一种用于分析芯片硬件电路的数据清洗方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种用于分析芯片硬件电路的数据清洗方法及装置；该方法包括：首先读取用户的硬件电路设计在编译后最终产生的芯片二进制数据、分析芯片的处理单元阵列架构，在内存中形成结构化的原始数据描述表；然后按照所述硬件电路在所述芯片内部的布局布线结果，对所述原始数据描述表预设清洗规则；再根据所述清洗规则，对所述芯片二进制数据进行清洗操作；最后获取所述芯片二进制数据中包含的硬件电路编程点信息。本发明专利技术可以实现硬件电路编程点信息获取过程的完全自动化，提升集成电路设计的调试验证效率。计的调试验证效率。计的调试验证效率。

【技术实现步骤摘要】
一种用于分析芯片硬件电路的数据清洗方法及装置


[0001]本专利技术属于集成电路辅助设计领域，尤其涉及一种用于分析芯片硬件电路的数据清洗方法及装置。

技术介绍

[0002]以现场可编程门阵列(Field Programmable Gate Array，FPGA)芯片为代表的硬件可编程逻辑器件，越来越多用于实现功能强大的复杂电子系统，或者直接设计为无需流片的AI推理芯片(AI Inference)，以及在EDA硬件辅助验证行业，用于构建硬件仿真平台(Emulator)、IC物理原型验证系统(Prototype)，服务大规模IC设计项目。
[0003]芯片是信息系统的基石，包括商用FPGA在内的硬件可编程逻辑器件，其特点是，在用户的硬件电路设计编译完成后，通过载入芯片二进制数据(即位流下载)，直接对芯片进行硬件电路配置，执行所需的功能。而这些数量庞大、用于配置芯片内部硬件电路的编程点数据，散列分布在海量的芯片二进制数据中，与芯片架构、硬件电路的布局布线结果紧密关联，具有多样性和复杂性。
[0004]特别是直接决定芯片硬件电路结构完整性、功能完整性的编程点数据，在芯片设计完成、部署使用后的整个生命周期，都应保持恒定不变。一旦以非用户预期的方式发生改变，将会导致数据处理出错，或者影响芯片的正常工作，甚至引发系统崩溃，与整个系统的可靠性、可用性和安全性密切相关。
[0005]对上述编程点数据进行解析，涉及芯片物理架构、配置电路的编程机制等专业知识才能完成；并且，如果在同一芯片型号上修改了硬件电路设计，或者将同一硬件电路设计配置到不同型号的芯片，就需要重复同样的工作流程，非常不高效。

