本发明专利技术涉及氟气制备技术领域,且公开了一种用于电子级氟气制备的气体杂质的检测装置,包括管道,所述管道一端设置有输送器,所述管道同一水平面上设置有抽样检测组件、气体转移组件,随着圆盘的转动,抽样柱腔体会间接被连接杆向外扩仓内腔的方向拉动,直至长口完全位于外扩仓内腔中,此时抽样柱腔体位于管道内腔的一端因没有长口的存在,气体便不会再次进入到抽样柱腔体内腔中,此时外扩仓中设置的气体检测设备便会对由抽样柱腔体转移到外扩仓中的气体进行检测,以此确定被输送器输送的气体中是否存在杂质,这种将检测气体转移到外扩仓中,进行稳定检测的方式区别于现有的气体在管道输送中流速相对较快不能稳定检测的情况。道输送中流速相对较快不能稳定检测的情况。道输送中流速相对较快不能稳定检测的情况。
【技术实现步骤摘要】
一种用于电子级氟气制备的气体杂质的检测装置
[0001]本专利技术涉及氟气制备
,具体为一种用于电子级氟气制备的气体杂质的检测装置。
技术介绍
[0002]氟气可以通过将含有氟化氢的电解液进行电解来合成,即电解合成。
[0003]现有技术中,在氟气制造过程中是较为复杂的,一般是将原料氟化氢进行电解,电解时会产生氢气和氟气,但电解所得的气体的纯度无法到达使用要求,需要后续提纯工序进行进一步的提纯工作,提纯过后的气体一般需要检测合格后才能最终投入后续使用,但气体在管道输送中流速相对较快,现有的检测设备在这一方面无法有效做到较为精确的检测,略有不足;再者,现有设备即使检测到气体中存在杂质,也不能及时阻止位于输送管中的气体被继续转移,那些含有杂质的气体一般还是会被输送出所在检测位置的管道,在一定程度上影响所需气体的纯度。
[0004]故而我们提出了一种用于电子级氟气制备的气体杂质的检测装置,来解决以上的问题。
技术实现思路
[0005](一)解决的技术问题有鉴于此,针对现有技术的不足,本专利技术提供了一种用于电子级氟气制备的气体杂质的检测装置,以解决上述
技术介绍
中提出的问题。
[0006](二)技术方案为实现上述目的,本专利技术提供如下技术方案:一种用于电子级氟气制备的气体杂质的检测装置,包括管道,所述管道一端设置有输送器,所述管道同一水平面上设置有抽样检测组件、气体转移组件,所述抽样检测组件一侧设置有控制器;所述抽样检测组件包括有外扩仓,外扩仓内腔中固定连接有支撑架,所述支撑架上转动连接有转轴,所述转轴上设置有圆盘。
[0007]作为优选的,所述圆盘上固定连接有柱块,所述圆盘一侧设置有竖槽体,所述竖槽体一侧固定连接有连接杆。
[0008]作为优选的,所述连接杆远离竖槽体的一端固定连接有抽样柱腔体,所述抽样柱腔体上开设有长口。
[0009]作为优选的,所述管道内腔中设置有气体检测设备。
[0010]作为优选的,所述管道外表面上方设置有第一驱动螺杆,所述第一驱动螺杆下方且位于管道上固定连接有滑动轨道,所述第一驱动螺杆上螺纹连接有电磁铁A。
[0011]作为优选的,所述管道内腔中滑动连接有辅助盘,所述辅助盘上开设有贯通的通气方口,所述通气方口上方且位于辅助盘上挖设有工作槽口。
[0012]作为优选的,所述工作槽口内设置有弹簧,所述弹簧底端固定连接有第一封堵块,所述第一封堵块上表面设置有磁石。
[0013]作为优选的,所述管道外表面下方设置有第二驱动螺杆,所述第二驱动螺杆上螺纹连接有电磁铁B。
[0014]作为优选的,所述第一封堵块下方且位于辅助盘中固定连接有第二封堵块。
[0015]作为优选的,所述管道靠近输送器一端的侧面固定连接有临时转移仓,所述管道上且位于临时转移仓同一水平面上设置有通孔。
[0016](三)有益效果与现有技术相比,本专利技术提供了一种用于电子级氟气制备的气体杂质的检测装置,具备以下有益效果:1、本专利技术随着圆盘的转动,抽样柱腔体会间接被连接杆向外扩仓内腔的方向拉动,直至长口完全位于外扩仓内腔中,此时抽样柱腔体位于管道内腔的一端因没有长口的存在,气体便不会再次进入到抽样柱腔体内腔中,此时外扩仓中设置的气体检测设备便会对由抽样柱腔体转移到外扩仓中的气体进行检测,以此确定被输送器输送的气体中是否存在杂质,这种将检测气体转移到外扩仓中,进行稳定检测的方式区别于现有的气体在管道输送中流速相对较快不能稳定检测的情况;2、本专利技术通过移动中的辅助盘会将含有杂质的气体逐渐向左推动,被推动的气体会从管道上开设的通孔进入到临时转移仓中,即此时含有杂质的气体被转移出管道,这种检测出气体中含有杂质,停止输送并封堵后进行返回转移的方式区别于现有设备即使检测到气体中存在杂质,也不能及时阻止位于管道中的气体被继续转移,那些含有杂质的气体一般还是会被输送出所在检测位置的管道的情况,通过气体转移组件的设置在一定程度上可提高所转移气体的纯度;3、本专利技术通过辅助盘的设置,可在管道中气体流动时在一定程度上减缓气体的流速,这样的设置可以使较多的气体通过长口进入到抽样柱腔体中,然后抽样柱腔体会将较多的气体转移到外扩仓中,以此提高检测的精确度。
