线中的相应一个和数据线中的相应一个，发光单元包括电连接到像素电路的一端。测试显示面板的方法可以包括：将测试电压施加到数据线中的每个；将栅极信号施加到栅极线中的每个；响应于栅极信号和测试电压，测量由像素电路施加到像素中的每个的发光单元的一端的感测电压；以及本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.测试显示面板的方法，所述显示面板包括电连接到栅极线和数据线的像素，所述像素中的每个包括像素电路和发光单元，所述像素电路电连接到所述栅极线中的相应一个和所述数据线中的相应一个，所述发光单元包括电连接到所述像素电路的一端，所述方法包括：将测试电压施加到所述数据线中的每个；将栅极信号施加到所述栅极线中的每个；响应于所述栅极信号和所述测试电压，测量由所述像素电路施加到所述像素中的每个的所述发光单元的所述一端的感测电压；以及基于所述感测电压确定在所述像素中的每个的所述发光单元中发光元件是否被有效地串联连接。2.根据权利要求1所述的方法，其中，所述测试电压大于参考电压，以及所述参考电压等于串联电连接的所述发光元件的总工作电压与所述发光元件中的一个的工作电压之间的电压差。3.根据权利要求2所述的方法，其中，所述测试电压小于或等于所述发光元件的所述总工作电压。4.根据权利要求2所述的方法，其中，确定所述发光元件是否被有效地串联连接包括：在所述感测电压大于所述参考电压的情况下，确定出所述发光元件全部被有效地对准。5.根据权利要求2所述的方法，其中，确定所述发光元件是否被有效地串联连接包括：在所述感测电压小于或等于所述参考电压的情况下，确定出所述发光元件中的至少一个发光元件被无效地对准。6.根据权利要求5所述的方法，还包括：在所述感测电压小于或等于所述参考电压的情况下，确定出所述发光元件中的所述至少一个发光元件被短路；以及通过修复工艺物理地打开所述发光元件中的所述至少一个发光元件。7.根据权利要求1所述的方法，其中，将所述测试电压施加到所述数据线中的每个包括：将所述测试电压施加到第一焊盘；以及通过电连接在所述第一焊盘和所述数据线之间的第一解复用器，将所述测试电压顺序地施加到所述数据线中的至少一部分数据线。8.根据权利要求7所述的方法，其中，所述第一解复用器包括子解复用器，以及将所述测试电压顺序地施加到所述数据线中的所述至少一部分数据线包括：通过所述子解复用器将所述测试电压同时施加到所述数据线中的一部分数据线。9.根据权利要求7所述的方法，其中，将所述栅极信号施加到所述栅极线中的每个包括：将所述栅极信号施加到第二焊盘；以及通过电连接在所述第二焊盘和所述栅极线之间的第二解复用器，将所述栅极信号顺序地施加到所述栅极线。
10.根据权利要求9所述的方法，其中，将所述栅极信号顺序地施加到所述栅极线包括：在将所述测试电压施加到所述数据线中的一个的同时将所述栅极信号顺序地施加到所述栅极线。11.根据权利要求9所述的方法，其中，所述显示面板还包括感测扫描线和感测线，所述像素电路...

【专利技术属性】
技术研发人员：徐海观，孙永河，裴玗美，
申请(专利权)人：三星显示有限公司，
类型：发明
国别省市：