技术实现思路

[0006]为了解决现有技术所存在的问题，本专利技术提出的一种用于分析芯片硬件电路的数据清洗方法及装置,能够将非结构化的芯片二进制数据，以高效率、批量化方式实现结构化处理，从而实现硬件电路编程点信息获取过程的完全自动化，在集成电路设计中，用于提升硬件在线调试验证效率。
[0007]为实现上述目的，本专利技术提供如下技术方案：
[0008]一方面，本专利技术提供了一种用于分析芯片硬件电路的数据清洗方法,所述方法包括：
[0009]S101、读取用户的硬件电路设计在编译后最终产生的芯片二进制数据、分析芯片的处理单元阵列架构，在内存中形成结构化的原始数据描述表；
[0010]S102、按照所述硬件电路在所述芯片内部的布局布线结果，对所述原始数据描述表预设清洗规则；
[0011]S103、根据所述清洗规则，对所述芯片二进制数据进行清洗操作；
[0012]S104、获取所述芯片二进制数据中包含的硬件电路编程点信息。
[0013]可选的，所述步骤S101中，所述用户的硬件电路设计在编译后最终产生的芯片二进制数据，包括：
[0014]芯片内部所有编程点的0/1二进制编码序列，其中，所述编程点包括功能编程点、互连编程点、芯片专有编程点中的任意一种或多种。
[0015]可选的，所述步骤S102中，对所述原始数据描述表预设清洗规则，包括以下步骤：
[0016]S21、设置分类判断条件，区分所述芯片二进制数据中的运行状态数据和逻辑结构数据；
[0017]S22、设置硬件电路相关性筛选条件，在上述逻辑结构数据中，标记出只与所述硬件电路有关的编程点数据。
[0018]可选的，所述硬件电路相关性筛选条件包括：直接相关性筛选条件和间接相关性筛选条件，其中：
[0019]硬件电路直接相关性筛选条件，用于标记直接被所述硬件电路使用，控制所述硬件电路在所述芯片内部的逻辑和互连关系，与所述硬件电路构成直接关联关系的编程点数据；
[0020]硬件电路间接相关性筛选条件，用于标记未被所述硬件电路使用，但该编程点数据的变化会影响所述硬件电路的行为，与所述硬件电路存在间接关联关系的编程点数据。
[0021]可选的，所述步骤S104包括与所述硬件电路有关的编程点逻辑地址、资源类型、物理地址。
[0022]可选的，与所述硬件电路有关的编程点信息的存储形式包括：电子表格Excel文件或文本文件。
[0023]另一方面，提出一种用于分析芯片硬件电路的数据清洗装置，包括：
[0024]元数据生成单元：用于读取用户的硬件电路设计在编译后最终产生的芯片二进制数据、分析芯片的处理单元阵列架构，在内存中形成结构化的原始数据描述表；
[0025]清洗规则输入单元：用于按照所述硬件电路在所述芯片内部的布局布线结果，对所述原始数据描述表预设清洗规则；
[0026]数据清洗单元：用于在对所述硬件电路进行分析前，根据所述清洗规则，对所述芯片二进制数据进行清洗操作；
[0027]信息输出单元：用于获取所述芯片二进制数据中包含的硬件电路编程点信息。
[0028]可选的，所述清洗规则输入单元具体还用于：
[0029]设置分类判断条件，区分所述芯片二进制数据中的运行状态数据和逻辑结构数据；
[0030]设置硬件电路相关性筛选条件，在上述逻辑结构数据中，标记出只与所述硬件电路有关的编程点数据。
[0031]可选的，当所述清洗规则输入单元在用于设置所述硬件电路相关性筛选条件时，具体用于：
[0032]设置硬件电路直接相关性筛选条件，用于标记直接被所述硬件电路使用，控制所述硬件电路在所述芯片内部的逻辑和互连关系，与所述硬件电路构成直接关联关系的编程点数据；
[0033]设置硬件电路间接相关性筛选条件，用于标记未被所述硬件电路使用，但该编程
点数据的变化会影响所述硬件电路的行为，与所述硬件电路存在间接关联关系的编程点数据。
[0034]与现有技术相比，本专利技术具备以下有益效果：通过对所述芯片二进制数据的结构化处理以及预设的清洗规则，灵活设定作用于所述芯片二进制数据的“Where表达式”，能够对硬件可编程芯片中高达数千万、数亿量级，乃至更大规模的芯片二进制数据进行自动化清洗操作，从而快速、准确地标记出硬件电路调试验证所需的编程点信息，加快集成电路设计中所需的硬件在线调试验证过程，提升开发效率。
附图说明
[0035]图1为本专利技术实施例公开的一种用于分析芯片硬件电路的数据清洗方法的流程图。
[0036]图2为本专利技术实施例公开的所述数据清洗规则设置示意图。
[0037]图3为本专利技术实施例公开的所述数据清洗操作流程示意图。
[0038]图4为本专利技术实施例公开的一种用于分析芯片硬件电路的数据清洗装置的结构图。
具体实施方式
[0039]下面将对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。
[0040]如图1所示，本申请的实施例提供一种用于分析芯片硬件电路的数据清洗方法，该方法可以包括以下步骤：
[0041]S101：读取用户的硬件电路设计在编译后最终产生的芯片二进制数据、分析芯本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于分析芯片硬件电路的数据清洗方法，其特征在于，所述方法包括：S101、读取用户的硬件电路设计在编译后最终产生的芯片二进制数据、分析芯片的处理单元阵列架构，在内存中形成结构化的原始数据描述表；S102、按照所述硬件电路在所述芯片内部的布局布线结果，对所述原始数据描述表预设清洗规则；S103、根据所述清洗规则，对所述芯片二进制数据进行清洗操作；S104、获取所述芯片二进制数据中包含的硬件电路编程点信息。2.根据权利要求1所述的一种用于分析芯片硬件电路的数据清洗方法，其特征在于，所述步骤S101中，所述用户的硬件电路设计在编译后最终产生的芯片二进制数据，包括：芯片内部所有编程点的0/1二进制编码序列，其中，所述编程点包括功能编程点、互连编程点、芯片专有编程点中的任意一种或多种。3.根据权利要求1所述的一种用于分析芯片硬件电路的数据清洗方法，其特征在于，所述步骤S102中，对所述原始数据描述表预设清洗规则，包括以下步骤：S21、设置分类判断条件，区分所述芯片二进制数据中的运行状态数据和逻辑结构数据；S22、设置硬件电路相关性筛选条件，在上述逻辑结构数据中，标记出只与所述硬件电路有关的编程点数据。4.根据权利要求1所述的一种用于分析芯片硬件电路的数据清洗方法，其特征在于，所述硬件电路相关性筛选条件包括：直接相关性筛选条件和间接相关性筛选条件，其中：硬件电路直接相关性筛选条件，用于标记直接被所述硬件电路使用，控制所述硬件电路在所述芯片内部的逻辑和互连关系，与所述硬件电路构成直接关联关系的编程点数据；硬件电路间接相关性筛选条件，用于标记未被所述硬件电路使用，但该编程点数据的变化会影响所述硬件电路的行为，与所述硬件电路存在间接关联关系的编程点数据。5.根据权利要求1所述的一种用于分析芯片硬件电路的数据清洗方法，其特征在于，所述步骤S104包括与所述硬件电路有...

【专利技术属性】
技术研发人员：王颖，李万才，方亮，杨霖，吴荣泉，
申请(专利权)人：上海复及信息科技有限公司，
类型：发明
国别省市：