附图说明
[0017]图1为本专利技术主体结构左视图;图2为本专利技术主体结构右视图;图3为本专利技术中管道、外扩仓剖切时相关结构位置分布图;图4为本专利技术抽样检测组件主体结构图;图5为本专利技术中管道、抽样柱腔体、长口等相关结构位置分布图;图6为本专利技术抽样检测组件工作时相关结构图;图7为本专利技术气体转移组件主体结构图;图8为本专利技术图7中A区域结构放大图;图9为本专利技术主体结构侧视图;图10为本专利技术中电磁铁A、第一封堵块、磁石等相关结构位置分布图。
[0018]图中:1、管道;2、输送器;
3、抽样检测组件;301、外扩仓;302、支撑架;303、转轴;304、圆盘;305、柱块;306、竖槽体;307、连接杆;308、抽样柱腔体;309、长口;310、气体检测设备;4、控制器;5、气体转移组件;501、第一驱动螺杆;502、滑动轨道;503、电磁铁A;504、辅助盘;505、通气方口;506、工作槽口;507、弹簧;508、第一封堵块;509、磁石;510、第二驱动螺杆;511、电磁铁B;512、第二封堵块;513、临时转移仓;514、通孔。
具体实施方式
[0019]下面将结合本专利技术实施例中的附图,对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本专利技术保护的范围。
[0020]下面根据附图和实施例对本专利技术作进一步详细说明。
[0021]实施例一请参照图3至图6所示:为解决技术方案中所提到的问题,该实施例涉及的零件有:301、外扩仓;302、支撑架;303、转轴;304、圆盘;305、柱块;306、竖槽体;307、连接杆;308、抽样柱腔体;309、长口;310、气体检测设备。
[0022]抽样检测组件3包括有外扩仓301,外扩仓301固定连接在管道1外表面,外扩仓301内腔中固定连接有支撑架302,支撑架302上转动连接有转轴303,转轴303由驱动电机驱动,转轴303上设置有圆盘304,圆盘304上固定连接有柱块305,柱块305设置在圆盘304偏轴心位置,圆盘304一侧设置有竖槽体306,竖槽体306主要和柱块305配合使用,柱块305滑动连接在竖槽体306中,竖槽体306一侧固定连接有连接杆307,连接杆307远离竖槽体306的一端固定连接有抽样柱腔体308,抽样柱腔体308可在管道1上滑动,抽样柱腔体308上开设有长口309,长口309开设在抽样柱腔体308中间部位,抽样柱腔体308两端均有余留,并未完全被长口309贯通,管道1内腔中设置有气体检测设备310,气体检测设备310主要用于检测从管道1中输送的气体是否含有不本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种用于电子级氟气制备的气体杂质的检测装置,其特征在于:包括管道(1),所述管道(1)一端设置有输送器(2),所述管道(1)同一水平面上设置有抽样检测组件(3)、气体转移组件(5),所述抽样检测组件(3)一侧设置有控制器(4);所述抽样检测组件(3)包括有外扩仓(301),外扩仓(301)内腔中固定连接有支撑架(302),所述支撑架(302)上转动连接有转轴(303),所述转轴(303)上设置有圆盘(304)。2.根据权利要求1所述的一种用于电子级氟气制备的气体杂质的检测装置,其特征在于:所述圆盘(304)上固定连接有柱块(305),所述圆盘(304)一侧设置有竖槽体(306),所述竖槽体(306)一侧固定连接有连接杆(307)。3.根据权利要求2所述的一种用于电子级氟气制备的气体杂质的检测装置,其特征在于:所述连接杆(307)远离竖槽体(306)的一端固定连接有抽样柱腔体(308),所述抽样柱腔体(308)上开设有长口(309)。4.根据权利要求1所述的一种用于电子级氟气制备的气体杂质的检测装置,其特征在于:所述管道(1)内腔中设置有气体检测设备(310)。5.根据权利要求1所述的一种用于电子级氟气制备的气体杂质的检测装置,其特征在于:所述管道(1)外表面上方设置有第一驱动螺杆(501),所述第一驱动螺杆(501)下方且位于管道(1)上固定连接...
【专利技术属性】
技术研发人员:罗浩,张琛,肖珏英,张家铭,陈碧灵,
申请(专利权)人:福建省巨颖高能新材料有限公司,
类型:发明
国别省市:
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。